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雷尼紹加長桿測針：TP200規(guī)格摘要TP200TP200B： 主要應(yīng)用需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測量機(jī)。與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。傳感器方向六軸：±X、±Y、±Z六軸：±X、±Y、±Z單向重復(fù)性(2sμm)觸發(fā)水平1：0.40μm觸發(fā)水平2：0.50μm觸發(fā)水平1：0.40μm觸發(fā)水平2：0.50μmXY（2D）輪廓形式測量偏差觸發(fā)水平1：±0.80μm觸發(fā)水平2：±0.90μm觸發(fā)水平1：±1μm觸發(fā)水平2：±1.2μmXYZ(3D)輪廓測量偏差觸發(fā)水平1：±1μm觸發(fā)水平2：±1.40μm觸發(fā)水平1：±2.50μm觸發(fā)水平2：±4μm測針交換的重復(fù)性SCR200：±0.50μm（較大）手動(dòng)：±1μm（較大）SCR200：±0.50μm（較大）手動(dòng)：±1μm（較大）測力（測尖）XY平面（所有模塊）：0.02NZ軸（所有模塊）：0.07NXY平面（所有模塊）。大多數(shù)測頭的三點(diǎn)機(jī)械定位機(jī)構(gòu)可以根據(jù)要求提供不同的測力來產(chǎn)生觸發(fā)。上海RENISHAW傳感器企業(yè)

星形測針：由安裝牢固的測針組成的多測尖測針配置。測球材質(zhì)為紅寶石、氮化硅或氧化錯(cuò)。可直接接觸的表面和孔。此配置靈活性強(qiáng)，測尖可與不同的特征接觸，無需更換測針。例如：缸徑上的鉆孔,溝槽等。測針螺紋與測頭連接，旋緊前保證星型測針?biāo)椒较蚺c機(jī)器軸向大致平行，避免測量時(shí)測針干涉。按機(jī)器測頭實(shí)際配置進(jìn)行虛擬測頭裝配的過程。通過測頭的裝配，可以確定機(jī)器所裝配測頭的相關(guān)參數(shù)。可視化的測頭模型裝配，使操作人員可以按機(jī)器測頭配置的實(shí)際狀態(tài)進(jìn)行對照操作。這樣操作簡捷、直觀，而且免去了操作人員在校正前檢查測頭相關(guān)信息的工作；避免因誤輸測頭的相關(guān)信息造成校正過程中機(jī)器運(yùn)動(dòng)發(fā)生意外。上海RENISHAW傳感器企業(yè)當(dāng)測針上附著一層纖薄的鋁質(zhì)雜物時(shí)，應(yīng)該使用含有清潔液的濕布認(rèn)真清理。

雷尼紹RENISHAW三坐標(biāo)測針：與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。傳感器方向六軸：±X、±Y、±Z六軸：±X、±Y、±Z單向重復(fù)性(2sμm)觸發(fā)水平1：0.40μm觸發(fā)水平2：0.50μm觸發(fā)水平1：0.40μm觸發(fā)水平2：0.50μmXY（2D）輪廓形式測量偏差觸發(fā)水平1：±0.80μm觸發(fā)水平2：±0.90μm觸發(fā)水平1：±1μm觸發(fā)水平2：±1.2μmXYZ(3D)輪廓測量偏差觸發(fā)水平1：±1μm觸發(fā)水平2：±1.40μm觸發(fā)水平1：±2.50μm觸發(fā)水平2：±4μm測針交換的重復(fù)性SCR200：±0.50μm（較大）手動(dòng)：±1μm（較大）SCR200：±0.50μm（較大）手動(dòng)：±1μm（較大）測力（測尖）XY平面（所有模塊）：0.02NZ軸（所有模塊）：0.07NXY平面（所有模塊）：0.02NZ軸（所有模塊）：0.07N超程測力（位移為0.50mm時(shí)）XY平面（SF/EO模塊）。

