ICT測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖?jiǎn)單介紹1基本測(cè)試方法利用運(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有：∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。隔離（Guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref，Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。接駁臺(tái)整機(jī)技術(shù)特點(diǎn)：傳動(dòng)機(jī)構(gòu)采用精密模塊化設(shè)計(jì)，傳動(dòng)準(zhǔn)確，壽命長(zhǎng)，易保養(yǎng)。南京ICT檢測(cè)儀器有哪些
ict里面會(huì)包含如下三個(gè)測(cè)試項(xiàng)目。OpenTest:開(kāi)路測(cè)試是要測(cè)出待測(cè)電路板上預(yù)期(Expected)短路的元件是否因錯(cuò)件或漏件而造成開(kāi)路。ShortTest:短路測(cè)試是要測(cè)試出待測(cè)電路板上不被預(yù)期的(Unexpected)短路現(xiàn)象。MDATest：ManufacturingDefectsAnalysis工程缺陷分析，電阻、電容、電感等被動(dòng)元器件的量測(cè)。提到MDAtest，我其實(shí)有幸見(jiàn)識(shí)到華碩電腦的MDAtest，華碩是單獨(dú)測(cè)試mda的，也是通過(guò)壓合留有卡槽的載板使頂針接觸板子測(cè)試點(diǎn)。ICT的范圍及特點(diǎn)檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。北京ICT測(cè)試儀廠家全自動(dòng)ICTFCT整體測(cè)試線產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：人工省---替代人工取放PCBA,強(qiáng)有力節(jié)省操作員工。
利用放置在治具上模的感測(cè)板(Sensor Plate)壓貼在待測(cè)的IC上，（感測(cè)板的形狀和面積與待測(cè)IC外殼相同），利用量測(cè)感測(cè)板的銅箔與IC腳框（frame）之間的電容量偵測(cè)接腳的開(kāi)路。系統(tǒng)由測(cè)試點(diǎn)送一個(gè)200mV ,10KHz的信號(hào)到IC的接腳上，信號(hào)經(jīng)過(guò)IC frame與感測(cè)板之間的電容耦合(Coupling)到感測(cè)板上再經(jīng)過(guò)架在感測(cè)板上的放大器接到64 Channel 的 Signal conditioning card 做選擇和放大信號(hào)的工作，接到系統(tǒng)的TestJet Board去量測(cè)信號(hào)的強(qiáng)度。如果IC的接腳有開(kāi)路情況系統(tǒng)會(huì)因偵測(cè)不到信號(hào)而得知其為開(kāi)路。 Testjet通常用來(lái)測(cè)試IC元件由于生產(chǎn)引起的缺陷:開(kāi)路、錯(cuò)位、丟失。
DeltaScan技術(shù)不需附加夾具硬件，成為首推技術(shù)。FrameScan電容藕合測(cè)試FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開(kāi)。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示：1夾具上的多路開(kāi)關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板（ATB）依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。3電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。4ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測(cè)到信號(hào)；如果該管腳脫開(kāi)，則不會(huì)有信號(hào)。GenRad類式的技術(shù)稱OpenXpress。原理類似。IN Line ICT+雙層FCT自動(dòng)測(cè)試線功能特點(diǎn)：多系統(tǒng)測(cè)試模塊，可以提高一倍的效率。
ICT使用于SMT制程的后端，通常是SMT線的后面(Reflow回流焊制程之后)，經(jīng)過(guò)ICT的測(cè)試將SMT制程不良篩選出來(lái)，并且可提前警示出SMT生產(chǎn)良率是否有異常。 由于ICT需對(duì)PCBA板上不同位置的電子元件進(jìn)行測(cè)試，因此對(duì)應(yīng)不同產(chǎn)品必須制作ICT測(cè)試治具來(lái)搭配，而測(cè)試治具因ICT廠牌、機(jī)型不同又有真空式、氣壓式的型式，一般使用不同規(guī)格數(shù)量的探針(尺寸、形狀、直徑)來(lái)接觸電路板或電子元件，所以PCBA板上的電子元件密度過(guò)高而無(wú)空間可布針時(shí)即可能無(wú)法使用ICT，因此ICT還是有使用的條件限制的。 ICT測(cè)試治具因電子產(chǎn)品的元件數(shù)量高低、分布位置的差異，其探針的數(shù)量、密度亦隨的而異，在探針接觸電路板進(jìn)行測(cè)試時(shí)，可能會(huì)電路板產(chǎn)生超過(guò)允許范圍的 壓力(應(yīng)力)而造成電路板的變形，這樣將可能導(dǎo)致PCBA板的損壞隱患，因此導(dǎo)入ICT測(cè)試治具前通常需要進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試，使應(yīng)變值下降到允許的安全范圍內(nèi)。 客戶可根據(jù)實(shí)時(shí)測(cè)試需求靈活調(diào)整配置。在線測(cè)試儀ICT在線測(cè)試儀編程
全自動(dòng)ICT和FCT測(cè)試機(jī)功能：線路板的短路故障測(cè)試。南京ICT檢測(cè)儀器有哪些
德智電子在線測(cè)試儀WINDOWSXP版軟件特性品質(zhì)異常即時(shí)警報(bào)系統(tǒng)系統(tǒng)可以設(shè)定于同一DUT不良連續(xù)發(fā)生時(shí)可立即示警，俾使品質(zhì)異常之狀況可被及時(shí)處理及預(yù)防。報(bào)表統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)測(cè)試結(jié)果資料，并顯示圖表，及多種相關(guān)生產(chǎn)及時(shí)所需資料。如零件測(cè)試分布圖、IC測(cè)試分布圖、日?qǐng)?bào)、期報(bào)、針點(diǎn)問(wèn)題分析、不良率排行表等功能。遠(yuǎn)端監(jiān)控系統(tǒng)(ICTConsole)通過(guò)網(wǎng)絡(luò)管理可于遠(yuǎn)端即時(shí)取得生聯(lián)機(jī)測(cè)試資料，測(cè)試狀況等。可即時(shí)分析問(wèn)題，調(diào)整制程，追蹤不良品產(chǎn)生的原因，即時(shí)做好源頭管理。南京ICT檢測(cè)儀器有哪些
蘇州市德智電子有限公司是一家是一家專業(yè)從事電路板檢測(cè)儀器設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)于一體的高科技公司。從事ICT在線測(cè)試儀、功能測(cè)試機(jī)（FCT）、功能測(cè)試治具、非標(biāo)自動(dòng)化測(cè)試與控制系統(tǒng)（ATE)解決方案以及承接智能工廠自動(dòng)化改造等。的公司，是一家集研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和銷售為一體的專業(yè)化公司。公司自創(chuàng)立以來(lái)，投身于BMS電池管理控制系統(tǒng)，雙層FCT自動(dòng)測(cè)試線，智能保險(xiǎn)絲盒測(cè)試機(jī)，Usbhub測(cè)試機(jī)，是電子元器件的主力軍。蘇州市德智電子繼續(xù)堅(jiān)定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路，既要實(shí)現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長(zhǎng)，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破。蘇州市德智電子始終關(guān)注電子元器件市場(chǎng)，以敏銳的市場(chǎng)洞察力，實(shí)現(xiàn)與客戶的成長(zhǎng)共贏。