本公司是專業(yè)提供FLASH晶圓（晶粒）測試、分類、各類IC成品測試以及其它與測試相關(guān)的加工服務(wù)型工廠。我們擁有專業(yè)的晶圓測試設(shè)備，及專業(yè)的工程技術(shù)人員,可隨時(shí)為您提供質(zhì)量的產(chǎn)品服務(wù)。在晶圓制造完成之后，是一步非常重要的測試。這步測試是晶圓生產(chǎn)過程的成績單。在測試過程中，每一個(gè)芯片的電性能力和電路機(jī)能都被檢測到。晶圓測試也就是芯片測試（diesort）或晶圓電測（wafersort）。在測試時(shí)，晶圓被固定在真空吸力的卡盤上，并與很薄的探針電測器對準(zhǔn)，同時(shí)探針與芯片的每一個(gè)焊接墊相接觸,電測器在電源的驅(qū)動(dòng)下測試電路并記錄下結(jié)果。測試的數(shù)量、順序和類型由計(jì)算機(jī)程序控制。測試機(jī)是自動(dòng)化的，所以在探針電測器與前面的片晶圓對準(zhǔn)后（人工對準(zhǔn)或使用自動(dòng)視覺系統(tǒng)）的測試工作無須操作員的輔助。測試是為了以下三個(gè)目標(biāo)。前面的，在晶圓送到封裝工廠之前，鑒別出合格的芯片。第二，器件/電路的電性參數(shù)進(jìn)行特性評估。工程師們需要監(jiān)測參數(shù)的分布狀態(tài)來保持工藝的質(zhì)量水平。第三，芯片的合格品與不良品的核算會(huì)給晶圓生產(chǎn)人員提供較全業(yè)績的反饋。合格芯片與不良品在晶圓上的位置在計(jì)算機(jī)上以晶圓圖的形式記錄下來。從前的舊式技術(shù)在不良品芯片上涂下一墨點(diǎn)。 矽利康測試探針卡制造。湖北蘇州矽利康測試探針卡廠家
產(chǎn)品可用性EVG目前正在接受該系統(tǒng)的訂單，產(chǎn)品演示現(xiàn)已在位于公司總部的EVG的NILPhotonics®能力中心提供。有關(guān)EVG7300自動(dòng)化SmartNIL納米壓印和晶圓級光學(xué)系統(tǒng)的更多信息，請?jiān)L問。3、EVG參加SPIEAR/VR/MR2022EVG在SPIEAR/VR/MR會(huì)議和展覽上就NIL在制造增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)波導(dǎo)中的好處進(jìn)行受邀演講，該會(huì)議與在舊金山Moscone中心舉行的SPIEPhotonicsWest共同舉辦1月22日至27日。EVG也是此次活動(dòng)的參展商，將展示其用于光學(xué)和光子器件及應(yīng)用的先進(jìn)制造解決方案。4、關(guān)于EV集團(tuán)(EVG)EVGroup(EVG)是半導(dǎo)體、微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)、化合物半導(dǎo)體、功率器件和納米技術(shù)器件制造設(shè)備和工藝解決方案的領(lǐng)仙供應(yīng)商。主要產(chǎn)品包括晶圓鍵合、薄晶圓加工、光刻/納米壓印光刻(NIL)和計(jì)量設(shè)備，以及光刻膠涂布機(jī)、清潔劑和檢測系統(tǒng)。EVGroup成立于1980年，為遍布全球的全球客戶和合作伙伴網(wǎng)絡(luò)提供服務(wù)和支持。有關(guān)EVG的更多信息，請?jiān)L問我們的官網(wǎng)。 蘇州專業(yè)提供測試探針卡哪家好專業(yè)提供測試探針卡生產(chǎn)廠家。