雷尼紹加長桿測針： 關(guān)于TP200TP200系統(tǒng)組件包括： TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）， TP200測針模塊—選擇固定超程測力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測力）或LF（低測力）， PI200測頭接口， SCR200測針交換架， 還有一種EO模塊（長超程），超程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護(hù)。 零復(fù)位誤差， 快速測頭模塊交換，無需重新標(biāo)定測尖， TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。盤形測針應(yīng)用于星型測針無法觸及的孔、內(nèi)退刀槽和凹槽，如瓶頸面間的尺寸,槽的寬或形狀等。

在三坐標(biāo)測量儀的檢測中，測頭是三次元檢測的關(guān)鍵一個(gè)環(huán)節(jié)，如果三坐標(biāo)的測頭無法發(fā)揮其主要作用，那么三坐標(biāo)測量機(jī)的檢測也將會出現(xiàn)很大的偏差，進(jìn)而影響到三坐標(biāo)測量儀的檢測結(jié)果。 三坐標(biāo)測頭在檢測中，經(jīng)常會出現(xiàn)誤采點(diǎn)的狀況，這直接導(dǎo)致了檢測無法順利的完成。那么，三坐標(biāo)的測頭誤采點(diǎn)的原因有哪些方面呢？主要有以下幾點(diǎn)：三次元的測針過長；三坐標(biāo)測量機(jī)運(yùn)動(dòng)狀態(tài)差；電纜問題；測頭本身故障或使用時(shí)間太長，造成測力不夠；氣壓過高；氣浮塊導(dǎo)氣槽中有臟東西，形成氣震，造成誤采點(diǎn)。不管是哪個(gè)原因，它對三坐標(biāo)的檢測結(jié)果都會產(chǎn)生影響，甚至讓檢測結(jié)果完全的偏離預(yù)期目標(biāo)。所以，要想獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果，首先要了解誤采點(diǎn)的原因，并且有針對性的解決問題，這樣才能保證三坐標(biāo)測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。雷尼紹測針還適合接觸粗糙表面，因?yàn)榇植诙缺淮笾睆奖砻鏅C(jī)械地過濾掉了。上海RENISHAW傳感器企業(yè)

盤形測針用于檢測星形測針無法觸及的孔內(nèi)退刀槽和凹槽。上海RENISHAW傳感器企業(yè)

機(jī)床測頭也叫做機(jī)床探頭，是一種應(yīng)用于CNC等數(shù)控機(jī)床上，并提高其自動(dòng)化、規(guī)范化、標(biāo)準(zhǔn)化、網(wǎng)絡(luò)化、數(shù)字化、智能化的機(jī)床附件，也將是未來數(shù)控機(jī)床生產(chǎn)加工中為重要的一種測量設(shè)備。測頭提供在機(jī)測量，更為便捷高效。裝有機(jī)床測頭的CNC機(jī)床等數(shù)控機(jī)床可以完成自動(dòng)化的對金屬模具件的模架、模坯等序前定位分中一步到位的一次性批量完成，而且相應(yīng)的定位精度可達(dá)到0.001毫米。在序中，機(jī)床測頭可以通過智能網(wǎng)絡(luò)化的自主研發(fā)技術(shù)實(shí)現(xiàn)對各個(gè)加工件的在機(jī)檢測測量修正，并給予相應(yīng)的機(jī)床測量誤差補(bǔ)償，確保工件相應(yīng)數(shù)據(jù)達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)化的生產(chǎn)。在生產(chǎn)后，機(jī)床測頭還通過自帶的測量軟件再次對相應(yīng)成品金屬模具件進(jìn)行測量檢測，將測量數(shù)據(jù)形成數(shù)字報(bào)告展現(xiàn)給生產(chǎn)廠家，并可以對殘次產(chǎn)品自動(dòng)的返回補(bǔ)償加工重新生產(chǎn)，確保對機(jī)金屬模具件成品的100%合格率。整個(gè)金屬模具件加工過程都十分規(guī)范、自動(dòng)與智能。上海RENISHAW傳感器企業(yè)