掘進(jìn)機(jī)常見(jiàn)故障分析及處理方法
懸臂式掘進(jìn)機(jī)與全斷面掘進(jìn)機(jī)的區(qū)別
正確使用采煤機(jī)截齒及其重要性
掘進(jìn)機(jī)截齒:礦山開(kāi)采的鋒銳利器
掘進(jìn)機(jī)的多樣類型與廣闊市場(chǎng)前景
怎么樣對(duì)掘進(jìn)機(jī)截割減速機(jī)進(jìn)行潤(rùn)滑呢?
哪些因素會(huì)影響懸臂式掘進(jìn)機(jī)配件的性能?
懸臂式掘進(jìn)機(jī)常見(jiàn)型號(hào)
懸臂式掘進(jìn)機(jī)的相關(guān)介紹及發(fā)展現(xiàn)狀
掘錨機(jī)配件的檢修及維護(hù)
一、ICT治具結(jié)構(gòu)組成:1、針板:用于固定測(cè)試針。針頭是鍍金的。2、載板:用于放置保護(hù)被測(cè)試PCBA。3、天板:固定于ICT機(jī)臺(tái)氣缸上壓合治具和被測(cè)試PCBA。二、ICT治具關(guān)鍵控制點(diǎn):1、板厚、高度、定位孔高度直徑、探針位置、銑讓位、擋柱等都需符合設(shè)計(jì)規(guī)范,有計(jì)數(shù)器用來(lái)計(jì)算探針測(cè)試次數(shù)。2、探針的使用規(guī)定的型號(hào)與廠商;上下載板必須用ESD的電木板材質(zhì)(ESD=107~109Ω,使用SL-030靜電測(cè)量表量測(cè));各種繞線需按規(guī)定用線,通常使用AWG18-AWG22號(hào)線,必須加熱縮套管,繞線要分散,不能捆綁;testjet感應(yīng)板要小于零件本體表面面積,但不能小于零件本體的2/3.具體標(biāo)準(zhǔn)以實(shí)際零件為準(zhǔn),以測(cè)量值大為佳3、ICT的測(cè)試內(nèi)容需覆蓋85%以上的電路。ICT測(cè)試治具三、評(píng)價(jià)ICT治具參數(shù)要求:1、植針率=植針網(wǎng)絡(luò)數(shù)/PCBA總網(wǎng)絡(luò)數(shù)≥85%2、覆蓋率=可測(cè)試零件數(shù)/總零件個(gè)數(shù)≥85%四、ICT治具驗(yàn)收審核標(biāo)準(zhǔn):1、外型尺寸是否和要求一致,即長(zhǎng),寬,高(行程)。2、天板同底版結(jié)合是否穩(wěn)定。PCBA貼片線需要ICT和FCT測(cè)試系統(tǒng)來(lái)滿足100%測(cè)試覆蓋率和提高產(chǎn)品可靠性。徐州ICT測(cè)試機(jī)臺(tái)有哪些品牌
IC燒錄 啟動(dòng)電平: 正脈沖:(脈沖時(shí)為低電平,其他時(shí)間為高點(diǎn)平(3.3v)因?yàn)檩敵鲂酒?反向2803) 負(fù)脈沖:(脈沖時(shí)為高電平,其他時(shí)間為低電平(0.7v )) 2 燒錄 結(jié)果電平:(一般用的是燒錄Ok信號(hào)) 高電平:外部提供一個(gè)高電平時(shí),判斷為收到燒入完成正常信號(hào)。 低電平:外部提供一個(gè)低電平時(shí),判斷為收到燒入完成正常信號(hào)。 上升沿:外部提供一個(gè)上升沿時(shí),判斷為收到燒入完成正常信號(hào)。 下降沿:外部提供一個(gè)下降沿時(shí),判斷為收到燒入完成正常信號(hào)。 IC燒錄啟動(dòng)脈沖寬度:?jiǎn)挝皇呛撩?,正常?lái)說(shuō)是提供50ms寬度,使用 者可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行自行判斷調(diào)整, 2 IC燒入結(jié)果讀取延時(shí);單位是毫秒,主要作用是屏蔽程序IC燒錄上電的 那部分時(shí)間不穩(wěn)定性干擾,或者上次燒入的結(jié)果對(duì)這次的影響。使用 者可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行自行判斷調(diào)整,延時(shí)時(shí)間不能長(zhǎng)于燒錄時(shí)間, 不然判斷不到結(jié)果。 電動(dòng)汽車ICT儀器廠家全自動(dòng)ICT和FCT測(cè)試機(jī)測(cè)試過(guò)程中由下料送板機(jī)開(kāi)始收料。
ICT測(cè)試?yán)碚撟鲆恍┖?jiǎn)單介紹1基本測(cè)試方法利用運(yùn)算放大器進(jìn)行測(cè)試。由“A”點(diǎn)“虛地”的概念有:∵Ix=Iref∴Rx=Vs/V0*RrefVs、Rref分別為激勵(lì)信號(hào)源、儀器計(jì)算電阻。測(cè)量出V0,則Rx可求出。若待測(cè)Rx為電容、電感,則Vs交流信號(hào)源,Rx為阻抗形式,同樣可求出C或L。隔離(Guarding)上面的測(cè)試方法是針對(duì)的器件,而實(shí)際電路上器件相互連接、相互影響,使Ix笽ref,測(cè)試時(shí)必須加以隔離(Guarding)。隔離是在線測(cè)試的基本技術(shù)。在上電路中,因R1、R2的連接分流,使Ix笽ref,Rx=Vs/V0*Rref等式不成立。
