CAK351-40V-220uF-K-5

對(duì)于鉭電容器使用的電路,只有兩種;有電阻保護(hù)的電路和沒(méi)有電阻保護(hù)的低阻抗電路.對(duì)于有電阻保護(hù)的電路,由于電阻會(huì)起到降壓和抑制大電流通過(guò)的效果,因此,使用電壓可以達(dá)到鉭電容器額定電壓的60%.沒(méi)有電阻保護(hù)的電路有兩種;一;前級(jí)輸入已經(jīng)經(jīng)過(guò)整流和濾波,輸出穩(wěn)定的充放電電路.在此類電路,電容器被當(dāng)作放電電源來(lái)使用,由于輸入?yún)?shù)穩(wěn)定沒(méi)有浪涌,因此,盡管是低阻抗電路,可安全使用的電壓仍然可以達(dá)到額定電壓的50%都可以保證相當(dāng)高的可靠性.二;電子整機(jī)的電源部分;電容器并聯(lián)使用在此類電路,除了要求對(duì)輸入的信號(hào)進(jìn)行濾波外,往往同時(shí)還兼有按照一定頻率和功率進(jìn)行放電的要求.因?yàn)槭请娫措娐?因此,此類電路的回路阻抗非常低,以保證電源的輸出功率密度足夠.在此類開關(guān)電源電路中[也叫DC-DC電路],在每次開機(jī)和關(guān)機(jī)的瞬間,電路中會(huì)產(chǎn)生一個(gè)持續(xù)時(shí)間小于1微秒的**度尖峰脈沖,其脈沖電壓值至少可以達(dá)到穩(wěn)定的輸入值的3倍以上,電流可以達(dá)到穩(wěn)態(tài)值的10倍以上,由于持續(xù)時(shí)間極短,因此,其單位時(shí)間內(nèi)的能量密度非常高,如果電容器的使用電壓偏高,此時(shí)實(shí)際加在產(chǎn)品上的脈沖電壓就會(huì)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)產(chǎn)品的額定值而被擊穿.因此,使用在此類電路中的鉭電容器容許的使用電壓不能超過(guò)額定值的1/3.高頻電路中的鉭電容需要選擇具有較低等效串聯(lián)電阻的型號(hào)，以減少信號(hào)損失和噪聲。CAK351-40V-220uF-K-5

參數(shù)和選型鉭電容器的漏電流和工作溫度之間的關(guān)系鉭電容器的漏電流會(huì)隨使用溫度的增加而增加,此曲線稱作漏電流溫度曲線.但不同廠家生產(chǎn)的相同規(guī)格的產(chǎn)品，常常由于生產(chǎn)工藝和使用的原材料及設(shè)備精度不同而高溫漏電流變化存在非常大的差別.高溫漏電流變化大的產(chǎn)品在高溫狀態(tài)會(huì)由于自己產(chǎn)生的熱量的不斷累積而**終出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象.高溫漏電流變化小的產(chǎn)品在高溫下長(zhǎng)時(shí)間工作，產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性將較高.因此高溫時(shí)產(chǎn)品漏電流變化率的大小可以決定鉭電容器的可靠性.對(duì)于片式鉭電容器,高溫性能高低對(duì)可靠性有決定性的影響.3.2漏電流VS電壓：漏電流的測(cè)試一般是在20℃時(shí)施加額定電壓進(jìn)行測(cè)試，在測(cè)量電路中與電容串接一1000OHM保護(hù)電阻，充電一到五分鐘(KEMET、VISHAY、AVX為兩分鐘、SANYO為五分鐘)，然后測(cè)出漏電流。GCA55F-F-25V-100uF-M鉭電容在高溫和低溫環(huán)境下都能保持穩(wěn)定的工作性能。

    固鉭因“不斷擊穿”又“不斷自愈”問(wèn)題產(chǎn)生失效。在正常使用一段時(shí)間后常發(fā)生固鉭密封口的焊錫融化，或見到炸開，焊錫亂飛到線路板上。分析原因是其工作時(shí)“擊穿”又“自愈”，在反復(fù)進(jìn)行，導(dǎo)致漏電流增加。這種短時(shí)間(ns～ms)的局部短路，又通過(guò)“自愈”后恢復(fù)工作。關(guān)于“自愈”。理想的Ta2O5介質(zhì)氧化膜是連續(xù)性的和一致性的。加上電壓或高溫下工作時(shí)，由于Ta＋離子疵點(diǎn)的存在，導(dǎo)致缺陷微區(qū)的漏電流增加，溫度可達(dá)到500℃～1000℃以上。這樣高的溫度使MnO2還原成低價(jià)的Mn3O4。有人測(cè)試出Mn3O4的電阻率要比MnO2高4～5個(gè)數(shù)量級(jí)。與Ta2O5介質(zhì)氧化膜相緊密接觸的Mn3O4就起到電隔離作用，防止Ta2O5介質(zhì)氧化膜進(jìn)一步破壞，這就是固鉭的局部“自愈了”。但是，很可能在緊接著的再一次“擊穿”的電壓會(huì)比前一次的“擊穿”電壓要低一些。在每次擊穿之后，其漏電流將有所增加，而且這種擊穿電源可能產(chǎn)生達(dá)到安培級(jí)的電流。同時(shí)電容器本身的儲(chǔ)存的能量也很大，導(dǎo)致電容器長(zhǎng)久失效。

