ict里面會(huì)包含如下三個(gè)測試項(xiàng)目。OpenTest:開路測試是要測出待測電路板上預(yù)期(Expected)短路的元件是否因錯(cuò)件或漏件而造成開路。ShortTest:短路測試是要測試出待測電路板上不被預(yù)期的(Unexpected)短路現(xiàn)象。MDATest：ManufacturingDefectsAnalysis工程缺陷分析，電阻、電容、電感等被動(dòng)元器件的量測。提到MDAtest，我其實(shí)有幸見識(shí)到華碩電腦的MDAtest，華碩是單獨(dú)測試mda的，也是通過壓合留有卡槽的載板使頂針接觸板子測試點(diǎn)。ICT的范圍及特點(diǎn)檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。接駁臺(tái)整機(jī)技術(shù)特點(diǎn)：設(shè)置有經(jīng)濟(jì)運(yùn)行，過板自動(dòng)。在線測試儀ICT測試治具
德智電子在線測試儀WINDOWSXP版軟件特性品質(zhì)異常即時(shí)警報(bào)系統(tǒng)系統(tǒng)可以設(shè)定于同一DUT不良連續(xù)發(fā)生時(shí)可立即示警，俾使品質(zhì)異常之狀況可被及時(shí)處理及預(yù)防。報(bào)表統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)測試結(jié)果資料，并顯示圖表，及多種相關(guān)生產(chǎn)及時(shí)所需資料。如零件測試分布圖、IC測試分布圖、日報(bào)、期報(bào)、針點(diǎn)問題分析、不良率排行表等功能。遠(yuǎn)端監(jiān)控系統(tǒng)(ICTConsole)通過網(wǎng)絡(luò)管理可于遠(yuǎn)端即時(shí)取得生聯(lián)機(jī)測試資料，測試狀況等。可即時(shí)分析問題，調(diào)整制程，追蹤不良品產(chǎn)生的原因，即時(shí)做好源頭管理。上海ICT功能檢測設(shè)備測試部門往往對于靈活配置、設(shè)計(jì)緊湊且功能完備的測試設(shè)備青睞有加。
ICT流程直通模式： ⑴.產(chǎn)品經(jīng)過波峰焊，流到皮帶線，等待接駁臺(tái)要板； ⑵.接駁臺(tái)通過產(chǎn)品檢測光電判斷是否有產(chǎn)品，若無產(chǎn)品，則向前站皮帶線要板，產(chǎn)品流入接駁臺(tái)，等待后站測試機(jī)要板信號(hào)，然后阻擋氣缸下降，產(chǎn)品流入測試機(jī)，阻擋氣缸上升。 ⑶. 產(chǎn)品流入測試機(jī)，到達(dá)測試位時(shí)減速至停止到位，軌道氣缸下降，測試氣缸下降，進(jìn)行測試，測試完成之后記憶當(dāng)前產(chǎn)品測試的Pass/Fail結(jié)果，測試氣缸上升，軌道氣缸上升，阻擋氣缸打開，產(chǎn)品流出至分選機(jī)，并告知當(dāng)前產(chǎn)品測試結(jié)果； ⑷. 產(chǎn)品流入分選機(jī)，判斷測試結(jié)果 若是Pass產(chǎn)品，則流出至后段設(shè)備，生產(chǎn)完成； 若是Fail產(chǎn)品，則分選平臺(tái)上升，當(dāng)分選平臺(tái)滿料時(shí)，則發(fā)出聲光報(bào)警，提示人員手動(dòng)操作。
