3.試驗方法標準試驗方法備注JESD22-A108F-20171.應力持續(xù)時間應符合要求，在必要時進行測量；2.如果制造商提供了驗證數據，不需要在偏置下進行冷卻。中斷偏置1min，不應認為消除了偏置。1.測量所用時間不應納入器件試驗時間；2.偏置指...

閃存參考單元包括：襯底100，位于所述襯底中的導電溝道、位于所述導電溝道兩側的源極101和漏極102，位于導電溝道上方的柵極單元，所述柵極單元從下到上依次包括隧穿氧化層103、浮柵104、柵間介質層105以及控制柵106,所述柵極單元的兩側分布有側墻107。柵...

芯片HTOL測試需求，高質量、高效率、低成本HTOL測試方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設備，以及測試方案制定，PCB設計制作，測試試驗，滿足各類芯片可靠性測試需求。上海頂策科技有限公司，自研TH801智能一體化HTOL測試機，實現實時單...

HTOL的注意要點高溫工作壽命的測試條件主要遵循JESD22-A108進行，除了給器件合適的偏置與負載外，主要包括溫度應力和電壓應力，這兩者都屬于加速因子。合理設置溫度應力和電壓應力，以便在合理的時間和成本下完成壽命評估。對于硅基產品，溫度應力一般...

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可靠性方案設計，HTOL測試服務。涵蓋模擬，數字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設計，原理圖設計，PCBlayout加工制作，老化程序開發(fā)調試，可靠性測試試驗，出具可靠性報告，上海頂策科技有限公司提供高質量、高效率、低成本HTOL測試方案。自主研...

htonl()簡述：將主機的無符號長整形數轉換成網絡字節(jié)順序。#include<arpa/(uint32_thostlong);hostlong：主機字節(jié)順序表達的32位數。注釋：本函數將一個32位數從主機字節(jié)順序轉換成網絡字節(jié)順序。返回值：hto...

第二時間點讀點、第三時間點讀點至第n時間點讀點。在每個時間點讀點過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經由讀出放大器進行比對判斷，若iref＜i，則閃存讀出“1”；若iref＞i，則閃存讀出“0”。具體的，在閃存(例如norf...

發(fā)明人檢查失效的原因，發(fā)現讀點失效為讀“0”失效，并且進一步研究發(fā)現閃存參考單元的輸出電流iref在48小時的測試值iref1與在初始的測試值iref0之間有偏移，具體偏移量經測試統(tǒng)計在4μa以內，而且iref1＜iref0，即48小時后iref往電流變小的方...

上海頂策科技有限公司（Topictest）推出的TH801，智能在線監(jiān)控動態(tài)老化設備，可以監(jiān)控的參數除了整板的電壓，電流，還可以根據需求，監(jiān)控到老化中每顆芯片的電壓、電流，寄存器數據，時間，頻率等諸多參數，并實時記錄保存成Excel文檔。這樣不僅可以確保每顆芯...