3.試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法備注JESD22-A108F-20171.應(yīng)力持續(xù)時(shí)間應(yīng)符合要求,在必要時(shí)進(jìn)行測量;2.如果制造商提供了驗(yàn)證數(shù)據(jù),不需要在偏置下進(jìn)行冷卻。中斷偏置1min,不應(yīng)認(rèn)為消除了偏置。1.測量所用時(shí)間不應(yīng)納入器件試驗(yàn)時(shí)間;2.偏置指電源對(duì)引腳施加的電壓。,一般在老化結(jié)束96h內(nèi)進(jìn)行;2.在消除偏置之前,器件在室溫下冷卻到穩(wěn)定狀態(tài)的10℃以內(nèi)。如果應(yīng)力消失,則試驗(yàn)時(shí)間延長。GJB548B-2015方法:1.四種標(biāo)準(zhǔn)都保證了器件高溫工作時(shí)間的完整性?!鏅?quán)聲明:本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接:。 TH801智能老化系統(tǒng),設(shè)備體積小,重量輕,功耗小,節(jié)能環(huán)保,干凈整潔,操作簡單,易于上手。青浦區(qū)HTOL測試機(jī)專賣店
可靠性測試設(shè)備,可靠性測試整體解決方案,HTOL測試爐,上海頂策科技TH801智能一體化老化測試機(jī)。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測技術(shù),通過監(jiān)測數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,大幅提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性,讓報(bào)告更有說服力,下游客戶更放心。20年以上的豐富測試技術(shù)積累及運(yùn)營經(jīng)驗(yàn),擁有多項(xiàng)發(fā)明專利及軟件著作權(quán),自成立以來,已經(jīng)為超過500家半導(dǎo)體公司提供高質(zhì)量,高效率,低成本,一條龍測試解決方案!松江區(qū)HTOL測試機(jī)供應(yīng)商上海頂策科技智能HTOL系統(tǒng),通過監(jiān)測數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本。
GJB548B-2015方法,否則采用額定工作電壓S級(jí)**少時(shí)間有240h到120h共6個(gè)級(jí)別;B級(jí)**少時(shí)間160h到12h共10個(gè)級(jí)別;H級(jí)**少時(shí)間352h到80h共11級(jí)別;K級(jí)**少時(shí)間從700h到320h共6個(gè)級(jí)別。S級(jí)最低溫度從125℃到150℃共6個(gè)級(jí)別;B級(jí)別最低溫度從125℃到250℃;H級(jí)最低溫度從100℃到150℃;K級(jí)最低溫度從100℃到125℃?!鏅?quán)聲明:本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接:。
上海頂策科技有限公司(Topictest)推出的TH801,智能在線監(jiān)控動(dòng)態(tài)老化設(shè)備,可以監(jiān)控的參數(shù)除了整板的電壓,電流,還可以根據(jù)需求,監(jiān)控到老化中每顆芯片的電壓、電流,寄存器數(shù)據(jù),時(shí)間,頻率等諸多參數(shù),并實(shí)時(shí)記錄保存成Excel文檔。這樣不僅可以確保每顆芯片都處于正常的老化狀態(tài),保證老化測試的質(zhì)量,同時(shí)還可以清楚地知道具體失效的參數(shù),以及在什么時(shí)間點(diǎn)失效等諸多信息,非常有益于失效后的FA分析。另外由于可以監(jiān)控更多芯片參數(shù),這使得免除ATE回測成為可能,這將大幅度提高老化測試效率,節(jié)省更多人力成本!這項(xiàng)技術(shù)目前已在對(duì)芯片質(zhì)量要求較高的芯片設(shè)計(jì)公司廣泛應(yīng)用。上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng),擁有智能動(dòng)態(tài)在線實(shí)時(shí)檢測技術(shù),同時(shí)一體化結(jié)合ATE與高溫老化爐。
進(jìn)一步的,對(duì)所述閃存參考單元進(jìn)行編譯,包括:在所述源極上施加***編程電壓,在所述漏極上施加第二編程電壓,在所述控制柵上施加第三編程電壓,在所述襯底上施加第四編程電壓;其中,所述***編程電壓小于所述第二編程電壓;所述第二編程電壓小于所述第三編程電壓。進(jìn)一步的,所述***編程電壓的范圍為~0v,所述第二編程電壓的范圍為~,所述第三編程電壓的范圍為8v~10v,所述第四編程電壓的范圍為~-1v。進(jìn)一步的,編譯過程中的脈沖寬度為100μs~150μs。進(jìn)一步的,對(duì)所述閃存參考單元進(jìn)行擦除,包括:將所述源極和漏極均懸空,在所述控制柵上施加***擦除電壓,在所述襯底上施加第二擦除電壓;其中,所述***擦除電壓為負(fù)電壓,所述第二擦除電壓為正電壓。進(jìn)一步的,所述***擦除電壓的范圍為-10v~-8v,所述第二擦除電壓的范圍為8v~10v。進(jìn)一步的,擦除過程中的脈沖寬度為10ms~20ms。進(jìn)一步的,對(duì)所述閃存參考單元進(jìn)行編譯和擦除,循環(huán)次數(shù)為10次~20次。進(jìn)一步的,對(duì)所述閃存進(jìn)行htol測試包括:對(duì)所述閃存依次進(jìn)行***時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)、第二時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)、第三時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)至第n時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)。
TH801智能老化系統(tǒng),實(shí)時(shí)監(jiān)測并記錄每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)。閔行區(qū)HTOL測試機(jī)排行榜
上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng),芯片狀態(tài)實(shí)時(shí)參數(shù)正態(tài)分布圖,散點(diǎn)圖等顯示,多維度分析芯片狀態(tài)。青浦區(qū)HTOL測試機(jī)專賣店
提供可靠性測試整體解決方案:可靠性設(shè)備,HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測試試驗(yàn),滿足各類芯片可靠性測試需求。涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號(hào),SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì),原理圖設(shè)計(jì),PCBlayout加工制作,老化程序開發(fā)調(diào)試,可靠性測試試驗(yàn),出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測技術(shù),通過監(jiān)測數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,大幅提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性,讓報(bào)告更有說服力,下游客戶更放心。青浦區(qū)HTOL測試機(jī)專賣店
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