天津ICT智能測(cè)量?jī)x

DeltaScan技術(shù)不需附加夾具硬件，成為首推技術(shù)。FrameScan電容藕合測(cè)試FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開(kāi)。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示：1夾具上的多路開(kāi)關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板（ATB）依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。3電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。4ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測(cè)到信號(hào)；如果該管腳脫開(kāi)，則不會(huì)有信號(hào)。GenRad類式的技術(shù)稱OpenXpress。原理類似。全自動(dòng)ICTFCT整體測(cè)試線產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：效率高---多種線體組合模式方案,有效提升測(cè)試效率。天津ICT智能測(cè)量?jī)x

ICT就是In—Circuit—Tester 的簡(jiǎn)稱,它是電氣測(cè)試使用的基本儀器是在線測(cè)試儀(ICT)，傳統(tǒng)的在線測(cè)試儀測(cè)量時(shí)使用專門(mén)的針床與已焊接好的線路板上的測(cè)試點(diǎn)接觸，并用數(shù)百毫伏電壓和10毫安以內(nèi)電流進(jìn)行分立隔離測(cè)試，從而精確地測(cè)出所裝電阻、電感、電容、二極管、三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、集成塊等通用和特殊元器件的漏裝、錯(cuò)裝、參數(shù)值偏差、焊點(diǎn)連焊、線路板開(kāi)短路等故障，并將故障是哪個(gè)元件或開(kāi)短路位于哪個(gè)點(diǎn)準(zhǔn)確告訴用戶。針床式在線測(cè)試儀優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試速度快，適合于單一品種民用型家電線路板及大規(guī)模生產(chǎn)的測(cè)試，而且主機(jī)價(jià)格較便宜。但是隨著線路板組裝密度的提高，特別是細(xì)間距SMT組裝以及新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)生產(chǎn)周期越來(lái)越短，線路板品種越來(lái)越多，針床式在線測(cè)試儀存在一些難以克服的問(wèn)題：測(cè)試用針床夾具的制作、調(diào)試周期長(zhǎng)、價(jià)格貴；對(duì)于一些高密度SMT線路板由于測(cè)試精度問(wèn)題無(wú)法進(jìn)行測(cè)試。德智ICT在線測(cè)試儀ICT使用范圍廣，測(cè)量準(zhǔn)確性高，對(duì)檢測(cè)出的問(wèn)題指示明確。

ICT測(cè)試儀開(kāi)/短路測(cè)試程序的調(diào)試 生成開(kāi)/短路測(cè)試數(shù)據(jù)文件后，為穩(wěn)定及保險(xiǎn)起見(jiàn)，請(qǐng)?jiān)陂_(kāi)/短路自學(xué)習(xí)完畢后選擇Test對(duì)本開(kāi)/短路測(cè)試程序進(jìn)行測(cè)試。 測(cè)試時(shí)機(jī)器會(huì)先作開(kāi)路測(cè)試（Open Test）,它是在同一鏈上，針號(hào)與針號(hào)作開(kāi)路測(cè)試；后作短路測(cè)試（Short Test），它是在不同鏈上針號(hào)與針號(hào)作短路測(cè)試。 在開(kāi)路測(cè)試時(shí)，針號(hào)與針號(hào)的電阻若少于開(kāi)路門(mén)檻值（Open Res），則當(dāng)作短路,此時(shí)開(kāi)路測(cè)試Pass；在短路測(cè)試時(shí)，針號(hào)與針號(hào)的電阻若大于短路門(mén)檻值（Short Res），則當(dāng)作開(kāi)路,此時(shí)短路測(cè)試Pass。 測(cè)試后若程序穩(wěn)定，則屏幕左下角推出“PASS”，請(qǐng)下壓針床壓頭來(lái)回幾次及測(cè)試幾次，以觀察其是否穩(wěn)定，若出現(xiàn)“FAIL”，則作以下處理： A、 徹底檢查顯示出的測(cè)試針（針號(hào)）是否接觸不良 B、在保證測(cè)試針接觸良好的情況下，若出現(xiàn)測(cè)試時(shí)好時(shí)壞，則查清是否受電感線圈的影響，如果是，則跳過(guò)顯示出的針號(hào)，操作方法：確認(rèn)光標(biāo)在要跳過(guò)的針號(hào)項(xiàng)時(shí)選擇O/S Edit/Mask，這時(shí)針號(hào)項(xiàng)會(huì)變成紅色，表明已跳過(guò)這一針號(hào)。

