M2螺紋測(cè)針怎么樣

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2021-10-14

工件的幾何形狀決定了測(cè)針組件的選擇:測(cè)針必須很容易到達(dá)工件的所有測(cè)量點(diǎn)。您在選擇測(cè)針組件時(shí)一定要非常謹(jǐn)慎,使其對(duì)每一個(gè)被測(cè)特征都能達(dá)到所需的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)量能力。如果您想在配有固定傳感器的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上對(duì)工件進(jìn)行多方面測(cè)量,通常需要很多測(cè)針,這些測(cè)針安裝在不同方向,并需要不同形狀的測(cè)針組件、加長(zhǎng)桿及關(guān)節(jié)。所有這些組件的組合稱為測(cè)針配置,安裝在轉(zhuǎn)接塊上。雷尼紹提供眾多類型的測(cè)針及附件,使您可以成功地執(zhí)行各種測(cè)量。包括測(cè)針球頭在內(nèi)的所有組件均有一系列材料可供選擇。測(cè)針就是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的“刀具”。M2螺紋測(cè)針怎么樣

校準(zhǔn)測(cè)針時(shí),需注意的問(wèn)題:測(cè)針更換。因?yàn)闇y(cè)針長(zhǎng)度是測(cè)頭自動(dòng)校準(zhǔn)的重要參數(shù),如果自動(dòng)更換校準(zhǔn)錯(cuò)誤,就會(huì)造成測(cè)針的非正常碰撞,輕者碰壞測(cè)針,重則造成測(cè)頭(傳感器)損壞。測(cè)針更換過(guò)程中如果測(cè)頭艙盒偏離原來(lái)位置,可以初始化測(cè)針架坐標(biāo)系再重新建立,如果測(cè)頭太重,失去平衡,可以在測(cè)頭的相反方向嘗試加配重塊來(lái)解決。注意觀察校準(zhǔn)后測(cè)針的直徑和校準(zhǔn)時(shí)的形狀誤差,如果有較大變化,就需要查找原因。需要進(jìn)行6次以上的校準(zhǔn),觀察其校準(zhǔn)結(jié)果的重復(fù)性數(shù)據(jù),以統(tǒng)計(jì)原理求出標(biāo)準(zhǔn)偏差進(jìn)行分析。雷尼紹測(cè)針購(gòu)買球形測(cè)針材料主要使用硬度高,耐磨性強(qiáng)的工業(yè)用紅寶石。

測(cè)針校準(zhǔn)的原理:在測(cè)量采樣過(guò)程中,當(dāng)測(cè)針與被測(cè)件表面觸碰時(shí),測(cè)頭系統(tǒng)就會(huì)有信號(hào)顯示,作為測(cè)量的瞄準(zhǔn)信號(hào),進(jìn)而通知計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)的采集,以得到得被測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)值。此外,由于測(cè)量機(jī)通過(guò)測(cè)頭系統(tǒng)進(jìn)行探測(cè),得到的點(diǎn)位坐標(biāo)值是測(cè)球中心的坐標(biāo)值,為了獲得被測(cè)工件的實(shí)際尺寸,還需加上或減去測(cè)球的動(dòng)態(tài)直徑值。進(jìn)入測(cè)頭校準(zhǔn)程序后,對(duì)標(biāo)準(zhǔn)球進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量方法與幾何元素測(cè)量程序中的球的測(cè)量方法一樣,當(dāng)采點(diǎn)數(shù)量達(dá)到要求時(shí),測(cè)量程序會(huì)自動(dòng)對(duì)測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行計(jì)算處理,將處理后的測(cè)頭校準(zhǔn)結(jié)果,自動(dòng)返回到測(cè)頭校準(zhǔn)對(duì)話框界面中。在按下回車按鍵后,校準(zhǔn)后的測(cè)頭數(shù)據(jù)將作為修正值用于后續(xù)的應(yīng)用數(shù)據(jù)處理中?;鶞?zhǔn)后的測(cè)頭數(shù)據(jù)包括測(cè)頭半徑及球度誤差還有測(cè)球中心相對(duì)于零號(hào)測(cè)頭中心的坐標(biāo)值。

