首先定義了組成測(cè)試訪問端口（TAP）的四（五〕個(gè)管腳：TDI、TDO、TCK、TMS，（TRST）。測(cè)試方式選擇（TMS）用來(lái)加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（EXTEST）、內(nèi)測(cè)試（INTEST）、運(yùn)行測(cè)試（RUNTEST）；后提出了邊界掃描語(yǔ)言（BoundaryScanDescriptionLanguage），BSDL語(yǔ)言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來(lái)控制和檢測(cè)器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來(lái)完成測(cè)試任務(wù)。全自動(dòng)ICT和FCT測(cè)試機(jī)功能：線路板的短路故障測(cè)試。重慶ICT測(cè)試儀價(jià)格
DeltaScan技術(shù)不需附加夾具硬件，成為首推技術(shù)。FrameScan電容藕合測(cè)試FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示：1夾具上的多路開關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板（ATB）依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。3電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。4ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測(cè)到信號(hào)；如果該管腳脫開，則不會(huì)有信號(hào)。GenRad類式的技術(shù)稱OpenXpress。原理類似。蘇州ICT直線檢測(cè)機(jī)全自動(dòng)ICTFCT整體測(cè)試線產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：品質(zhì)升---有效提升產(chǎn)品質(zhì)量保障,減少人工操作失誤。
離線型ict測(cè)試儀系統(tǒng)是為所有類型電路板的公開的測(cè)試平臺(tái)。這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)為ICT，IC燒錄，邊界掃描以及功能測(cè)試提供平臺(tái)。 系統(tǒng)可以在不上電的條件下測(cè)試整塊電路板和個(gè)別元器件。它使用直流或復(fù)雜阻抗的測(cè)量結(jié)合多點(diǎn)隔離等先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，能找到大多數(shù)的問題，如短路、開路或者錯(cuò)件等。能在不上電的安全模式下找到主要的錯(cuò)誤，又能給出具體的故障診斷信息，提高了維修的效率。 系統(tǒng)是為所有類型電路板的公開的測(cè)試平臺(tái)。這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)為ICT，IC燒錄，邊界掃描以及功能測(cè)試提供平臺(tái)。
ICT測(cè)試對(duì)PCB的設(shè)計(jì)要求 目前電子產(chǎn)品愈輕薄短小，PCB之設(shè)計(jì)布線也愈趨復(fù)雜困難。除需兼顧功能性與安全性外， 更需可生產(chǎn)及可測(cè)試。茲就可測(cè)性之需求提供規(guī)則供設(shè)計(jì)布線工程師參考，如能注意之，將可為貴公司省下可觀之治具制作費(fèi)用并增進(jìn)測(cè)試之可靠性與治具之使用壽命。 (一.)可取用之規(guī)則 1. 雖然有雙面治具，但較好將被測(cè)點(diǎn)放在同一面。 2. 被測(cè)點(diǎn)優(yōu)先級(jí)：A.測(cè)墊(Testpad) B.零件腳(Component Lead) C.貫穿孔(Via) 3. 兩被測(cè)點(diǎn)或被測(cè)點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距不得小于 0.050"(1.27mm)。以大于0.100"(2.54mm) 為佳，其次是0.075"(1.905mm)。 Inline系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了設(shè)計(jì)緊湊，節(jié)省產(chǎn)線寶貴空間。
將多個(gè)掃描器件的掃描鏈通過他們的TAP連在一起就形成一個(gè)連續(xù)的邊界寄存器鏈，在鏈頭加TAP信號(hào)就可控制和檢測(cè)所有與鏈相連器件的管腳。這樣的虛擬接觸代替了針床夾具對(duì)器件每個(gè)管腳的物理接觸，虛擬訪問代替實(shí)際物理訪問，去掉大量的占用PCB板空間的測(cè)試焊盤，減少了PCB和夾具的制造費(fèi)用。作為一種測(cè)試策略，在對(duì)PCB板進(jìn)行可測(cè)性設(shè)計(jì)時(shí)，可利用專門軟件分析電路網(wǎng)點(diǎn)和具掃描功能的器件，決定怎樣有效地放有限數(shù)量的測(cè)試點(diǎn)，而又不減低測(cè)試覆蓋率，經(jīng)濟(jì)的減少測(cè)試點(diǎn)和測(cè)試針。AOI是表面的外觀檢查。重慶ICT測(cè)試儀價(jià)格
在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)可分為在線測(cè)試(ICT)和功能測(cè)試(FCT)兩大類。重慶ICT測(cè)試儀價(jià)格
ICT流程直通模式： ⑴.產(chǎn)品經(jīng)過波峰焊，流到皮帶線，等待接駁臺(tái)要板； ⑵.接駁臺(tái)通過產(chǎn)品檢測(cè)光電判斷是否有產(chǎn)品，若無(wú)產(chǎn)品，則向前站皮帶線要板，產(chǎn)品流入接駁臺(tái)，等待后站測(cè)試機(jī)要板信號(hào)，然后阻擋氣缸下降，產(chǎn)品流入測(cè)試機(jī)，阻擋氣缸上升。 ⑶. 產(chǎn)品流入測(cè)試機(jī)，到達(dá)測(cè)試位時(shí)減速至停止到位，軌道氣缸下降，測(cè)試氣缸下降，進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成之后記憶當(dāng)前產(chǎn)品測(cè)試的Pass/Fail結(jié)果，測(cè)試氣缸上升，軌道氣缸上升，阻擋氣缸打開，產(chǎn)品流出至分選機(jī)，并告知當(dāng)前產(chǎn)品測(cè)試結(jié)果； ⑷. 產(chǎn)品流入分選機(jī)，判斷測(cè)試結(jié)果 若是Pass產(chǎn)品，則流出至后段設(shè)備，生產(chǎn)完成； 若是Fail產(chǎn)品，則分選平臺(tái)上升，當(dāng)分選平臺(tái)滿料時(shí)，則發(fā)出聲光報(bào)警，提示人員手動(dòng)操作。 重慶ICT測(cè)試儀價(jià)格
蘇州市德智電子有限公司位于蘇州高新區(qū)何山路368號(hào)5幢1層及3層。公司業(yè)務(wù)分為BMS電池管理控制系統(tǒng)，雙層FCT自動(dòng)測(cè)試線，智能保險(xiǎn)絲盒測(cè)試機(jī)，Usbhub測(cè)試機(jī)等，目前不斷進(jìn)行創(chuàng)新和服務(wù)改進(jìn)，為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù)。公司秉持誠(chéng)信為本的經(jīng)營(yíng)理念，在電子元器件深耕多年，以技術(shù)為先導(dǎo)，以自主產(chǎn)品為重點(diǎn)，發(fā)揮人才優(yōu)勢(shì)，打造電子元器件良好品牌。在社會(huì)各界的鼎力支持下，持續(xù)創(chuàng)新，不斷鑄造***服務(wù)體驗(yàn)，為客戶成功提供堅(jiān)實(shí)有力的支持。