雷尼紹測針廠家直銷

雷尼紹加長桿測針：0.07NXY平面（所有模塊）：0.02NZ軸（所有模塊）：0.07N超程測力（位移為0.50mm時）XY平面（SF/EO模塊）：0.2N至0.4NXY平面（LF模塊）：0.1N至0.15NZ軸（SF/EO模塊）：4.90NZ軸（LF模塊）：1.60NXY平面（SF/EO模塊）：0.2N至0.4NXY平面（LF模塊）：0.1N至0.15NZ軸（SF/EO模塊）：4.90NZ軸（LF模塊）：1.60N重量（測頭傳感器和模塊）22g22g較長加長桿（如配在PH10系列測座上）300mm300mm推薦的較大測針長度（M2測針系列）SF/EO模塊：50mm鋼質(zhì)至100mmGFLF模塊：20mm鋼質(zhì)至50mmGFSF/EO模塊測針就是坐標測量機的“刀具”。雷尼紹測針廠家直銷

諸如更換測頭上的測針這種不起眼的操作都會對可能實現(xiàn)的實際精度造成巨大影響，導致測量結(jié)果發(fā)生明顯的變化。依賴坐標機的年度校準檢查此精度是不夠的，因為這只能確認測試（通常時間極短）所用測針的測量結(jié)果。這可能只是較好的一次精度。為了更多方面地了解各種測量的可能精度，我們需要評估測針是如何影響測量不確定度的。 本白皮書將闡述影響坐標機總體精度的測針選型的四個主要方面：測球球度（圓度）；測針變形；熱穩(wěn)定性；測尖材料選擇（掃描應(yīng)用）；測球球度（圓度）；大多數(shù)測針的測尖是一個球頭，較常見的材料是人造紅寶石。此類測尖球度（圓度）的任何誤差都可能成為坐標機測量不確定度的一個影響因素，這很可能造成坐標機精度降低10%之多。紅寶石測球有各種定義為“等級”的精度級別，指的是測球與理想球面的較大偏移量。兩種較常用的測球指標是5級和10級（等級數(shù)字越低測球越好）。測球等級由5級“降”到10級，測針可能會節(jié)約些許成本，但極有可能影響到所謂1:5比率的理論。上海RENISHAW-金屬3D打印機訂購可旋轉(zhuǎn)的測針：這是一種夾緊機構(gòu)，可用于將測針調(diào)整到所需的角度。

校準測針時，需注意的問題：測針更換。因為測針長度是測頭自動校準的重要參數(shù)，如果自動更換校準錯誤，就會造成測針的非正常碰撞，輕者碰壞測針，重則造成測頭(傳感器)損壞。測針更換過程中如果測頭艙盒偏離原來位置，可以初始化測針架坐標系再重新建立，如果測頭太重，失去平衡，可以在測頭的相反方向嘗試加配重塊來解決。標準球直徑。標準球具有極好的圓度誤差，校準過程中以該直徑值作為標準。一定要正確輸入標準球的理論直徑。根據(jù)前面測針校準的原理可以看出標準球理論直徑數(shù)值將直接影響測針校準的球度誤差，必須使軟件得到三坐標測量機測球的“等效直徑”，自動進行測球半徑的補償。

雷尼紹加長桿測針： 關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括： TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）， TP200測針模塊—選擇固定超程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）， PI200測頭接口， SCR200測針交換架， 還有一種EO模塊（長超程），超程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。 零復位誤差， 快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖， TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。柱形測針還可測量各種螺紋特征、并可定位攻絲孔的中心。

三坐標檢測之小測針的使用:小測針：測球直徑小于等于1mm的測針，因為測桿太細，剛性較差，使用時更應(yīng)該注意： （1）測針本身長度要盡量短，以保證剛性。建議使用加長桿來來減小測針的接觸力。 （2）盡量降低速度，包括掃描速度，接觸速度和運行速度。 （3）對于接觸式測頭： a.TP20，HP-T/HP-M等測頭必須使用低測力吸盤。 b.較好使用TP200測頭，使用低測力吸盤，并使用加長桿。 （4）對于模擬掃描測頭，適當?shù)慕档蜏y力和速度，直徑小于2mm的測針建議盡量不用來掃描，如使用掃描會增加小測針的損耗。使用時要在標準測力的基礎(chǔ)上減小測力，降低速度。 備注：使用小測針時，測力和速度的設(shè)置數(shù)值與工件的表面粗糙度、曲率、材質(zhì)和加工扁差均有關(guān)系。所以具體數(shù)值在編程時需要進行相應(yīng)的測試，盡量使用低速和低測力的情況下，達到精度、損耗和效率的較佳平衡點。例如，可以從掃描速度1mm/s。為避免測針變形，您應(yīng)當選用盡可能短的測針，尤其在使用觸發(fā)式測頭系統(tǒng)時。RENISHAW-激光干涉儀可以定制嗎

測針主要用于三坐標測量機、齒輪檢測儀、機床測頭上使用。雷尼紹測針廠家直銷

雷尼紹RENISHAW三坐標測針：與TP200一樣，但當出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時。傳感器方向六軸：±X、±Y、±Z六軸：±X、±Y、±Z單向重復性(2sμm)觸發(fā)水平1：0.40μm觸發(fā)水平2：0.50μm觸發(fā)水平1：0.40μm觸發(fā)水平2：0.50μmXY（2D）輪廓形式測量偏差觸發(fā)水平1：±0.80μm觸發(fā)水平2：±0.90μm觸發(fā)水平1：±1μm觸發(fā)水平2：±1.2μmXYZ(3D)輪廓測量偏差觸發(fā)水平1：±1μm觸發(fā)水平2：±1.40μm觸發(fā)水平1：±2.50μm觸發(fā)水平2：±4μm測針交換的重復性SCR200：±0.50μm（較大）手動：±1μm（較大）SCR200：±0.50μm（較大）手動：±1μm（較大）測力（測尖）XY平面（所有模塊）：0.02NZ軸（所有模塊）：0.07NXY平面（所有模塊）：0.02NZ軸（所有模塊）：0.07N超程測力（位移為0.50mm時）XY平面（SF/EO模塊）。雷尼紹測針廠家直銷

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