離線型ict測(cè)試儀系統(tǒng)是為所有類型電路板的公開(kāi)的測(cè)試平臺(tái)。這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)為ICT，IC燒錄，邊界掃描以及功能測(cè)試提供平臺(tái)。 系統(tǒng)可以在不上電的條件下測(cè)試整塊電路板和個(gè)別元器件。它使用直流或復(fù)雜阻抗的測(cè)量結(jié)合多點(diǎn)隔離等先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，能找到大多數(shù)的問(wèn)題，如短路、開(kāi)路或者錯(cuò)件等。能在不上電的安全模式下找到主要的錯(cuò)誤，又能給出具體的故障診斷信息，提高了維修的效率。 系統(tǒng)是為所有類型電路板的公開(kāi)的測(cè)試平臺(tái)。這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)為ICT，IC燒錄，邊界掃描以及功能測(cè)試提供平臺(tái)。 在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可分為在線測(cè)試(ICT)和功能測(cè)試(FCT)兩大類。

ICT測(cè)試對(duì)PCB的設(shè)計(jì)要求二） 1. 被測(cè)點(diǎn)應(yīng)離其附近零件(位于同一面者)至少0.100"，如為高于 3m/m零件，則應(yīng)至少間距0.120"。 2. 被測(cè)點(diǎn)應(yīng)平均分布于PCB表面，避免局部密度過(guò)高。 3. 被測(cè)點(diǎn)直徑較好能不小于0.035"(0.9mm)，如在上針板，則較好不小于0.040"(1.00mm)， 形狀以正方形較佳(可測(cè)面積較圓形增加21%)。小于0.030"之被測(cè)點(diǎn)需額外加工，以導(dǎo)正目標(biāo)。 4. 被測(cè)點(diǎn)的Pad及Via不應(yīng)有防焊漆(Solder Mask)。 5. 被測(cè)點(diǎn)應(yīng)離板邊或折邊至少0.100"。 6. PCB厚度至少要0.062"(1.35mm)，厚度少于此值之PCB容易板彎，需特殊處理。 7. 定位孔(Tooling Hole)直徑較好為0.125"(.3.175mm)。其公差應(yīng)在"+0.002"/-0.001"。其位置應(yīng)在PCB之對(duì)角。 8. 被測(cè)點(diǎn)至定位孔位置公差應(yīng)為+/-0.002"。 9. 避免將被測(cè)點(diǎn)置于SMT零件上，非但可測(cè)面積太小，不可靠，而且容易傷害零件。 10. 避免使用過(guò)長(zhǎng)零件腳(大于0.170"(4.3mm))或過(guò)大的孔徑(大于1.5mm)為被測(cè)點(diǎn)，需特殊處理。 Inline系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了人機(jī)界面簡(jiǎn)單，易于上手操作，支持定制。徐州ICT供應(yīng)商

FCT測(cè)試主要針對(duì)的是整個(gè)PCBA或半成品/成品的整體功能。天津ICT智能測(cè)量?jī)x

由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有：∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。隔離（Guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref，Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。測(cè)試時(shí)，只要使G與F點(diǎn)同電位，R2中無(wú)電流流過(guò)，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不變。將G點(diǎn)接地，因F點(diǎn)虛地，兩點(diǎn)電位相等，則可實(shí)現(xiàn)隔離。實(shí)際實(shí)用時(shí)。天津ICT智能測(cè)量?jī)x

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