對(duì)于已經(jīng)吹響轉(zhuǎn)型號(hào)角的固網(wǎng)運(yùn)營商來說，目前更多地把ICT作為一種向客戶提供的服務(wù)，這種服務(wù)是IT(信息業(yè))與CT(通信業(yè))兩種服務(wù)的結(jié)合和交融，通信業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、互聯(lián)網(wǎng)、傳媒業(yè)都將融合在ICT的范圍內(nèi)。固網(wǎng)運(yùn)營商如中國移動(dòng)、中國電信和中國聯(lián)通等為客戶提供的一站式ICT整體服務(wù)中，包含集成服務(wù)、咨詢服務(wù)、外包服務(wù)、專業(yè)服務(wù)、知識(shí)服務(wù)以及軟件開發(fā)服務(wù)等。事實(shí)上，ICT服務(wù)不僅為企業(yè)客戶提供線路搭建、網(wǎng)絡(luò)構(gòu)架的解決方案，還減輕了企業(yè)在建立應(yīng)用、系統(tǒng)升級(jí)、運(yùn)維、安全等方面的負(fù)擔(dān)，節(jié)約了企業(yè)運(yùn)營成本，因此受到了企業(yè)用戶的歡迎。目前，IT與CT的交叉主要體現(xiàn)在IT企業(yè)對(duì)運(yùn)營商的支撐系統(tǒng)的建設(shè)，值得一提的就是BOSS(Business Operating Support System)，移動(dòng)的稱為BOSS，電信和聯(lián)通的一般稱為BSS。ICT+FCT測(cè)試線，實(shí)現(xiàn)ICT&FCT測(cè)試全自動(dòng)化。金華大棣ICT
ICT測(cè)試儀開/短路測(cè)試程序的調(diào)試 生成開/短路測(cè)試數(shù)據(jù)文件后，為穩(wěn)定及保險(xiǎn)起見，請(qǐng)?jiān)陂_/短路自學(xué)習(xí)完畢后選擇Test對(duì)本開/短路測(cè)試程序進(jìn)行測(cè)試。 測(cè)試時(shí)機(jī)器會(huì)先作開路測(cè)試（Open Test）,它是在同一鏈上，針號(hào)與針號(hào)作開路測(cè)試；后作短路測(cè)試（Short Test），它是在不同鏈上針號(hào)與針號(hào)作短路測(cè)試。 在開路測(cè)試時(shí)，針號(hào)與針號(hào)的電阻若少于開路門檻值（Open Res），則當(dāng)作短路,此時(shí)開路測(cè)試Pass；在短路測(cè)試時(shí)，針號(hào)與針號(hào)的電阻若大于短路門檻值（Short Res），則當(dāng)作開路,此時(shí)短路測(cè)試Pass。 測(cè)試后若程序穩(wěn)定，則屏幕左下角推出“PASS”，請(qǐng)下壓針床壓頭來回幾次及測(cè)試幾次，以觀察其是否穩(wěn)定，若出現(xiàn)“FAIL”，則作以下處理： A、 徹底檢查顯示出的測(cè)試針（針號(hào)）是否接觸不良 B、在保證測(cè)試針接觸良好的情況下，若出現(xiàn)測(cè)試時(shí)好時(shí)壞，則查清是否受電感線圈的影響，如果是，則跳過顯示出的針號(hào)，操作方法：確認(rèn)光標(biāo)在要跳過的針號(hào)項(xiàng)時(shí)選擇O/S Edit/Mask，這時(shí)針號(hào)項(xiàng)會(huì)變成紅色，表明已跳過這一針號(hào)。 鎮(zhèn)江ICT測(cè)試儀價(jià)格在線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)都是由“信號(hào)采集-信號(hào)調(diào)理-數(shù)據(jù)處理-人機(jī)接口-報(bào)表輸出”組成。
離線型ict測(cè)試儀系統(tǒng)是為所有類型電路板的公開的測(cè)試平臺(tái)。這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)為ICT，IC燒錄，邊界掃描以及功能測(cè)試提供平臺(tái)。 系統(tǒng)可以在不上電的條件下測(cè)試整塊電路板和個(gè)別元器件。它使用直流或復(fù)雜阻抗的測(cè)量結(jié)合多點(diǎn)隔離等先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，能找到大多數(shù)的問題，如短路、開路或者錯(cuò)件等。能在不上電的安全模式下找到主要的錯(cuò)誤，又能給出具體的故障診斷信息，提高了維修的效率。 系統(tǒng)是為所有類型電路板的公開的測(cè)試平臺(tái)。這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)為ICT，IC燒錄，邊界掃描以及功能測(cè)試提供平臺(tái)。
