將多個(gè)掃描器件的掃描鏈通過(guò)他們的TAP連在一起就形成一個(gè)連續(xù)的邊界寄存器鏈，在鏈頭加TAP信號(hào)就可控制和檢測(cè)所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對(duì)器件每個(gè)管腳的物理接觸，虛擬訪問(wèn)代替實(shí)際物理訪問(wèn)，去掉大量的占用PCB板空間的測(cè)試焊盤(pán)，減少了PCB和夾具的制造費(fèi)用。作為一種測(cè)試策略，在對(duì)PCB板進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)時(shí)，可利用專門(mén)軟件分析電路網(wǎng)點(diǎn)和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數(shù)量的測(cè)試點(diǎn)，而又不減低測(cè)試覆蓋率，經(jīng)濟(jì)的減少測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試針。IN Line ICT+雙層FCT自動(dòng)測(cè)試線功能特點(diǎn)：無(wú)人機(jī)操作系統(tǒng)。無(wú)錫ICT測(cè)試設(shè)備泰瑞達(dá)
邊界掃描技術(shù)解決了無(wú)法增加測(cè)試點(diǎn)的困難，更重要的是它提供了一種簡(jiǎn)單而且快捷地產(chǎn)生測(cè)試圖形的方法，利用軟件工具可以將BSDL文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試圖形，如Teradyne的Victory，GenRad的BasicScan和ScanPathFinder。解決編寫(xiě)復(fù)雜測(cè)試庫(kù)的困難。用TAP訪問(wèn)口還可實(shí)現(xiàn)對(duì)如CPLD、FPGA、FlashMemroy的在線編程（In-SystemProgram或OnBoardProgram）。4Nand-TreeNand-Tree是Inter公司發(fā)明的一種可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)。在我司產(chǎn)品中，現(xiàn)只發(fā)現(xiàn)82371芯片內(nèi)此設(shè)計(jì)。描述其設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的有一一般程*.TR2的文件，我們可將此文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試向量。ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定，與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。徐州ICT測(cè)試機(jī)ICT是一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。
IC燒錄程序功能說(shuō)明 隨著MCU，CPLD，DSP，F(xiàn)PGA，F(xiàn)LASH等器件在 產(chǎn)品上的大量應(yīng)用，每個(gè)產(chǎn)品都需要對(duì)上面的IC進(jìn)行燒錄，蘇州德智電子有限公司在PTI816S上也集成了IC的燒錄，可 以讓客戶把ICT測(cè)試和IC燒錄兩個(gè)工位集成到一個(gè)工位上來(lái)，達(dá) 到減員生效的效果。 二：功能參數(shù)： 1，目前標(biāo)配可以支持多八連片燒錄 2，支持多連片同時(shí)燒錄或單片順序燒錄 3，燒錄更多連板可以擴(kuò)展外部模塊， 4，支持市面上大部分51,PIC ARM,CPLD,DSP,EPROM,FLASH的燒錄， 5，支持市面上大部分通用燒錄器接口，如南京西 爾特，洛浦，Phyton，Elnec DATA I/O，PM3,PM4, DEDIPROG, DATAMAN 6,靈活定義啟動(dòng)測(cè)試，結(jié)果信號(hào)電平，靈活定義 延時(shí)時(shí)間。
? 能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板(loaded PC board)上零件-電阻、電容、電感、電晶體、二極體、穩(wěn)壓二極體、光偶器、繼電器等零件，是否在我們?cè)O(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。 ? 能夠先期找出制程不良所在，如漏件(missing part)、折腳(bending)、短路(short)、錫橋(bridge)、反向(miss-oriented)、錯(cuò)件(wrong part)、開(kāi)路(open)、焊接不良等問(wèn)題，回饋到制程的改善。 ? 能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果，包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值，以供維修人員參考?？梢杂行Ы档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。 完成ICT測(cè)試步驟后，轉(zhuǎn)到產(chǎn)品通電狀態(tài)，測(cè)試產(chǎn)品的各項(xiàng)正常工作時(shí)的參數(shù)。
能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。它通過(guò)直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯(cuò)、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。接駁臺(tái)整機(jī)技術(shù)特點(diǎn)：設(shè)置有經(jīng)濟(jì)運(yùn)行，過(guò)板自動(dòng)。安捷倫ICT
ICT在線測(cè)試是電子企業(yè)必備PCBA生產(chǎn)測(cè)試設(shè)備。無(wú)錫ICT測(cè)試設(shè)備泰瑞達(dá)
由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有：∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0，則Rx可求出。若待測(cè)Rx為電容、電感，則Vs交流信號(hào)源，Rx為阻抗形式，同樣可求出C或L。隔離（Guarding）上面的測(cè)試方法是針對(duì)的器件，而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響，使Ix笽ref，測(cè)試時(shí)必須加以隔離（Guarding）。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。在上電路中，因R1、R2的連接分流，使Ix笽ref，Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。測(cè)試時(shí)，只要使G與F點(diǎn)同電位，R2中無(wú)電流流過(guò)，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不變。將G點(diǎn)接地，因F點(diǎn)虛地，兩點(diǎn)電位相等，則可實(shí)現(xiàn)隔離。實(shí)際實(shí)用時(shí)。無(wú)錫ICT測(cè)試設(shè)備泰瑞達(dá)
蘇州市德智電子有限公司是一家是一家專業(yè)從事電路板檢測(cè)儀器設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)于一體的高科技公司。從事ICT在線測(cè)試儀、功能測(cè)試機(jī)（FCT）、功能測(cè)試治具、非標(biāo)自動(dòng)化測(cè)試與控制系統(tǒng)（ATE)解決方案以及承接智能工廠自動(dòng)化改造等。的公司，是一家集研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和銷售為一體的專業(yè)化公司。蘇州市德智電子擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)創(chuàng)新的專業(yè)研發(fā)團(tuán)隊(duì)，以高度的專注和執(zhí)著為客戶提供BMS電池管理控制系統(tǒng)，雙層FCT自動(dòng)測(cè)試線，智能保險(xiǎn)絲盒測(cè)試機(jī)，Usbhub測(cè)試機(jī)。蘇州市德智電子不斷開(kāi)拓創(chuàng)新，追求出色，以技術(shù)為先導(dǎo)，以產(chǎn)品為平臺(tái)，以應(yīng)用為重點(diǎn)，以服務(wù)為保證，不斷為客戶創(chuàng)造更高價(jià)值，提供更優(yōu)服務(wù)。蘇州市德智電子始終關(guān)注自身，在風(fēng)云變化的時(shí)代，對(duì)自身的建設(shè)毫不懈怠，高度的專注與執(zhí)著使蘇州市德智電子在行業(yè)的從容而自信。