激光干涉儀用于測量微小位移,精度可達(dá)納米級別。溫度波動哪怕只有 1℃,由于儀器主體與測量目標(biāo)所處環(huán)境溫度不一致,二者熱脹冷縮程度不同,會造成測量基線的微妙變化,導(dǎo)致測量位移結(jié)果出現(xiàn)偏差,在高精度機(jī)械加工零件的尺寸檢測中,這種偏差可能使零件被誤判為不合格品,增加生產(chǎn)成本。高濕度環(huán)境下,水汽會干擾激光的傳播路徑,使激光發(fā)生散射,降低干涉條紋的對比度,影響測量人員對條紋移動的精確判斷,進(jìn)而無法準(zhǔn)確獲取位移數(shù)據(jù),給精密制造、航空航天等領(lǐng)域的科研與生產(chǎn)帶來極大困擾。設(shè)備大小可定制,能匹配各種高精密設(shè)備型號,及操作空間要求,構(gòu)建完整環(huán)境體系,保障高精密設(shè)備正常運(yùn)行。制藥溫濕度控制箱
在化學(xué)、材料、制藥、微生物、細(xì)胞等實(shí)驗(yàn)室科研中,精密環(huán)控柜為各類實(shí)驗(yàn)提供了穩(wěn)定的環(huán)境條件,是科研工作順利開展的重要支撐。在化學(xué)實(shí)驗(yàn)中,一些化學(xué)反應(yīng)對溫度極為敏感,0.1℃的溫度偏差都可能改變反應(yīng)速率和產(chǎn)物純度。精密環(huán)控柜的高精密溫度控制,確保實(shí)驗(yàn)溫度穩(wěn)定,為化學(xué)反應(yīng)提供理想條件,保證實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。材料研究中,材料的性能測試需要嚴(yán)格控制環(huán)境溫濕度。例如,對新型半導(dǎo)體材料的性能檢測,環(huán)境濕度的變化可能影響材料的電學(xué)性能。精密環(huán)控柜的溫濕度控制,為材料性能測試提供穩(wěn)定環(huán)境,助力科研人員準(zhǔn)確評估材料性能?;瘜W(xué)溫濕度設(shè)備成本精密環(huán)境控制設(shè)備依托自主研發(fā)的高精密控溫技術(shù),實(shí)現(xiàn)了 0.1% 的超高輸出精度。
數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)記錄查詢功能為用戶帶來了極大的便利,提升了設(shè)備的使用體驗(yàn)和管理效率。數(shù)據(jù)自動生成曲線,就如同設(shè)備運(yùn)行的 “心電圖”,用戶通過曲線能直觀地看到設(shè)備運(yùn)行過程中溫濕度、壓力等參數(shù)隨時(shí)間的變化情況,便于及時(shí)發(fā)現(xiàn)異常波動。數(shù)據(jù)自動保存,方便用戶進(jìn)行后續(xù)的數(shù)據(jù)分析和處理??蒲腥藛T可以通過分析歷史數(shù)據(jù),優(yōu)化實(shí)驗(yàn)方案;生產(chǎn)人員能夠依據(jù)數(shù)據(jù)找出設(shè)備運(yùn)行的參數(shù),提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。同時(shí),運(yùn)行狀態(tài)、故障狀態(tài)等事件同步記錄,查詢一目了然。一旦設(shè)備出現(xiàn)故障,用戶能迅速從記錄中獲取故障發(fā)生的時(shí)間、類型等信息,為快速排查和解決故障提供有力支持。
在蓬勃發(fā)展的光纖通信領(lǐng)域,溫濕度的波動所帶來的影響不容小覷。溫度一旦發(fā)生變化,光纖的材料特性便會隨之改變,熱脹冷縮效應(yīng)會使光纖的長度、折射率等關(guān)鍵參數(shù)產(chǎn)生波動。尤其在長距離的光纖傳輸線路中,這些看似微乎其微的變化隨著傳輸距離的增加不斷累積,可能造成光信號的傳輸時(shí)延不穩(wěn)定,進(jìn)而引發(fā)數(shù)據(jù)傳輸錯誤、丟包等嚴(yán)重問題。這對于依賴高速、穩(wěn)定數(shù)據(jù)傳輸?shù)臉I(yè)務(wù),像高清視頻流暢播放、大型云服務(wù)數(shù)據(jù)的高效交互等,都將產(chǎn)生極大的阻礙。而當(dāng)濕度出現(xiàn)波動時(shí),空氣中的水汽極易附著在光纖表面,大幅增加光的散射損耗,致使光信號的傳輸效率降低,同樣嚴(yán)重影響通信質(zhì)量 。在芯片、半導(dǎo)體、精密加工、精密測量等領(lǐng)域,利用其精密溫濕度控制,保證生產(chǎn)環(huán)境的穩(wěn)定。
在集成電路制造這一高精密的領(lǐng)域中,芯片生產(chǎn)線上的光刻工序堪稱關(guān)鍵的環(huán)節(jié),其對溫濕度的要求近乎達(dá)到苛刻的程度。即便是極其微小的 1℃溫度波動,都可能引發(fā)嚴(yán)重后果。光刻機(jī)內(nèi)部的光學(xué)鏡片會因熱脹冷縮,致使光路發(fā)生細(xì)微偏移。這看似毫厘之差,卻足以讓光刻圖案精度嚴(yán)重受損,使得芯片上的電路布線出現(xiàn)偏差,甚至短路等問題,進(jìn)而大幅拉低芯片的良品率。而在濕度方面,一旦濕度突破 50% 的警戒線,光刻膠便極易受潮,其感光度發(fā)生改變,導(dǎo)致曝光效果大打折扣,無疑同樣對芯片質(zhì)量產(chǎn)生不可忽視的負(fù)面影響。設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定性高,可連續(xù)穩(wěn)定工作時(shí)間大于 144h。光刻機(jī)溫濕度預(yù)算
為航天零部件檢測打造的專屬環(huán)境,滿足其對溫濕度、潔凈度近乎苛刻的要求。制藥溫濕度控制箱
超精密激光外徑測量儀,在精密制造領(lǐng)域里,是線纜、管材等產(chǎn)品外徑測量環(huán)節(jié)中不可或缺的存在。其測量精度直接關(guān)乎產(chǎn)品質(zhì)量。然而,環(huán)境因素對它的干擾不容小覷。一旦溫度產(chǎn)生波動,儀器的光學(xué)系統(tǒng)便會因熱脹冷縮發(fā)生熱變形,致使原本激光聚焦出現(xiàn)偏差,光斑尺寸也隨之改變,如此一來,根本無法精確測量產(chǎn)品外徑。像在高精度線纜生產(chǎn)中,哪怕只是極其微小的溫度變化,都可能致使產(chǎn)品外徑公差超出標(biāo)準(zhǔn)范圍。而在高濕度環(huán)境下,水汽對激光的散射作用大幅增強(qiáng),返回的激光信號強(qiáng)度減弱,噪聲卻不斷增大,測量系統(tǒng)難以準(zhǔn)確識別產(chǎn)品邊界,造成測量數(shù)據(jù)的重復(fù)性和準(zhǔn)確性都嚴(yán)重變差 。制藥溫濕度控制箱