什么是probecard？probecard翻譯過來其實(shí)就是探針卡。探針卡是一種測試接口,主要對裸芯進(jìn)行測試,通過連接測試機(jī)和芯片,通過傳輸信號(hào),對芯片參數(shù)進(jìn)行測試。目前我國探針卡市場發(fā)展迅速，產(chǎn)品產(chǎn)出持續(xù)擴(kuò)張，國家產(chǎn)業(yè)政策鼓勵(lì)探針卡產(chǎn)業(yè)向高技術(shù)產(chǎn)品方向發(fā)展，國內(nèi)企業(yè)新增投資項(xiàng)目投資逐漸增多。投資者對探針卡市場的關(guān)注越來越密切，這使得探針卡市場越來越受到各方的關(guān)注。但是目前探針卡的關(guān)鍵技術(shù)部分是國外廠商壟斷，如何提高其自主創(chuàng)新力度，如何消化吸收再創(chuàng)造，讓研究成果真正的商業(yè)化還是有一段路要做的。就目前來說，國內(nèi)對探針卡的研究較有貢獻(xiàn)的人應(yīng)該屬于“呂軍”了，畢業(yè)于天津師范大學(xué).探針卡專家，他曾發(fā)表20多份關(guān)于探針卡領(lǐng)域的學(xué)術(shù)論文,尤其在小pitch,lcd,memory的探針卡研發(fā)方面有突出貢獻(xiàn).曾經(jīng)用微積分推算出力學(xué)對探針測試的影響.(其中在芯片pad上的壓力和劃痕等).前面的用力學(xué)和微積分的證明懸臂式探針卡的彎針角度為。
在半導(dǎo)體的整個(gè)制造流程上,可簡單的分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制造、晶圓測試以及晶圓封裝。晶圓測試又可區(qū)分為晶圓針測與晶粒封裝后的后面的測試(FinalTesting),而兩個(gè)測試的差別是晶圓測試是是針對芯片上的晶粒進(jìn)行電性以及功能方面的測試,以確保在進(jìn)入后段封裝前,可以及早的將那些功能不良的芯片或晶粒加以過濾,以避免由于不良率的偏高因而增加后續(xù)的封裝測試成本,而晶粒封裝后的功能測試主要?jiǎng)t是將那些半導(dǎo)體后段封裝過程中的不良品作后面的的把關(guān),以確保出廠后產(chǎn)品的品質(zhì)能夠達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。然而晶圓測試的主要功能,除了可將不良的晶粒盡早篩選出來,以節(jié)省額外的后段封裝的制造成本外,對於前段制程來說,它其實(shí)還有一項(xiàng)很重要的功能,也就是針對新產(chǎn)品良率的分析以及前段制程之間的異常問題分析,因?yàn)橥ǔＴ谇岸涡轮瞥涕_發(fā)階段或者是在產(chǎn)品程序修改后,產(chǎn)品可能會(huì)因此而發(fā)生良率下滑的情況,為了驗(yàn)證新制程的開發(fā)以及讓產(chǎn)品能夠盡快的上市,這個(gè)時(shí)候就需要晶圓測試部門在有限的時(shí)間內(nèi)搭配著工程實(shí)驗(yàn)分析制程間的差異并在只是短的時(shí)間內(nèi)找到真正的根本原因來解決問題,避免讓客戶的新產(chǎn)品因?yàn)橹瞥涕g的問題而延后上市。晶圓探針卡是針對整個(gè)芯片上的完整晶粒。 蘇州矽利康測試探針卡研發(fā)。
、探針與針套必須使用相同廠牌相互匹配。2、探針放入針套的時(shí)候必須使用特有的平口鉗放入針套，預(yù)防針管變形使針管內(nèi)的彈簧于管壁力變大，摩擦從而增大，則壓力就變大，造成探針壽命變短和對所測試產(chǎn)品損壞。3、探針的針管頂端于針套的頂端必須是保持垂直（90°）針管低入針套，從而避免在工作中探針的探針行程避免過大，影響探針壽命和測試效果。4、探針在放入測試架前必須保持探針干凈無其他雜物和臟東西，以免造成在測試過程中頭部發(fā)黑，阻礙探針的正常工作，影響測試效果。