IC測試主要分為晶圓探針卡測以及廢品測試,其主要功用為檢測出IC在制造過程中所發(fā)作的瑕疵并找出其中基本緣由,以確保產(chǎn)品良率正常及提供測試材料作為IC設(shè)計及IC制造剖析之用。晶圓探針卡測是針對整個芯片上的完好晶粒,以探針的方式扎在每顆晶粒上的焊墊停止檢測,用來挑選芯片上晶粒之良品與不良品,另外在內(nèi)存晶圓測試時,可針對可修護之晶粒予以雷射修補,以進步芯片的良率;但是,如何減少測試時間與降低測試時所發(fā)作的誤宰,則是晶圓針測中的瓶頸。在測試消費線上,昂貴的測試機臺為主要的消費設(shè)備,機臺折舊為主要的營運本錢,也就是說機臺閑置一個小時就有一個小時的折舊損失,因而,機臺的產(chǎn)能應(yīng)用率就關(guān)系到一個測試廠的營運情況。機臺若能不時地正常消費,這也表率著機臺以及產(chǎn)能應(yīng)用率的提升;因而,要是在消費過程當(dāng)中有不正常的異常情況發(fā)作時,如何能有效地剖析問題并即時找到相對應(yīng)的預(yù)防措施是十分重要的。在晶圓探針測試當(dāng)中,常會由于測試環(huán)境或是針測機臺參數(shù)的改動,使得針痕不正常偏移并打出開窗區(qū),形成測試時的誤宰,因此形成公司的損失,本文湊合晶圓針測中,由于不正常針痕偏移問題討論停止剖析與研討。 矽利康測試探針卡銷售。海南好的測試探針卡哪家好
鍵合焊區(qū)的損壞與共面性有關(guān),共面性差將導(dǎo)致探針卡的過度深入更加嚴(yán)重,會產(chǎn)生更大的力并在器件鍵合焊區(qū)位置造成更大的劃痕。共面性由兩部分決定:彈簧探針的自然共面性(受與晶圓距離的影響)以及探針卡和客戶系統(tǒng)的相關(guān)性。傾斜造成斜率X、距離Y。當(dāng)測試300mm晶圓時,傾斜程度不變但距離卻加倍了,就會產(chǎn)生共面性問題。由于傾斜造成探針卡部分更靠近晶圓,而隨著每個彈簧向系統(tǒng)中引入了更多的力,造成的過量行程將更大,產(chǎn)生更大的劃痕,與此同時部分由于傾斜而遠離的部分還會有接觸不良的問題,留下的劃痕也幾乎不可見。考慮到大面積的300mm晶圓,以及需要進行可重復(fù)的接觸測試,將探針卡向系統(tǒng)傾斜便相當(dāng)有吸引力。自動調(diào)節(jié)的共面系統(tǒng)降低了較大力造成損壞的可能,并允許測試設(shè)備與不同系統(tǒng)之間的兼容。根據(jù)測試探針制作流程不同可分成傳統(tǒng)機械加工與微機電制造工藝兩部分,后者具有更大優(yōu)勢,可以改善測試探針微細化、共面度、精度等問題。目前市售垂直式探針卡,均無法達到偵測每根測試探針力量的功能,測試探針垂直式排列,無法由上而下觀測測試探針接觸情形,改善的方法可借助探針力量回饋或改良影像辨識系統(tǒng),以確保所有探針的接觸狀況都是理想的。
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晶圓探針卡又稱探針卡,英文名稱“Probecard”。較廣的用于內(nèi)存、邏輯、消費、驅(qū)動、通訊IC等科技產(chǎn)品的晶圓測試,屬半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中相當(dāng)細微的一環(huán)。當(dāng)IC設(shè)計完成后,會下單給晶圓代工廠制作,晶圓制作完成后而尚未切割封裝之際,為確保晶圓良率及避免封裝的浪費,須執(zhí)行晶圓電性測試及分析制成測試回路,于IC封裝前,以探針針測晶粒,篩選出電性功能不良的芯片,避免不良品造成后段制造成本的浪費。隨著半導(dǎo)體制成的快速發(fā)展,傳統(tǒng)探針卡已面臨測試極限,為滿足高級密度測試,探針卡類型不斷發(fā)展,本文就介紹探針卡分類記住要設(shè)計參數(shù)。探針卡發(fā)展概括及種類:隨著晶圓技術(shù)的不斷提升,探針卡的種類不斷地更新。較早的探針卡發(fā)展于1969年。主要分為epoxyring水平式探針卡;垂直式探針卡;橋接支持構(gòu)件;SOI形式探針卡。目前晶圓測試廠較廣的用于晶圓測試的探針卡為懸臂及垂直探針卡2種類型。無錫普羅卡科技是一家專業(yè)從事測試解決方案的公司。公司擁有一批在半導(dǎo)體測試行業(yè)數(shù)十年的員工組成,從事探針卡設(shè)計,制造,研發(fā);目前主要生產(chǎn)和銷售的產(chǎn)品有晶圓測試探針卡,IC成品測試爪,以及測試系統(tǒng)解決方案。探針卡是一種測試接口,主要對裸芯進行測試,通過連接測試機和芯片。