雷尼紹RENISHAW三坐標(biāo)測(cè)針:有三種測(cè)針模塊可供選擇,具有兩種不同的超程測(cè)力。模塊SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力)LF(低測(cè)力)EO(長(zhǎng)超程)。 應(yīng)用一般使用。小直徑測(cè)球或必須使用較小測(cè)力的場(chǎng)合。額外超程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。留言測(cè)針較長(zhǎng)可達(dá)100mm,測(cè)球直徑>1mm。測(cè)球直徑小于1mm。與SF的超程測(cè)力相同。測(cè)頭Z軸的額外超程為8mm。SCR200交換架SCR200可對(duì)較多六個(gè)TP200測(cè)針模塊進(jìn)行自動(dòng)高速交換。SCR200由單獨(dú)的測(cè)頭接口—PI200供電,并可確保安全的測(cè)針交換。SCR200套件可包含低測(cè)力和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力組件,每一種套件都包含一個(gè)SCR200加上三個(gè)測(cè)力相同的測(cè)針模塊。盤形測(cè)針在球的中間鄰近截?cái)嘧龀傻谋P容貌的測(cè)頭。

雷尼紹RENISHAW三坐標(biāo)測(cè)針:與TP200一樣,但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。傳感器方向六軸:±X、±Y、±Z六軸:±X、±Y、±Z單向重復(fù)性(2sμm)觸發(fā)水平1:0.40μm觸發(fā)水平2:0.50μm觸發(fā)水平1:0.40μm觸發(fā)水平2:0.50μmXY(2D)輪廓形式測(cè)量偏差觸發(fā)水平1:±0.80μm觸發(fā)水平2:±0.90μm觸發(fā)水平1:±1μm觸發(fā)水平2:±1.2μmXYZ(3D)輪廓測(cè)量偏差觸發(fā)水平1:±1μm觸發(fā)水平2:±1.40μm觸發(fā)水平1:±2.50μm觸發(fā)水平2:±4μm測(cè)針交換的重復(fù)性SCR200:±0.50μm(較大)手動(dòng):±1μm(較大)SCR200:±0.50μm(較大)手動(dòng):±1μm(較大)測(cè)力(測(cè)尖)XY平面(所有模塊):0.02NZ軸(所有模塊):0.07NXY平面(所有模塊):0.02NZ軸(所有模塊):0.07N超程測(cè)力(位移為0.50mm時(shí))XY平面(SF/EO模塊)。星形測(cè)針可用于測(cè)量各種不同的形體結(jié)構(gòu),是針對(duì)復(fù)雜形體和孔的多測(cè)尖檢測(cè)。浙江RENISHAW-SM25哪家靠譜

柱形測(cè)針應(yīng)用于柱形的旁邊面,測(cè)量薄斷面間的尺寸、曲線形狀或加工的孔等。M2螺紋測(cè)針怎么樣

盤形測(cè)針:在球的中間鄰近截?cái)嘧龀傻谋P容貌的測(cè)頭;盤形斷面的形象由于是球,所以校正道理和球形測(cè)頭一樣;應(yīng)用外側(cè)直徑局部或厚度局部進(jìn)行測(cè)量;應(yīng)用于星型測(cè)針無(wú)法觸及的孔、內(nèi)退刀槽和凹槽,如瓶頸面間的尺寸,槽的寬或形狀等;應(yīng)用環(huán)規(guī)校正較便當(dāng)。特用測(cè)針:用于螺紋牙型、薄截面材料、對(duì)刀和其他特用的測(cè)量場(chǎng)合。尖測(cè)針:普通的XY測(cè)量時(shí)不運(yùn)用;用于測(cè)量精度低的螺絲槽,標(biāo)示的點(diǎn)或裂紋劃痕等;比起運(yùn)用具有半徑的點(diǎn)式測(cè)頭的狀況,能夠精細(xì)的進(jìn)行校正,用于測(cè)量十分小的孔等;特用于螺紋牙型、特定點(diǎn)及刻劃線的檢測(cè)。陶瓷空心球形測(cè)針:是檢測(cè)X、Y和Z向深位特性和孔的理想選擇,只需要標(biāo)定一個(gè)球;也可用于外表粗拙的工件的測(cè)量。M2螺紋測(cè)針怎么樣

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