應(yīng)用領(lǐng)域光譜分析:專譜鎢燈光源適用于紫外-可見-近紅外光譜分析,能夠提供穩(wěn)定的光源。顯微鏡成像:可用于顯微鏡照明,提供均勻的光強分布。光纖通信:作為光纖通信系統(tǒng)中的光源,提供穩(wěn)定的光信號。環(huán)境監(jiān)測:用于環(huán)境監(jiān)測設(shè)備,提供寬波段的光源。材料科學(xué):在材料研究中,用于光譜分析和成像。專譜鎢燈光源憑借其高亮度、低功耗、長壽命和穩(wěn)定的光譜輸出,成為科研和工業(yè)應(yīng)用中的理想選擇。其模塊化設(shè)計和靈活的集成能力進一步提升了其在多種應(yīng)用中的適用性。專譜LIBS系統(tǒng)憑借其快速、非接觸、無需樣品制備的特點,在材料分析和工業(yè)應(yīng)用中展現(xiàn)出巨大的潛力應(yīng)用前景。湖南ProSp RTM專譜光電設(shè)備
ProSp-Micro 顯微光譜測量系統(tǒng)在科研領(lǐng)域的具體應(yīng)用激光材料領(lǐng)域應(yīng)用:研究材料的熒光信號和拉曼信號,從而評價材料的性能和參數(shù)指標。優(yōu)勢:能夠提供材料在微觀區(qū)域的光譜信息,幫助研究人員優(yōu)化材料的性能。4. 光子晶體領(lǐng)域應(yīng)用:如測量利用光子晶體原理制造的紡織品,測量某微小區(qū)域的顏色值,某個較大區(qū)域的顏色分布情況。優(yōu)勢:通過顯微光譜測量,可以精確分析光子晶體的光學(xué)特性,為新型光子材料的研發(fā)提供支持。5. 珠寶和古籍檢測領(lǐng)域應(yīng)用:通過測量樣品的反射、熒光或拉曼光譜,進行種類識別和真假鑒定。優(yōu)勢:提供高分辨率的光譜數(shù)據(jù),幫助鑒定珠寶的成分和古籍的保存狀況。海南太陽能電池專譜光電價格Mapping光譜測量:通過二維掃描臺,對樣品進行區(qū)域掃描,獲取空間分辨的光譜信息。
ProSp-ELQY 電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)模塊化設(shè)備搭建,適用于手套箱內(nèi)安裝,對于制備的材料,可進行快速原位量子效率測試,使用更方便系統(tǒng)性能參數(shù)?測試范圍(依配置決定):亮度:0.01–2*106nit通量:5*10-6–300lm350-1100nm-輻射亮度:0.02-2*106mW/Sr/m2輻射通量:1*10-5–650mW900-1700nm-輻射亮度:300-6*108mW/Sr/m2輻射通量:0.02–3.5*104mW?亮度重復(fù)性:>98%?主波長重復(fù)性:0.5nm?光致量子效率測試結(jié)果重復(fù)性:5%注:以上測試樣品為標準朗伯體測試結(jié)果。
專譜顯微測量系統(tǒng)在 Mapping 方面的應(yīng)用專譜光電的 ProSp-Micro 系列顯微光譜測量系統(tǒng)在 Mapping 方面具有強大的功能,能夠?qū)崿F(xiàn)多種光譜測量和成像應(yīng)用。以下是其在 Mapping 方面的具體應(yīng)用和特點:1. 二維掃描 Mapping 功能ProSp-Micro 系列顯微光譜測量系統(tǒng)可以選裝二維電控掃描臺,通過控制軟件設(shè)置面掃描采樣,獲取一定范圍內(nèi)的逐點掃描光譜數(shù)據(jù)。這種功能可用于表征材料表面微觀結(jié)構(gòu)和光譜成像。2. 多種光譜測量模式顯微熒光測量:系統(tǒng)可以進行顯微熒光光譜測量,適用于研究生物樣品、細胞和組織的熒光特性。顯微拉曼測量:系統(tǒng)支持顯微拉曼光譜測量,適用于材料成分分析和結(jié)構(gòu)鑒定。顯微反射測量:系統(tǒng)可以進行顯微反射光譜測量,適用于材料表面反射特性的研究。熒光光譜范圍覆蓋300-2500nm,拉曼光譜波長范圍覆蓋250-2500nm,反射光譜范圍覆蓋350-2500nm。
專譜量子效率測試系統(tǒng)是一種用于測量光電器件和材料量子效率的高性能設(shè)備。它廣泛應(yīng)用于太陽能電池、光電探測器、LED、光電器件的研發(fā)和質(zhì)量控制。以下是其主要特點和功能:專譜量子效率測試系統(tǒng)憑借其高靈敏度、自動化控制和***的測量功能,成為科研、工業(yè)和環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域的理想選擇。其在太陽能電池、光電探測器、半導(dǎo)體材料、顯示技術(shù)、激光器和光通信等多個領(lǐng)域的應(yīng)用,展示了其強大的性能和靈活性。隨著技術(shù)的不斷進步,量子效率測試系統(tǒng)將繼續(xù)在高精度量子器件性能評估中發(fā)揮重要作用。專譜激光器廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域:用于拉曼光譜、熒光光譜等測量。 細胞成像、熒光標記檢測、照射等。內(nèi)蒙古PROSP micro40專譜光電廠商
SERS 基底:用于表面增強拉曼光譜測量,適用于痕量分析和醫(yī)學(xué)診斷。湖南ProSp RTM專譜光電設(shè)備
ProSp 芯片:技術(shù)參數(shù)與應(yīng)用領(lǐng)域1. ProSp 芯片技術(shù)參數(shù)ProSp 芯片是一種高性能的顯微光譜測量系統(tǒng)的**組件,廣泛應(yīng)用于多種光譜測量和成像應(yīng)用。以下是其主要技術(shù)參數(shù)和特點:光譜范圍:覆蓋從 380 nm 到 2500 nm,適用于紫外、可見光和近紅外光譜測量。顯微光譜模塊:采用共焦光路設(shè)計,優(yōu)化了系統(tǒng)性能,能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率的光譜測量。多功能集成:系統(tǒng)支持顯微熒光、顯微拉曼和顯微反射等多種光譜測量模式。模塊化設(shè)計:顯微光譜模塊可以集成到大部分通用的正置顯微鏡中,實現(xiàn)顯微光譜測量。濾波片槽:模塊中帶有兩個濾波片槽,可以放置激發(fā)濾波片和發(fā)射濾波片,實現(xiàn)不同激發(fā)波長的顯微熒光測量。光斑大小:光斑大小小于 1 微米(@100X,單模光纖耦合輸入),湖南ProSp RTM專譜光電設(shè)備