本公司是專業(yè)提供FLASH晶圓(晶粒)測試、分類、各類IC成品測試以及其它與測試相關(guān)的加工服務(wù)型工廠。我們擁有專業(yè)的晶圓測試設(shè)備,及專業(yè)的工程技術(shù)人員,可隨時為您提供質(zhì)量的產(chǎn)品服務(wù)。在晶圓制造完成之后,是一步非常重要的測試。這步測試是晶圓生產(chǎn)過程的成績單。在測試過程中,每一個芯片的電性能力和電路機能都被檢測到。晶圓測試也就是芯片測試(diesort)或晶圓電測(wafersort)。在測試時,晶圓被固定在真空吸力的卡盤上,并與很薄的探針電測器對準(zhǔn),同時探針與芯片的每一個焊接墊相接觸,電測器在電源的驅(qū)動下測試電路并記錄下結(jié)果。測試的數(shù)量、順序和類型由計算機程序控制。測試機是自動化的,所以在探針電測器與前面的片晶圓對準(zhǔn)后(人工對準(zhǔn)或使用自動視覺系統(tǒng))的測試工作無須操作員的輔助。測試是為了以下三個目標(biāo)。前面的,在晶圓送到封裝工廠之前,鑒別出合格的芯片。第二,器件/電路的電性參數(shù)進行特性評估。工程師們需要監(jiān)測參數(shù)的分布狀態(tài)來保持工藝的質(zhì)量水平。第三,芯片的合格品與不良品的核算會給晶圓生產(chǎn)人員提供較全業(yè)績的反饋。合格芯片與不良品在晶圓上的位置在計算機上以晶圓圖的形式記錄下來。從前的舊式技術(shù)在不良品芯片上涂下一墨點。 蘇州矽利康測試探針卡公司。
探針卡保管環(huán)境要求:1.探針卡的保管環(huán)境對針卡的壽命起到很大的作用,可以延長針卡的使用周期;2.在無塵室里面提供專門的針卡保管架;3.潔凈室的溫濕度控制可根據(jù)貴公司的溫濕度標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。探針卡注意事項:1.嚴(yán)禁在濕度較大的地方存放;2.嚴(yán)禁在潔凈房以外的地方存放.3注意輕拿輕放,防止大震動改變針卡的平坦度和排列。探針卡使用中出現(xiàn)的問題和處理方法1.在較長時間不使用后容易出現(xiàn)針前列面氧化,在檢測時會出現(xiàn)探針和ITO或PAD接觸不良的現(xiàn)象。處理方法:出現(xiàn)此現(xiàn)象時請不要連續(xù)加大OD,從探針臺上取下針卡利用sanding砂紙對針前列進行輕微的打磨,避免搭理使針的平坦度和排列變形。2.如果潔凈房的濕度相對較大時,水份會侵入EPOXY的內(nèi)部而且不易散發(fā)出去,再生產(chǎn)測試前會出現(xiàn)空測短路現(xiàn)象。處理方法:出現(xiàn)此現(xiàn)象時,請吧針卡放入OVEN里面溫度設(shè)為80°時間設(shè)為15分鐘,結(jié)束后用顯微鏡檢查針尖部分是否有異物或灰塵附著,如沒有異常就可以進行作業(yè)了。 專業(yè)提供測試探針卡那些廠家。河北矽利康測試探針卡廠家
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“互聯(lián)網(wǎng)+”、大數(shù)據(jù)、020、萬物互聯(lián)網(wǎng)、P2P、分享經(jīng)濟等熱門詞匯的出現(xiàn),各個行業(yè)制定相應(yīng)的措施來順應(yīng)時代的經(jīng)濟發(fā)展,以爭取更大的發(fā)展市場。而互聯(lián)網(wǎng)的出現(xiàn)也為儀器儀表行業(yè)參與國際競爭提供了機會,有利于銷售企業(yè)實現(xiàn)技術(shù)創(chuàng)新升級。由于在重大工程、工業(yè)裝備和質(zhì)量保證、基礎(chǔ)科研中,儀器儀表都是必不可少的基礎(chǔ)技術(shù)和裝備重點,除傳統(tǒng)領(lǐng)域的需求外,新興的智能制造、離散自動化、生命科學(xué)、新能源、海洋工程、軌道交通等領(lǐng)域也會產(chǎn)生巨大需求。中國的新型工業(yè)化進程,信息化和工業(yè)化融合的進一步加深,帶動各個工業(yè)領(lǐng)域?qū)τ谔结樋?,探針,設(shè)備等產(chǎn)品的需求。儀器儀表是用以檢測、測量、觀察、計算各種物理量、物質(zhì)成分、物性參數(shù)等的器具或設(shè)備。真空檢漏儀、壓力表、測長儀、顯微鏡、乘法器等均屬于儀器儀表。近年來,得益于機械、冶金、石化行業(yè)等儀器儀表服務(wù)領(lǐng)域經(jīng)營狀況的好轉(zhuǎn),我國儀器儀表制造業(yè)發(fā)展一路向好。海南好的測試探針卡哪家好
蘇州矽利康測試系統(tǒng)有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才,集企業(yè)奇思,創(chuàng)經(jīng)濟奇跡,一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創(chuàng)新天地,繪畫新藍圖,在江蘇省等地區(qū)的儀器儀表中始終保持良好的信譽,信奉著“爭取每一個客戶不容易,失去每一個用戶很簡單”的理念,市場是企業(yè)的方向,質(zhì)量是企業(yè)的生命,在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下,全體上下,團結(jié)一致,共同進退,齊心協(xié)力把各方面工作做得更好,努力開創(chuàng)工作的新局面,公司的新高度,未來蘇州矽利康測試系統(tǒng)供應(yīng)和您一起奔向更美好的未來,即使現(xiàn)在有一點小小的成績,也不足以驕傲,過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗,才能繼續(xù)上路,讓我們一起點燃新的希望,放飛新的夢想!