經(jīng)M2反射的光三次穿過G2分光板,而經(jīng)M1反射的光通過G2分光板只一次。G1補(bǔ)償板的設(shè)置是為了消除這種不對稱。在使用單色光源時(shí),可以利用空氣光程來補(bǔ)償,不一定要補(bǔ)償板;但在復(fù)色光源時(shí),由于玻璃和空氣的色散不同,補(bǔ)償板則是不可或缺的。如果要觀察白光的干涉條紋,臂基本上完全對稱,也就是兩相干光的光程差要非常小,這時(shí)候可以看到彩色條紋;假若M1或M2有略微的傾斜,就可以得到等厚的交線處(d=0)的干涉條紋為中心對稱的彩色直條紋,**條紋由于半波損失為暗條紋。邁克爾遜和愛德華·威廉姆斯·莫雷使用這種干涉儀于1887年進(jìn)行了***的邁克耳遜-莫雷實(shí)驗(yàn),并證實(shí)了以太的不存在。廣泛應(yīng)用:廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、機(jī)械工程、光學(xué)測量、精密制造等領(lǐng)域。張家港耐用雙頻激光干涉儀量大從優(yōu)
激光干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。單頻激光干涉儀從激光器發(fā)出的光束,經(jīng)擴(kuò)束準(zhǔn)直后由分光鏡分為兩路,并分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產(chǎn)生干涉條紋。當(dāng)可動反射鏡移動時(shí),干涉條紋的光強(qiáng)變化由接受器中的光電轉(zhuǎn)換元件和電子線路等轉(zhuǎn)換為電脈沖信號,經(jīng)整形、放大后輸入可逆計(jì)數(shù)器計(jì)算出總脈沖數(shù),再由電子計(jì)算機(jī)按計(jì)算式[356-11]式中λ為 激光波長(N 為電脈沖總數(shù)),算出可動反射鏡的位移量L。使用單頻激光干涉儀時(shí),要求周圍大氣處于穩(wěn)定狀態(tài),各種空氣湍流都會引起直流電平變化而影響測量結(jié)果。江蘇本地雙頻激光干涉儀設(shè)備廠家接受信號為交流信號,前置放大器為高倍數(shù)的交流放大器,不用直流放大,故沒有零點(diǎn)漂移等問題。
但是這種單頻的激光儀并非完美,它的一個(gè)根本弱點(diǎn)就是受環(huán)境影響嚴(yán)重,在測試環(huán)境惡劣,測量距離較長時(shí),這一缺點(diǎn)十分突出。其原因在于它是一種直流測量系統(tǒng),必然具有直流光平和電平零漂的弊端。激光干涉儀可動反光鏡移動時(shí),光電接收器會輸出信號,如果信號超過了計(jì)數(shù)器的觸發(fā)電平則就會被記錄下來,而如果激光束強(qiáng)度發(fā)生變化,就有可能使光電信號低于計(jì)數(shù)器的觸發(fā)電平而使計(jì)數(shù)器停止計(jì)數(shù),使激光器強(qiáng)度或干涉信號強(qiáng)度變化的主要原因是空氣湍流,機(jī)床油霧,切削屑對光束的影響,結(jié)果光束發(fā)生偏移或波面扭曲。
雙頻激光干涉儀是一種利用兩種不同頻率的激光光源進(jìn)行干涉測量的儀器。它通常用于高精度的位移、振動、形變等物理量的測量。雙頻激光干涉儀的工作原理基于光的干涉現(xiàn)象,即當(dāng)兩束相干光相遇時(shí),會產(chǎn)生干涉條紋,條紋的變化可以用來精確測量物體的位移或其他物理量。主要特點(diǎn)和應(yīng)用:高精度:雙頻激光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級別的測量精度,適用于微小位移的檢測??垢蓴_能力強(qiáng):由于使用了兩種不同頻率的激光,干涉儀對環(huán)境噪聲和振動的抗干擾能力較強(qiáng)。高精度:雙頻激光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級別的測量精度,適用于微小位移的檢測。
環(huán)境適應(yīng)力強(qiáng):雙頻激光干涉儀采用交流放大器對干涉信號進(jìn)行放大,即使光強(qiáng)衰減90%,仍然可以得到有效的干涉信號。因此,它既可在恒溫、恒濕、防震的計(jì)量室內(nèi)使用,也可在普通車間內(nèi)為大型機(jī)床的刻度進(jìn)行標(biāo)定。實(shí)時(shí)動態(tài)測速高:現(xiàn)代的雙頻激光干涉儀測速普遍達(dá)到1m/s,有的甚至達(dá)到十幾m/s,適于高速動態(tài)測量。三、應(yīng)用領(lǐng)域幾何量精密測量:用于長度、角度、直線度、平行度、平面度、垂直度等幾何量的高精度測量。同時(shí),既支持幾十米大量程的檢測(如大型機(jī)械),也可對手表零件等微米級運(yùn)動進(jìn)行測量。雙頻激光干涉儀可以在恒溫,恒濕,防震的計(jì)量室內(nèi)檢定量塊,量桿,刻尺和坐標(biāo)測量機(jī)等。張家港耐用雙頻激光干涉儀量大從優(yōu)
而雙頻激光干涉儀正好克服了這一弱點(diǎn),它是在單頻激光干涉儀的基礎(chǔ)上發(fā)展的一種外差式干涉儀。張家港耐用雙頻激光干涉儀量大從優(yōu)
邁克爾遜干涉儀,是1881年美國物理學(xué)家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設(shè)計(jì)制造出來的精密光學(xué)儀器。它是利用分振幅法產(chǎn)生雙光束以實(shí)現(xiàn)干涉。通過調(diào)整該干涉儀,可以產(chǎn)生等厚干涉條紋,也可以產(chǎn)生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計(jì)量技術(shù)中,如在光譜線精細(xì)結(jié)構(gòu)的研究和用光波標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)米尺等實(shí)驗(yàn)中都有著重要的應(yīng)用。利用該儀器的原理,研制出多種**干涉儀。 [1]張家港耐用雙頻激光干涉儀量大從優(yōu)
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