5、探針測試次數(shù)達(dá)5萬次時(shí)，建議使用（NSF認(rèn)真）探針特有的清潔劑。6、針頭與針管的行程在針頭未工作的情況下的總長度1/2時(shí)已經(jīng)達(dá)到1.8N的彈力，當(dāng)行程在大于針頭2/3時(shí)就達(dá)到2N（牛頓），逐而數(shù)之，全部壓下則超出了探針的標(biāo)準(zhǔn)工作范圍。影響探針的壽命。蘇州矽利康測試探針卡收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)。蘇州專業(yè)提供測試探針卡哪家好
工業(yè)園區(qū)測試探針卡。湖北蘇州矽利康測試探針卡廠家
鍵合焊區(qū)的損壞與共面性有關(guān)，共面性差將導(dǎo)致探針卡的過度深入更加嚴(yán)重，會(huì)產(chǎn)生更大的力并在器件鍵合焊區(qū)位置造成更大的劃痕。共面性由兩部分決定：彈簧探針的自然共面性（受與晶圓距離的影響）以及探針卡和客戶系統(tǒng)的相關(guān)性。傾斜造成斜率X、距離Y。當(dāng)測試300mm晶圓時(shí)，傾斜程度不變但距離卻加倍了，就會(huì)產(chǎn)生共面性問題。由于傾斜造成探針卡部分更靠近晶圓，而隨著每個(gè)彈簧向系統(tǒng)中引入了更多的力，造成的過量行程將更大，產(chǎn)生更大的劃痕，與此同時(shí)部分由于傾斜而遠(yuǎn)離的部分還會(huì)有接觸不良的問題，留下的劃痕也幾乎不可見?？紤]到大面積的300mm晶圓，以及需要進(jìn)行可重復(fù)的接觸測試，將探針卡向系統(tǒng)傾斜便相當(dāng)有吸引力。自動(dòng)調(diào)節(jié)的共面系統(tǒng)降低了較大力造成損壞的可能，并允許測試設(shè)備與不同系統(tǒng)之間的兼容。根據(jù)測試探針制作流程不同可分成傳統(tǒng)機(jī)械加工與微機(jī)電制造工藝兩部分，后者具有更大優(yōu)勢，可以改善測試探針微細(xì)化、共面度、精度等問題。目前市售垂直式探針卡，均無法達(dá)到偵測每根測試探針力量的功能，測試探針垂直式排列，無法由上而下觀測測試探針接觸情形，改善的方法可借助探針力量回饋或改良影像辨識(shí)系統(tǒng)，以確保所有探針的接觸狀況都是理想的。
湖北蘇州矽利康測試探針卡廠家
蘇州矽利康測試系統(tǒng)有限公司成立于2009-10-13年，在此之前我們已在探針卡，探針，設(shè)備行業(yè)中有了多年的生產(chǎn)和服務(wù)經(jīng)驗(yàn)，深受經(jīng)銷商和客戶的好評。我們從一個(gè)名不見經(jīng)傳的小公司，慢慢的適應(yīng)了市場的需求，得到了越來越多的客戶認(rèn)可。公司業(yè)務(wù)不斷豐富，主要經(jīng)營的業(yè)務(wù)包括：{主營產(chǎn)品或行業(yè)}等多系列產(chǎn)品和服務(wù)?？梢愿鶕?jù)客戶需求開發(fā)出多種不同功能的產(chǎn)品，深受客戶的好評。公司秉承以人為本，科技創(chuàng)新，市場先導(dǎo)，和諧共贏的理念，建立一支由探針卡，探針，設(shè)備專家組成的顧問團(tuán)隊(duì)，由經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)人員組成的研發(fā)和應(yīng)用團(tuán)隊(duì)。蘇州矽利康測試系統(tǒng)有限公司依托多年來完善的服務(wù)經(jīng)驗(yàn)、良好的服務(wù)隊(duì)伍、完善的服務(wù)網(wǎng)絡(luò)和強(qiáng)大的合作伙伴，目前已經(jīng)得到儀器儀表行業(yè)內(nèi)客戶認(rèn)可和支持，并贏得長期合作伙伴的信賴。