ICT流程直通模式: ⑴.產(chǎn)品經(jīng)過(guò)波峰焊,流到皮帶線,等待接駁臺(tái)要板; ⑵.接駁臺(tái)通過(guò)產(chǎn)品檢測(cè)光電判斷是否有產(chǎn)品,若無(wú)產(chǎn)品,則向前站皮帶線要板,產(chǎn)品流入接駁臺(tái),等待后站測(cè)試機(jī)要板信號(hào),然后阻擋氣缸下降,產(chǎn)品流入測(cè)試機(jī),阻擋氣缸上升。 ⑶. 產(chǎn)品流入測(cè)試機(jī),到達(dá)測(cè)試位時(shí)減速至停止到位,軌道氣缸下降,測(cè)試氣缸下降,進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試完成之后記憶當(dāng)前產(chǎn)品測(cè)試的Pass/Fail結(jié)果,測(cè)試氣缸上升,軌道氣缸上升,阻擋氣缸打開(kāi),產(chǎn)品流出至分選機(jī),并告知當(dāng)前產(chǎn)品測(cè)試結(jié)果; ⑷. 產(chǎn)品流入分選機(jī),判斷測(cè)試結(jié)果 若是Pass產(chǎn)品,則流出至后段設(shè)備,生產(chǎn)完成; 若是Fail產(chǎn)品,則分選平臺(tái)上升,當(dāng)分選平臺(tái)滿料時(shí),則發(fā)出聲光報(bào)警,提示人員手動(dòng)操作。 接駁臺(tái)整機(jī)技術(shù)特點(diǎn):運(yùn)輸系統(tǒng),保證運(yùn)輸時(shí)的穩(wěn)定性及安全性。
此技術(shù)夾具需要傳感器和其他硬件,測(cè)試成本稍高。3Boundary-Scan邊界掃描技術(shù)ICT測(cè)試儀要求每一個(gè)電路節(jié)點(diǎn)至少有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。但隨著器件集成度增高,功能越來(lái)越強(qiáng),封裝越來(lái)越小,SMT元件的增多,多層板的使用,PCB板元件密度的增大,要在每一個(gè)節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難,為增加測(cè)試點(diǎn),使制造費(fèi)用增高;同時(shí)為開(kāi)發(fā)一個(gè)功能強(qiáng)大器件的測(cè)試庫(kù)變得困難,開(kāi)發(fā)周期延長(zhǎng)。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞,Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路,元件插錯(cuò)、插反、漏裝,管腳翹起、虛焊,PCB短路、斷線等故障。為此,聯(lián)合測(cè)試組織(JTAG)頒布了。具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。ICT基本只進(jìn)行靜態(tài)的測(cè)試,優(yōu)點(diǎn)是不需制作夾具,程序開(kāi)發(fā)時(shí)間短。全自動(dòng)ICTFCT整體測(cè)試線產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):占地小---有效節(jié)省場(chǎng)地空間,縮減線體占地面積。寧波ICT測(cè)試儀品牌
IN Line ICT+雙層FCT自動(dòng)測(cè)試線功能特點(diǎn):無(wú)人機(jī)操作系統(tǒng)。徐州ICT測(cè)試機(jī)臺(tái)有哪些品牌
邊界掃描技術(shù)解決了無(wú)法增加測(cè)試點(diǎn)的困難,更重要的是它提供了一種簡(jiǎn)單而且快捷地產(chǎn)生測(cè)試圖形的方法,利用軟件工具可以將BSDL文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試圖形,如Teradyne的Victory,GenRad的BasicScan和ScanPathFinder。解決編寫復(fù)雜測(cè)試庫(kù)的困難。用TAP訪問(wèn)口還可實(shí)現(xiàn)對(duì)如CPLD、FPGA、FlashMemroy的在線編程(In-SystemProgram或OnBoardProgram)。4Nand-TreeNand-Tree是Inter公司發(fā)明的一種可測(cè)性設(shè)計(jì)技術(shù)。在我司產(chǎn)品中,現(xiàn)只發(fā)現(xiàn)82371芯片內(nèi)此設(shè)計(jì)。描述其設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的有一一般程*.TR2的文件,我們可將此文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試向量。ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定,與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。徐州ICT測(cè)試機(jī)臺(tái)有哪些品牌