肖特基發(fā)射式掃描電鏡的操作溫度為1800K，它是在鎢(100)單晶上鍍ZrO覆蓋層，ZrO將功函數(shù)從純鎢的4.5eV降至2.8eV，而外加高電場更使電位障壁變窄變低，使得電子很容易以熱能的方式跳過能障(并非穿隧效應(yīng))，逃出針尖表面，所需真空度約10-8~10-9torr。其發(fā)射電流穩(wěn)定度佳，而且發(fā)射的總電流也大。而其電子能量散布很小，但稍遜于冷場發(fā)射式電子長筒械具。其電子源直徑比冷式大，所以影像分辨率也比冷場發(fā)射式稍差一點。由于ZrO一直是覆在燈絲上的，因此肖特基的束流非常穩(wěn)定，但較終ZrO耗盡時，燈絲的壽命也就到了，一般在2-3年。掃描電鏡普遍應(yīng)用于礦物學(xué)領(lǐng)域的研究。韶關(guān)日立掃描電鏡一般多少錢一臺
掃描電鏡(scanningelectronmicroscope,SEM)是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點。目前,掃描電鏡已被普遍應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究,但在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。銅仁冷凍掃描電鏡報價掃描電鏡是用途較為普遍的一種儀器。
SEM的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?，再?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹姸?，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。分辨率高，放大倍數(shù)范圍廣，可以從幾倍到幾十萬倍，連續(xù)可調(diào)，便于尋找缺陷并建立微觀形貌和宏觀形貌之間的聯(lián)系；景深大，有很強的立體感，適于觀察像斷口那樣粗糙的表面；加配能譜儀和波譜儀后，可同時進行成分分析。
掃描電鏡的附件：掃描電鏡一般都配有波譜儀或者能譜儀。波譜儀和能譜儀是不能互相取代的，只能是互相補充。波譜儀是利用布拉格方程2dsinθ=λ，從試樣激發(fā)出了X射線經(jīng)適當(dāng)?shù)木w分光，波長不同的特征X射線將有不同的衍射角2θ。波譜儀是微區(qū)成分分析的有力工具。波譜儀的波長分辨率是很高的，但是由于X射線的利用率很低，所以它使用范圍有限。能譜儀是利用X光量子的能量不同來進行元素分析的方法，對于某一種元素的X光量子從主量子數(shù)為n1的層躍遷到主量子數(shù)為n2的層上時，有特定的能量ΔE=En1-En2。能譜儀的分辨率高，分析速度快，但分辨本領(lǐng)差，經(jīng)常有譜線重疊現(xiàn)象，而且對于低含量的元素分析準(zhǔn)確度很差。掃描電鏡的樣品制備很簡單。
掃描電鏡對樣品的要求：四無(無磁、無毒、無污染、無放射性)，三有(具有穩(wěn)定性、干燥性、導(dǎo)電性)，兩不(不發(fā)光、非高溫）。盡量保持樣品原始的表面形態(tài)和結(jié)構(gòu)。顆?；蚍勰?shù)量要適中，避免團聚;塊狀樣品體積要控制在120mm×80mm×50mm以內(nèi)、高度限制在5～10mm左右。測試的整個流程要注意清潔。為降低樣品污染程度，可事先用酒精或超聲波清洗。觀察成分相的樣品表面應(yīng)盡量光滑，高度差異不可太大，必要時需精細(xì)拋光。待測面為錐狀、似錐狀或有明顯棱角、尖角等的突兀狀樣品無法測試。同樣，樣品底面因不平整而阻礙導(dǎo)電處理的樣品需要磨平。掃描電鏡普遍應(yīng)用于沉積學(xué)領(lǐng)域的研究。南寧蔡司掃描電鏡
掃描電鏡成像直觀、立體感強。韶關(guān)日立掃描電鏡一般多少錢一臺
和透射電鏡相比，掃描電鏡試樣制備比較簡單。在保持材料原始形狀情況下，可以直接觀察和研究試樣表面形貌及其它物理效應(yīng)（特征），這是掃描電鏡的一個突出優(yōu)點。掃描電鏡的有關(guān)制樣技術(shù)是以透射電鏡、光學(xué)顯微鏡及電子探針X射線顯微分析制樣技術(shù)為基礎(chǔ)發(fā)展起來的，有些方面還兼具透射電鏡制樣技術(shù)，所用設(shè)備也基本相同。但因掃描電鏡有其本身的特點和觀察條件，只簡單地引用已有的制樣方法是不夠的。掃描電鏡的特點是：觀察試樣為不同大小的固體（塊狀、薄膜、顆粒），并可在真空中直接進行觀察。試樣應(yīng)具有良好的導(dǎo)電性能，不導(dǎo)電的試樣，其表面一般需要蒸涂一層金屬導(dǎo)電膜。試樣表面一般起伏（凹凸）較大。觀察方式不同，制樣方法有明顯區(qū)別。試樣制備與加速電壓、電子束流、掃描速度（方式）等觀察條件的選擇有密切關(guān)系。韶關(guān)日立掃描電鏡一般多少錢一臺
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