ICT在線燒錄工作原理 設(shè)置結(jié)果信號(hào)采樣時(shí)間，設(shè)計(jì)結(jié)果信號(hào)啟動(dòng)延時(shí)時(shí)間。 在ICT+IC燒錄開始的時(shí)候，可以提供一個(gè)長度可以設(shè)定的方 波，（高電平脈沖，低電平脈沖）。 開始信號(hào)提供后，延時(shí)結(jié)果信號(hào)啟動(dòng)延時(shí)時(shí)間后，啟動(dòng)讀 結(jié)果信號(hào)。 在結(jié)果信號(hào)的采樣時(shí)間內(nèi)，如果結(jié)果信號(hào)讀取響應(yīng)的與脫 機(jī)IC燒錄器IC燒錄結(jié)果相對(duì)應(yīng)的結(jié)果，（高低電平信號(hào)， 上升沿下降沿信號(hào)）表示IC燒錄成功，在結(jié)果信號(hào)的采樣 時(shí)間內(nèi)沒讀取相應(yīng)的結(jié)果信號(hào)，表示IC燒錄失敗。 在界面中反饋為相應(yīng)的是IC燒錄失敗成功界面。 在線ICT+FCT綜合自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)能夠與產(chǎn)線其他設(shè)備無縫對(duì)接。
DeltaScan技術(shù)不需附加夾具硬件，成為首推技術(shù)。FrameScan電容藕合測(cè)試FrameScan利用電容藕合探測(cè)管腳的脫開。每個(gè)器件上面有一個(gè)電容性探頭，在某個(gè)管腳激勵(lì)信號(hào)，電容性探頭拾取信號(hào)。如圖所示：1夾具上的多路開關(guān)板選擇某個(gè)器件上的電容性探頭。2測(cè)試儀內(nèi)的模擬測(cè)試板（ATB）依次向每個(gè)被測(cè)管腳發(fā)出交流信號(hào)。3電容性探頭采集并緩沖被測(cè)管腳上的交流信號(hào)。4ATB測(cè)量電容性探頭拾取的交流信號(hào)。如果某個(gè)管腳與電路板的連接是正確的，就會(huì)測(cè)到信號(hào)；如果該管腳脫開，則不會(huì)有信號(hào)。GenRad類式的技術(shù)稱OpenXpress。原理類似。Inline系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了：測(cè)試速度快，保證產(chǎn)能。上海ICT測(cè)試儀廠家
完成ICT測(cè)試步驟后，轉(zhuǎn)到產(chǎn)品通電狀態(tài)，測(cè)試產(chǎn)品的各項(xiàng)正常工作時(shí)的參數(shù)。金華大棣ICT
ICT測(cè)試對(duì)PCB的設(shè)計(jì)要求二） 1. 被測(cè)點(diǎn)應(yīng)離其附近零件(位于同一面者)至少0.100"，如為高于 3m/m零件，則應(yīng)至少間距0.120"。 2. 被測(cè)點(diǎn)應(yīng)平均分布于PCB表面，避免局部密度過高。 3. 被測(cè)點(diǎn)直徑較好能不小于0.035"(0.9mm)，如在上針板，則較好不小于0.040"(1.00mm)， 形狀以正方形較佳(可測(cè)面積較圓形增加21%)。小于0.030"之被測(cè)點(diǎn)需額外加工，以導(dǎo)正目標(biāo)。 4. 被測(cè)點(diǎn)的Pad及Via不應(yīng)有防焊漆(Solder Mask)。 5. 被測(cè)點(diǎn)應(yīng)離板邊或折邊至少0.100"。 6. PCB厚度至少要0.062"(1.35mm)，厚度少于此值之PCB容易板彎，需特殊處理。 7. 定位孔(Tooling Hole)直徑較好為0.125"(.3.175mm)。其公差應(yīng)在"+0.002"/-0.001"。其位置應(yīng)在PCB之對(duì)角。 8. 被測(cè)點(diǎn)至定位孔位置公差應(yīng)為+/-0.002"。 9. 避免將被測(cè)點(diǎn)置于SMT零件上，非但可測(cè)面積太小，不可靠，而且容易傷害零件。 10. 避免使用過長零件腳(大于0.170"(4.3mm))或過大的孔徑(大于1.5mm)為被測(cè)點(diǎn)，需特殊處理。 金華大棣ICT