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   SPC控制圖（ControlChart）一種對(duì)生產(chǎn)過(guò)程的關(guān)鍵質(zhì)量特性值進(jìn)行測(cè)定、記錄、評(píng)估并監(jiān)測(cè)過(guò)程是否處于控制狀態(tài)的一種圖形方法。**早的控制圖是由美國(guó)貝爾電話實(shí)驗(yàn)室的休姆哈特博士在1924年提出的P圖（PChart），后來(lái)此類控制圖都被叫做休姆哈特控制圖，休哈特也被譽(yù)為“統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制SPC之父”。從休姆哈特的P圖算起，SPC理論從創(chuàng)立到***已接近百年。SPC理論創(chuàng)立之初，恰逢美國(guó)大蕭條時(shí)期，該理論當(dāng)時(shí)無(wú)人問(wèn)津。后來(lái)二次世界大戰(zhàn)時(shí)，SPC理論在幫助美國(guó)軍方提升武器質(zhì)量方面大顯身手，于是戰(zhàn)后開(kāi)始風(fēng)行全世界。不過(guò)二戰(zhàn)后，美國(guó)無(wú)競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手，產(chǎn)品橫行天下，SPC在美國(guó)并沒(méi)有得到***重視。日本二戰(zhàn)戰(zhàn)敗后被美國(guó)接管，為了幫助日本的戰(zhàn)后重建，美國(guó)軍方邀請(qǐng)戴明博士到日本講授SPC理論。1980年日本已居世界質(zhì)量與勞動(dòng)生產(chǎn)率的領(lǐng)導(dǎo)地位，其中一個(gè)重要的原因就是SPC理論的應(yīng)用。1984年日本名古屋工業(yè)大學(xué)調(diào)查了115家日本各行業(yè)的中小型工廠，結(jié)果發(fā)現(xiàn)平均每家工廠采用137張控制圖。因此，SPC無(wú)論是在歐美還是日本，都是非常重要的質(zhì)量改進(jìn)工具，所以大家有必要去深入認(rèn)識(shí)SPC、應(yīng)用SPC和推廣SPC。蘇州科貿(mào)時(shí)貿(mào)易有限公司力于提供MICROVU影像測(cè)量?jī)x ，歡迎您的來(lái)電哦！河南MICROVU影像測(cè)量?jī)x廠家

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像測(cè)量?jī)x特點(diǎn)采用彩色CCD攝像機(jī)應(yīng)用領(lǐng)域機(jī)械、電子、模具、注塑.儀器特點(diǎn)采用彩色CCD攝像機(jī)；變焦距物鏡與十字線發(fā)生器作為測(cè)量瞄準(zhǔn)系統(tǒng)；由二維平面工作臺(tái)、光柵尺與數(shù)據(jù)箱組成數(shù)字測(cè)量及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)；儀器具有多種數(shù)據(jù)處理、顯示、輸入、輸出功能，特別是工件擺正功能非常實(shí)用；與電腦連接后，采用專門(mén)測(cè)量軟件可對(duì)測(cè)量圖形進(jìn)行處理。影像測(cè)量?jī)x應(yīng)用領(lǐng)域編輯儀器適用于以二維平面測(cè)量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域。這些領(lǐng)域有：機(jī)械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器，磁性材料、精密五金、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機(jī)、家電、計(jì)算機(jī)（電腦）、液晶電視(LCD)、印刷電路板（線路板、PCB）、汽車、醫(yī)療器械、鐘表、螺絲、彈簧、儀器儀表、齒輪、凸輪、螺紋、半徑樣板、螺紋樣板、電線電纜、刀具、軸承、篩網(wǎng)、試驗(yàn)篩、水泥篩、網(wǎng)板（鋼網(wǎng)、SMT模板）等。影響影像測(cè)量?jī)x精度的因素主要有精度指示、結(jié)構(gòu)原理、測(cè)量方法、日常不注意維護(hù)等。

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影像測(cè)量?jī)x精度的因素主要有精度指示、結(jié)構(gòu)原理、測(cè)量方法、日常不注意維護(hù)等。中國(guó)1994年實(shí)行了國(guó)際《坐標(biāo)測(cè)量的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢測(cè)量》的實(shí)施。具體內(nèi)容如下：第1部分：測(cè)量線性尺寸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第2部分：配置轉(zhuǎn)臺(tái)軸線為第四軸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第3部分：掃描測(cè)量型坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第4部分：多探針探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī);第5部分：計(jì)算高斯輔助要素的誤差評(píng)定。在測(cè)量空間的任意7種不同的方位，測(cè)量一組5種尺寸的量塊，每種量塊長(zhǎng)度分別測(cè)量3次所有測(cè)量結(jié)果必須在規(guī)定的MPEE值范圍內(nèi)。比較大允許探測(cè)誤差(MPEP)：25點(diǎn)測(cè)量精密標(biāo)準(zhǔn)球，探測(cè)點(diǎn)分布均勻。比較大允許探測(cè)誤差MPEP值為所有測(cè)量半徑的比較大值。河南MICROVU影像測(cè)量?jī)x廠家