IC燒錄程序功能說明 隨著MCU，CPLD，DSP，F(xiàn)PGA，F(xiàn)LASH等器件在 產(chǎn)品上的大量應(yīng)用，每個(gè)產(chǎn)品都需要對上面的IC進(jìn)行燒錄，蘇州德智電子有限公司在PTI816S上也集成了IC的燒錄，可 以讓客戶把ICT測試和IC燒錄兩個(gè)工位集成到一個(gè)工位上來，達(dá) 到減員生效的效果。 二：功能參數(shù)： 1，目前標(biāo)配可以支持多八連片燒錄 2，支持多連片同時(shí)燒錄或單片順序燒錄 3，燒錄更多連板可以擴(kuò)展外部模塊， 4，支持市面上大部分51,PIC ARM,CPLD,DSP,EPROM,FLASH的燒錄， 5，支持市面上大部分通用燒錄器接口，如南京西 爾特，洛浦，Phyton，Elnec DATA I/O，PM3,PM4, DEDIPROG, DATAMAN 6,靈活定義啟動(dòng)測試，結(jié)果信號(hào)電平，靈活定義 延時(shí)時(shí)間。 在線自動(dòng)測試系統(tǒng)都是由“信號(hào)采集-信號(hào)調(diào)理-數(shù)據(jù)處理-人機(jī)接口-報(bào)表輸出”組成。
維修輔助功能 (Board View) 強(qiáng)大的基板不良組件實(shí)體顯示之板示功能，不良板組件顯示，放大，旋轉(zhuǎn)，快速尋找有問題的零件位置，或有問題的電路節(jié)點(diǎn)。加強(qiáng)維修的方便性，省去人力尋找問題的時(shí)間。是維修工作站人員維修之利器。 測試程序自動(dòng)產(chǎn)生功能 ATPD 程序匯入功能，可直接匯入如Fabmaster及TRI、JET、OKANO、TESTCON、TCO-5等廠牌的測試程序直接使用。 自動(dòng)學(xué)習(xí)功能，可針對O/S、 組件、 IC、 TAJ、 ECJ各組件自動(dòng)學(xué)習(xí)，做成測試程序。其學(xué)習(xí)能力高達(dá)95% 以上，并且可對單一步驟自動(dòng)學(xué)習(xí) / 隔離，大幅削減測試程序制作轉(zhuǎn)換所需時(shí)間。 簡明測試畫面，確實(shí)掌握測試信息 測試畫面可即時(shí)顯示開短路不良、組件不良及IC不良等狀況，測試紀(jì)錄及組件不良排行狀況在畫面下方顯示；使用者亦可依需要切換成顯示開短路即組件不良的詳細(xì)資料。 AOI是表面的外觀檢查。智能ICT儀器檢測設(shè)備
在線的ICT和FCT自動(dòng)化測試系統(tǒng)越來越受到市場關(guān)注。在線測試儀ICT測試治具
ICT使用于SMT制程的后端，通常是SMT線的后面(Reflow回流焊制程之后)，經(jīng)過ICT的測試將SMT制程不良篩選出來，并且可提前警示出SMT生產(chǎn)良率是否有異常。 由于ICT需對PCBA板上不同位置的電子元件進(jìn)行測試，因此對應(yīng)不同產(chǎn)品必須制作ICT測試治具來搭配，而測試治具因ICT廠牌、機(jī)型不同又有真空式、氣壓式的型式，一般使用不同規(guī)格數(shù)量的探針(尺寸、形狀、直徑)來接觸電路板或電子元件，所以PCBA板上的電子元件密度過高而無空間可布針時(shí)即可能無法使用ICT，因此ICT還是有使用的條件限制的。 ICT測試治具因電子產(chǎn)品的元件數(shù)量高低、分布位置的差異，其探針的數(shù)量、密度亦隨的而異，在探針接觸電路板進(jìn)行測試時(shí)，可能會(huì)電路板產(chǎn)生超過允許范圍的 壓力(應(yīng)力)而造成電路板的變形，這樣將可能導(dǎo)致PCBA板的損壞隱患，因此導(dǎo)入ICT測試治具前通常需要進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測試，使應(yīng)變值下降到允許的安全范圍內(nèi)。 在線測試儀ICT測試治具
蘇州市德智電子有限公司位于蘇州高新區(qū)何山路368號(hào)5幢1層及3層。蘇州市德智電子致力于為客戶提供良好的BMS電池管理控制系統(tǒng)，雙層FCT自動(dòng)測試線，智能保險(xiǎn)絲盒測試機(jī)，Usbhub測試機(jī)，一切以用戶需求為中心，深受廣大客戶的歡迎。公司注重以質(zhì)量為中心，以服務(wù)為理念，秉持誠信為本的理念，打造電子元器件良好品牌。在社會(huì)各界的鼎力支持下，持續(xù)創(chuàng)新，不斷鑄造***服務(wù)體驗(yàn)，為客戶成功提供堅(jiān)實(shí)有力的支持。