江蘇專業(yè)提供測試探針卡銷售

來源: 發(fā)布時間:2022-10-26

    當(dāng)前,我國超大規(guī)模和極大規(guī)模集成電路處于快速發(fā)展時期,隨著集成電路技術(shù)從深亞微米向90-65-45納米技術(shù)推進(jìn),大幅度提高芯片測試準(zhǔn)確性和測試效率是集成電路生產(chǎn)中迫切需要解決的問題。本項目研發(fā)的超高速、超高頻芯片測試探針卡是實現(xiàn)集成電路超高速、超高頻芯片測試的重要環(huán)節(jié),是實現(xiàn)高速、高效測試的重要保障。同時,測試探針卡研究成果將沖破國外廠商對我國超高頻芯片測試探針卡設(shè)計制作技術(shù)的壟斷,為我國自主研制和生產(chǎn)超快速、超高頻芯片測試探針卡開拓道路,為實現(xiàn)超高頻芯片測試探針卡國產(chǎn)化研發(fā)及產(chǎn)業(yè)化打下堅實基礎(chǔ)。由于本項目研制出的成果切合我國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的需要,具有很大的推廣前景,與此同時,本單位將積極參與擴(kuò)展超高頻芯片測試探針卡產(chǎn)業(yè)化平臺建設(shè),發(fā)展壯大公司。 矽利康測試探針卡那些廠家。江蘇專業(yè)提供測試探針卡銷售

    晶圓探針卡的制造方法測試母板包含一個凹穴形成于下表且向內(nèi)凹入;填充緩沖物形成于凹穴內(nèi)吸收待測待測物外力;軟性電路基板位于測試母板朝向待測物面;垂直探針形成于軟件電路板上;絕緣材質(zhì)固定垂直探針;硬性件導(dǎo)電材質(zhì)包覆垂直探針加強(qiáng)其硬度,增強(qiáng)其抗形變力,進(jìn)而增加其使用壽命。具有制作容易及可快速提供晶圓型態(tài)組件的測試用的功效。其特征是:它至少是測試母板母板包含一凹穴形成于下表面且向內(nèi)凹入;填充緩沖物形成于所述凹穴內(nèi)吸收待測物外力;軟性電路基板位于所述測試母板,朝向待測物面;垂直探針形成于所述軟件電路板上;絕緣材質(zhì)固定所述垂直探針;硬性導(dǎo)電材質(zhì)包覆該垂直探針加強(qiáng)其硬度。近年來探針卡的相關(guān)研究:較早的探針卡發(fā)展與1969年被稱為Epoxyring探針卡,而至今此型的探針卡仍然被使用著,此型的探針卡乃是以Epoxyring技術(shù),把十根至數(shù)百根的探針以手工的方式缺須依據(jù)測試的晶片焊點的位置,將探針安置于探針卡上。兩探針間的較小距離可做到125,而比較大測試焊點可高達(dá)500個。 湖南有名測試探針卡供應(yīng)商矽利康測試探針卡研發(fā)。

    探針卡是將探針卡上的探針直接與芯片上的焊墊或凸塊直接接觸,引出芯片訊號,再配合周邊測試儀器與軟件控制達(dá)到自動化量測的目的。探針卡應(yīng)用在IC尚未封裝前,針對裸晶系以探針做功能測試,篩選出不良品、再進(jìn)行之后的封裝工程。因此,探針卡是IC制造中對制造成本影響相當(dāng)大的重要制程之一。近年來半導(dǎo)體制程技術(shù)突飛猛進(jìn),超前摩爾定律預(yù)估法則好幾年,現(xiàn)階段已向32奈米以下挺進(jìn)。目前產(chǎn)品講求輕薄短小,IC體積越來越小、功能越來越強(qiáng)、腳數(shù)越來越多,為了降低芯片封裝所占的面積與改善IC效能,現(xiàn)階段覆晶(FlipChip)方式封裝普遍被應(yīng)用于繪圖芯片、芯片組、存儲器及CPU等。上述高階封裝方式單價高昂,如果能在封裝前進(jìn)行芯片測試,發(fā)現(xiàn)有不良品存在晶圓當(dāng)中,即進(jìn)行標(biāo)記,直到后段封裝制程前將這些標(biāo)記的不良品舍棄,可省下不必要的封裝成本。矽利康公司是一家專業(yè)從事測試解決方案的公司。公司擁有一批在半導(dǎo)體測試行業(yè)數(shù)十年的員工組成,從事探針卡設(shè)計,制造,研發(fā);目前主要生產(chǎn)和銷售的產(chǎn)品有晶圓測試探針卡,IC成品測試爪,以及測試系統(tǒng)解決方案。

