致晟光電的熱紅外顯微鏡(Thermal EMMI)系列 ——RTTLIT P10 實(shí)時(shí)瞬態(tài)鎖相熱分析系統(tǒng),搭載非制冷型熱紅外成像探測器,采用鎖相熱成像(Lock-In Thermography)技術(shù),通過調(diào)制電信號大幅提升特征分辨率與檢測靈敏度,具備高靈敏度、高性價(jià)比的突出優(yōu)勢。該系統(tǒng)鎖相靈敏度可達(dá) 0.001℃,顯微分辨率可達(dá) 5μm,分析速度快且檢測精度高,重點(diǎn)應(yīng)用于電路板失效分析領(lǐng)域,可多用于適配 PCB、PCBA、大尺寸主板、分立元器件、MLCC 等產(chǎn)品的維修檢測場景。 檢測 PCB 焊點(diǎn)、芯片鍵合線的接觸電阻異常,避免虛焊導(dǎo)致的瞬態(tài)過熱。自銷熱紅外顯微鏡廠家電話
RTTLIT P10 熱紅外顯微鏡在光學(xué)配置上的靈活性,可通過多種可選物鏡得以充分體現(xiàn),為不同尺度、不同場景的熱分析需求提供精細(xì)適配。
Micro 廣角鏡頭擅長捕捉大視野范圍的整體熱分布,適合快速定位樣品宏觀熱異常區(qū)域,如整片晶圓的整體散熱趨勢觀測;0.2X 鏡頭在保持一定視野的同時(shí)提升細(xì)節(jié)捕捉能力,可用于中等尺寸器件(如傳感器模組)的熱行為分析,平衡效率與精度;0.4X 鏡頭進(jìn)一步聚焦局部,能清晰呈現(xiàn)芯片封裝級的熱分布特征,助力排查封裝缺陷導(dǎo)致的散熱不均問題;1X 與 3X 鏡頭則聚焦微觀尺度,1X 鏡頭可解析芯片內(nèi)部功能模塊的熱交互,3X 鏡頭更是能深入到微米級結(jié)構(gòu)(如晶體管陣列、引線鍵合點(diǎn)),捕捉納米級熱點(diǎn)的細(xì)微溫度波動(dòng)。
制造熱紅外顯微鏡用戶體驗(yàn)熱紅外顯微鏡能透過硅片或封裝材料,對半導(dǎo)體芯片內(nèi)部熱缺陷進(jìn)行非接觸式檢測。
非制冷熱紅外顯微鏡的售價(jià)因品牌、性能、功能配置等因素而呈現(xiàn)較大差異 。不過國產(chǎn)的非制冷熱紅外顯微鏡在價(jià)格上頗具競爭力,適合長時(shí)間動(dòng)態(tài)監(jiān)測。通過鎖相熱成像等技術(shù)優(yōu)化后,其靈敏度(通常 0.01-0.1℃)和分辨率(普遍 5-20μm)雖稍遜于制冷型,但性價(jià)比更具優(yōu)勢。與制冷型相比,非制冷型無需制冷耗材,適用于 PCB、PCBA 等常規(guī)電子元件的失效分析;制冷型靈敏度更高(可達(dá) 0.1mK)、分辨率更低(低至 2μm),多用于半導(dǎo)體晶圓等對檢測要求較高的場景。非制冷熱紅外顯微鏡在中低端工業(yè)檢測領(lǐng)域應(yīng)用較多。
熱紅外顯微鏡(Thermal EMMI )技術(shù)不僅可實(shí)現(xiàn)電子設(shè)備的故障精細(xì)定位,更在性能評估、熱管理優(yōu)化及可靠性分析等領(lǐng)域展現(xiàn)獨(dú)特價(jià)值。通過高分辨率熱成像捕捉設(shè)備熱點(diǎn)分布圖譜,工程師能深度解析器件熱傳導(dǎo)特性,以此為依據(jù)優(yōu)化散熱結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),有效提升設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定性與使用壽命。此外,該技術(shù)可實(shí)時(shí)監(jiān)測線路功耗分布與異常發(fā)熱區(qū)域,建立動(dòng)態(tài)熱特征數(shù)據(jù)庫,為線路故障的早期預(yù)警與預(yù)防性維護(hù)提供數(shù)據(jù)支撐,從根本上去降低潛在失效風(fēng)險(xiǎn)。熱紅外顯微鏡結(jié)合多模態(tài)檢測(THERMAL/EMMI/OBIRCH),實(shí)現(xiàn)熱 - 電信號協(xié)同分析定位復(fù)合缺陷。
熱紅外是紅外光譜中波長介于 3–18 微米的譜段,其能量主要來自物體自身的熱輻射,而非對外界光源的反射。該波段可細(xì)分為中紅外(3–8?μm)、長波紅外(8–15?μm)和超遠(yuǎn)紅外(15–18?μm),其熱感應(yīng)本質(zhì)源于分子熱振動(dòng)產(chǎn)生的電磁波輻射,輻射強(qiáng)度與物體溫度正相關(guān)。在應(yīng)用上,熱紅外利用大氣窗口(3–5?μm、8–14?μm)實(shí)現(xiàn)高精度的地表遙感監(jiān)測,并廣泛應(yīng)用于熱成像、氣體探測等領(lǐng)域?,F(xiàn)代設(shè)備如 TIRS-2 和 O-PTIR 等,已將熱紅外技術(shù)的空間分辨率提升至納米級水平。
熱紅外顯微鏡憑借高靈敏度探測器,實(shí)現(xiàn)芯片微米級紅外熱分布觀察,鎖定異常熱點(diǎn) 。直銷熱紅外顯微鏡應(yīng)用
國產(chǎn)熱紅外顯微鏡憑借自主研發(fā)軟件,具備時(shí)域重構(gòu)等功能,提升檢測效率。自銷熱紅外顯微鏡廠家電話
非破壞性分析(NDA)以非侵入方式分析樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和性能,無需切割、拆解或化學(xué)處理,能保留樣品完整性,為后續(xù)研究留有余地,在高精度、高成本的半導(dǎo)體領(lǐng)域作用突出。
無損分析,通過捕捉樣品自身紅外熱輻射成像,全程無接觸,無需對晶圓、芯片等進(jìn)行破壞性處理。在半導(dǎo)體制造中,可識別晶圓晶體缺陷;封裝階段,能檢測焊接點(diǎn)完整性或封裝層粘結(jié)質(zhì)量;失效分析時(shí),可定位內(nèi)部短路或斷裂區(qū)域的隱性熱信號,為根源分析提供依據(jù),完美適配半導(dǎo)體行業(yè)對高價(jià)值樣品的保護(hù)需求。 自銷熱紅外顯微鏡廠家電話
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