導(dǎo)電聚合物電容以高性能，小體積的優(yōu)勢(shì)，在電子產(chǎn)品中的使用率逐漸上升，同時(shí)國(guó)內(nèi)也涌現(xiàn)了一批貼片導(dǎo)電聚合物電容廠商，提前布局占領(lǐng)市場(chǎng)。導(dǎo)電聚合物電容以極低的ESR優(yōu)勢(shì)，長(zhǎng)壽命，相比鉭電容更高的安全性，在越來(lái)越多的產(chǎn)品中得到應(yīng)用。充電頭網(wǎng)現(xiàn)在為大家介紹的是湖南湘怡中元科技推出的貼片導(dǎo)電聚合物鉭電容，導(dǎo)電聚合物鉭電容采用導(dǎo)電聚合物材料取代傳統(tǒng)鉭電容中的二氧化錳陰極，有效避免了傳統(tǒng)二氧化錳陰極鉭電容因反向電壓或過(guò)電流沖擊引發(fā)的爆燃或起火發(fā)生危險(xiǎn)。同時(shí)導(dǎo)電聚合物陰極還提供相比二氧化錳陰極更好的電氣性能，不僅安全性大為提升，還無(wú)需像傳統(tǒng)鉭電容電壓大幅降額使用，并且導(dǎo)電聚合物鉭電容的ESR和ESL都得到明顯降低，可以在更高頻率使用。由于鉭電容的陽(yáng)極氧化物具有自愈特性，所以它們比鋁電容更可靠，并能承受更高的工作電壓。

電路峰值輸出電流過(guò)大(使用電壓合適)鉭電容器在工作時(shí)可以安全承受的比較大直流電流沖擊I,與產(chǎn)品自身等效串聯(lián)電阻ESR及額定電壓UR存在如下數(shù)學(xué)關(guān)系;I=UR/1+ESR如果一只容量偏低的鉭電容器使用在峰值輸出電流很大的電路,這只產(chǎn)品就有可能由于電流過(guò)載而燒毀.這非常容易理解.3.鉭電容器等效串聯(lián)電阻ESR過(guò)高和電路中交流紋波過(guò)高導(dǎo)致的失效當(dāng)某只ESR過(guò)高的鉭電容器使用在存在過(guò)高交流紋波的濾波電路,即使是使用電壓遠(yuǎn)低于應(yīng)該的降額幅度,有時(shí)候,在開機(jī)的瞬間仍然會(huì)發(fā)生突然的擊穿現(xiàn)象;出現(xiàn)此類問(wèn)題的主要原因是電容器的ESR和電路中的交流紋波大小嚴(yán)重不匹配.電容器是極性元?dú)饧?在通過(guò)交流紋波時(shí)會(huì)發(fā)熱,而不同殼號(hào)大小的產(chǎn)品能夠維持熱平衡的容許發(fā)熱量不同.由于不同容量的產(chǎn)品的ESR值相差較高,因此,不同規(guī)格的鉭電容器能夠安全耐受的交流紋波值也相差很大,因此,如果某電路中存在的交流紋波超過(guò)使用的電容器可以安全承受的交流紋波值,產(chǎn)品就會(huì)出現(xiàn)熱致?lián)舸┑默F(xiàn)象.同樣,如果電路中的交流紋波一定,而選擇的鉭電容器的實(shí)際ESR值過(guò)高,產(chǎn)品也會(huì)出現(xiàn)相同的現(xiàn)象.一般來(lái)說(shuō),在濾波和大功率充放電電路,必須使用ESR值盡可能低的鉭電容器.對(duì)于電路中存在的交流紋波過(guò)高而導(dǎo)致的電容失效問(wèn)題在設(shè)計(jì)電源電路時(shí)，需要考慮鉭電容的連接方式和濾波效果，以保證電源的穩(wěn)定性和噪聲抑制能力。CAK45-E-35V-47uF-K

鉭電容具有一定的自恢復(fù)能力，但在過(guò)電壓嚴(yán)重的情況下，仍有可能發(fā)生故障。CAK351-40V-220uF-K-5

電容失效模式,機(jī)理和失效特點(diǎn)對(duì)于鉭電容，失效與其他類型的電容一樣,也有電參數(shù)變化失效、短路失效和開路失效三種。由于鉭電容的電性能穩(wěn)定,且有獨(dú)特的“自愈”特性,鉭電容鮮有參數(shù)變化引起的失效，鉭電容失效大部分是由于電路降額不足，反向電壓，過(guò)功耗導(dǎo)致，主要的失效模式是短路。另外,根據(jù)鉭電容的失效統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),鉭電容發(fā)生開路性失效的情況也極少。因此,鉭電容失效主要表現(xiàn)為短路性失效。鉭電容短路性失效模式的機(jī)理是:固體鉭電容的介質(zhì)Ta2O5由于原材料不純或工藝中的原因而存在雜質(zhì)、裂紋、孔洞等疵點(diǎn)或缺陷,鉭塊在經(jīng)過(guò)高溫?zé)Y(jié)時(shí)已將大部分疵點(diǎn)或缺陷燒毀或蒸發(fā)掉,但仍有少量存在。在賦能、老煉等過(guò)程中,這些疵點(diǎn)在電壓、溫度的作用下轉(zhuǎn)化為場(chǎng)致晶化的發(fā)源地—晶核;在長(zhǎng)期作用下,促使介質(zhì)膜以較快的速度發(fā)發(fā)生物理、化學(xué)變化,產(chǎn)生應(yīng)力的積累,到一定時(shí)候便引起介質(zhì)局部的過(guò)熱擊穿。如果介質(zhì)氧化膜中的缺陷部位較大且集中,一旦在熱應(yīng)力和電應(yīng)力作用下出現(xiàn)瞬時(shí)擊穿,則很大的短路電流將使電容迅速過(guò)熱而失去熱平衡,鉭電容固有的“自愈”特性已無(wú)法修補(bǔ)氧化膜,從而導(dǎo)致鉭電容迅速擊穿失效。CAK351-40V-220uF-K-5