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優(yōu)普士電子(深圳)有限公司2025-04-05
芯片測(cè)試,設(shè)計(jì)初期系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試。 SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝,因此,對(duì)Soc器件的測(cè)試需要采用全新的方法。由于每個(gè)功能元件都有其自身的測(cè)試要求,設(shè)計(jì)工程師必須在設(shè)計(jì)初期就做出測(cè)試規(guī)劃。
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簡(jiǎn)介:專注于IC燒錄、燒錄設(shè)備、芯片測(cè)試、ic激光打字刻字,秉持“顧客至上誠(chéng)信為本”的經(jīng)營(yíng)理念,歡迎洽談咨
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