表面絕緣電阻測(cè)試原理

    作為電子可靠性測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)先鋒，維柯科技深耕SIR/CAF絕緣電阻測(cè)試與TCT低阻測(cè)試領(lǐng)域逾十年，以“全場(chǎng)景覆蓋、全精度適配”的產(chǎn)品矩陣，為半導(dǎo)體、PCB、新能源等行業(yè)提供一站式測(cè)控解決方案。m作為國(guó)內(nèi)首批自主研發(fā)SIR/CAF絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)的企業(yè)，我們以12年技術(shù)積淀打造全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)產(chǎn)品。**模塊采用**恒壓源與超微型電流表設(shè)計(jì)，單通道**控制，精細(xì)捕捉1pA級(jí)電流信號(hào)，電阻測(cè)量范圍覆蓋1×10?Ω至1×101?Ω，精度比較高達(dá)±2%（1×10?-1×10?Ω區(qū)間）。模塊化架構(gòu)支持16通道/模塊靈活擴(kuò)展，單模塊故障*需替換，不影響其他通道運(yùn)行，搭配多任務(wù)并發(fā)測(cè)試功能，可在25天長(zhǎng)期測(cè)試中同步啟動(dòng)新任務(wù)，效率提升300%。數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)存儲(chǔ)、曲線可視化及失效智能提醒，為**電子可靠性測(cè)試提供全流程保障。 作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的塵埃、水及揮發(fā)溶劑的蒸氣、大氣煙霧、微小顆粒有機(jī)物、角質(zhì)及靜電引起的帶電粒子等。表面絕緣電阻測(cè)試原理

在精密電子制造業(yè)的舞臺(tái)上，每一塊PCBA（印刷電路板組裝）的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展，PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升，如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物，確保電路板的長(zhǎng)期可靠性，成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，正是這一挑戰(zhàn)的解決方案?！旧疃榷床?，精確監(jiān)測(cè)】廣州維柯多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)離子遷移監(jiān)測(cè)系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn)，專為PCBA的可靠性評(píng)估而設(shè)計(jì)，它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控SIR（表面絕緣電阻）和CAF（導(dǎo)電陽極絲）的變化，精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象湖北離子遷移絕緣電阻測(cè)試銷售廠家電阻測(cè)試數(shù)據(jù)的異常波動(dòng)，可能預(yù)示著電路中存在潛在問題。

(2)設(shè)定溫度境界值溫度循環(huán)是從低溫開始還是從高溫開始,根據(jù)溫度境界值和測(cè)試開始時(shí)的溫度（來自溫濕度測(cè)試的傳感器表面溫度）來判斷。（來自溫濕度板的傳感器與溫濕度箱的傳感器在同一位置時(shí)，箱內(nèi)環(huán)境溫度是試驗(yàn)開始的溫度。）從低溫開始試驗(yàn)時(shí)，測(cè)試開始時(shí)的溫度＞溫度境界值。從高溫開始試驗(yàn)時(shí)，測(cè)試開始時(shí)的溫度＜溫度境界值。例如）欲從低溫開始試驗(yàn)，測(cè)試開始時(shí)的溫度（25℃）＞溫度境界值(20℃以下)欲從高溫開始試驗(yàn)，測(cè)試開始時(shí)的溫度（25℃）＜溫度境界值(30℃以下)

測(cè)試模式：1）熱沖擊式2）溫度定值式3）無溫度判定式熱沖擊模式(1)可收錄溫度循環(huán)中的低溫區(qū)/高溫區(qū)中各1點(diǎn)數(shù)據(jù)。該模式***于使用溫度模塊時(shí)。(a)由于溫沖箱和測(cè)試系統(tǒng)是用不同的傳感器測(cè)量溫度的，因此，多少會(huì)產(chǎn)生溫度偏差。(b)測(cè)試值以高溫限定值和低溫限定值的設(shè)定值為基點(diǎn)，在任意設(shè)定的收錄間隔時(shí)間后，在各溫度下，測(cè)量1次，（將高溫及低溫作為1個(gè)循環(huán)，各測(cè)1次）各限定值的基準(zhǔn)以5℃左右內(nèi)為目標(biāo)進(jìn)行設(shè)定，而不是溫沖箱的設(shè)定溫度。另外，將各試驗(yàn)時(shí)間（高溫時(shí)間、低溫時(shí)間）的一半作為目標(biāo)設(shè)定收錄間隔時(shí)間。注）因?yàn)?，測(cè)試系統(tǒng)上搭載的測(cè)試模塊的數(shù)量會(huì)變動(dòng)，所以，請(qǐng)不要在溫沖箱的溫度保持時(shí)間結(jié)束后的3分鐘后設(shè)定數(shù)據(jù)收錄間隔時(shí)間。.評(píng)估PCB存儲(chǔ)后的可焊性性能，驗(yàn)證存儲(chǔ)是否對(duì)PCB板上需要焊接位置的可焊性有不良影響。