    據(jù)IHS統(tǒng)計,2015年全球半導(dǎo)體營收3670億美元,預(yù)計2016年增長,達(dá)到3730億美元。中國半導(dǎo)體市場約1520億美元,預(yù)計2019年達(dá)到1790億美元,五年復(fù)合增長。中國占全球半導(dǎo)體市場比例未來幾年維持在43%左右。與國內(nèi)行業(yè)協(xié)會口徑有差異,國內(nèi)統(tǒng)計占比是在50%以上,主要是有些重復(fù)計算。目前,中國本土芯片供需缺口還是很大,2300億美金的進(jìn)口,大數(shù)是3個三分之一,我們自己整機(jī)企業(yè)消耗三分之一,信息外部企業(yè)消耗三分之一,比如汽車、裝備之類,還有三分之一是跨國企業(yè)帶進(jìn)來又銷出去?,F(xiàn)在下游市場在向中國集中,集成電路產(chǎn)業(yè)必向中國集中。市場在什么地方,產(chǎn)業(yè)就必須在這個地方,如果不在一個地方是不符合經(jīng)濟(jì)規(guī)律的,這是必然趨勢。今年二季度之后,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)有向下的趨勢。十家咨詢公司預(yù)測,今年較樂觀的4%左右,較悲觀的有1%,明年有預(yù)測負(fù)增長的。整體對今明兩年持謹(jǐn)慎態(tài)度,年增長平均值。從產(chǎn)品應(yīng)用角度看,預(yù)計2016年智能手機(jī)消耗半導(dǎo)體780億美元,較15年稍有增長,說明4G高峰期已過,5G還沒到來。新興市場增長快,但是基數(shù)還很小。固態(tài)硬盤增長15%,滲透率逐漸提高。有線通訊、工業(yè)電子、平板電腦、汽車電子等保持穩(wěn)定增長。 選擇測試探針卡研發(fā)。

    探針卡保管環(huán)境要求:1.探針卡的保管環(huán)境對針卡的壽命起到很大的作用,可以延長針卡的使用周期;2.在無塵室里面提供專門的針卡保管架;3.潔凈室的溫濕度控制可根據(jù)貴公司的溫濕度標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。探針卡注意事項:1.嚴(yán)禁在濕度較大的地方存放;2.嚴(yán)禁在潔凈房以外的地方存放.3注意輕拿輕放,防止大震動改變針卡的平坦度和排列。探針卡使用中出現(xiàn)的問題和處理方法1.在較長時間不使用后容易出現(xiàn)針前列面氧化,在檢測時會出現(xiàn)探針和ITO或PAD接觸不良的現(xiàn)象。處理方法:出現(xiàn)此現(xiàn)象時請不要連續(xù)加大OD,從探針臺上取下針卡利用sanding砂紙對針前列進(jìn)行輕微的打磨,避免搭理使針的平坦度和排列變形。2.如果潔凈房的濕度相對較大時,水份會侵入EPOXY的內(nèi)部而且不易散發(fā)出去,再生產(chǎn)測試前會出現(xiàn)空測短路現(xiàn)象。處理方法:出現(xiàn)此現(xiàn)象時,請吧針卡放入OVEN里面溫度設(shè)為80°時間設(shè)為15分鐘,結(jié)束后用顯微鏡檢查針尖部分是否有異物或灰塵附著,如沒有異常就可以進(jìn)行作業(yè)了。 測試探針卡那些廠家。湖北蘇州矽利康測試探針卡多少錢

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    混合鍵合技術(shù)的應(yīng)用用于封裝的混合鍵合在其他方面有所不同。傳統(tǒng)上,IC封裝是在OSAT或封裝廠進(jìn)行的。在銅混合鍵合中,該過程在晶圓廠(而不是OSAT)的潔凈室中進(jìn)行。與處理微米級缺陷的傳統(tǒng)封裝不同,混合鍵合對微小的納米級缺陷很敏感,所以,需要一個晶圓廠級的潔凈室,以防止微小的缺陷破壞工藝。缺陷控制在這里至關(guān)重要。“隨著先進(jìn)的封裝工藝越來越復(fù)雜,并且所涉及的功能越來越小,有效的工藝控制的需求也在不斷增長。鑒于這些工藝使用昂貴的已知優(yōu)制模具,失敗的成本很高?!盋yberOptics研發(fā)副總裁TimSkunes說道。在組件之間,有用于形成垂直電氣連接的凸塊。控制凸點高度和共面性對于確保堆疊組件之間的可靠連接至關(guān)重要?!睂嶋H上,已知的良好模具(KGD)至關(guān)重要。KGD是符合指定規(guī)格的未封裝零件或裸模。沒有KGD,包裝可能會產(chǎn)生低產(chǎn)量或失敗。KGD對于封裝廠很重要?!拔覀兪盏铰隳?,然后將它們放入包裝中,以交付具有功能的產(chǎn)品。人們要求我們提供很高的產(chǎn)量,”ASE的工程和技術(shù)營銷總監(jiān)曹立宏在蕞近的一次活動中說?!耙虼?,對于已知的優(yōu)制模具,我們希望以良好的功能對其進(jìn)行權(quán)面測試。我們希望它是100%?!北M管如此。 江蘇專業(yè)提供測試探針卡銷售

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