    測(cè)試效率同樣是GWLR-256的一大亮點(diǎn)。它創(chuàng)新性地采用了并行掃描技術(shù)，這一技術(shù)使得256通道全測(cè)時(shí)間能夠控制在≤1分鐘，相較于傳統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備，效率提升幅度超過50%。在電子制造行業(yè)，時(shí)間就是成本，如此高效的測(cè)試速度，**加快了產(chǎn)品的生產(chǎn)周期，為企業(yè)節(jié)省了大量的人力和時(shí)間成本，提升了企業(yè)在市場(chǎng)中的競(jìng)爭(zhēng)力。此外，GWLR-256還具備出色的穩(wěn)定性和可靠性。其硬件設(shè)計(jì)經(jīng)過精心優(yōu)化，選用***的電子元器件，能夠適應(yīng)各種復(fù)雜的工作環(huán)境，無論是高溫、高濕，還是電磁干擾較強(qiáng)的環(huán)境，都能保證穩(wěn)定運(yùn)行，持續(xù)輸出準(zhǔn)確可靠的測(cè)試結(jié)果。軟件方面，搭配功能強(qiáng)大且操作簡(jiǎn)便的Windows系統(tǒng)軟件，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試流程的全自動(dòng)化控制，減少了人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的干擾，進(jìn)一步提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性和一致性。 不同類型的電阻器在測(cè)試時(shí)，需根據(jù)規(guī)格選擇合適的量程。江西SIR表面絕緣電阻測(cè)試分析

維柯CAF.TCT產(chǎn)品系列具有好的適用性和高精度的測(cè)試能力。表面絕緣電阻測(cè)試原理

參考標(biāo)準(zhǔn) IEC 60068-2-14 試驗(yàn)方法 N：溫度變化中的 Nc。實(shí)現(xiàn)方式為吊籃式，將產(chǎn)品放置在吊籃中按照要求浸入不同的溫度液體中。則適用于玻璃-金屬密封及類似產(chǎn)品，因此電器產(chǎn)品中不予考核該項(xiàng)目。IEC 60068-2-14，Na 以及 ISO 16750-4 5.3.2 冷熱沖擊試驗(yàn)中推薦的循環(huán)數(shù)為 5，實(shí)際應(yīng)用中過少，推薦使用表 3 參數(shù)。IEC 60068-2-14、ISO 16750-4 、MIL-STD-810F 及 GJB150 中對(duì)于冷熱沖擊的要求循環(huán)數(shù)都為 5 個(gè)循環(huán)以內(nèi)。該三類標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此試驗(yàn)的定義為：確定裝備能否經(jīng)受其周圍大氣溫度的急劇變化，而不產(chǎn)生物理?yè)p壞或性能下降，模擬的情況為：產(chǎn)品的航空運(yùn)輸、航空下投以及其它產(chǎn)品從不同溫度區(qū)域轉(zhuǎn)移的情況。對(duì)于汽車類產(chǎn)品，執(zhí)行此標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，因?yàn)槲覀兛己说哪M情況不一樣，故參數(shù)需要進(jìn)行變動(dòng)，主要變動(dòng)參數(shù)為：循環(huán)數(shù)增加（因應(yīng)用到汽車電器產(chǎn)品中為加速老化試驗(yàn)，故其循環(huán)數(shù)一般超過 100）。表面絕緣電阻測(cè)試原理