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零色散雙級(jí)聯(lián)單色儀
零色散雙級(jí)聯(lián)單色儀。低的雜散光,高光通量,高波長(zhǎng)精度和重復(fù)性,全自動(dòng)控制。適合用于拉曼光譜,CCD探測(cè)器校準(zhǔn),單色儀等用途。
詳情介紹
特點(diǎn):
-零色散
-低雜散光
-高光通量
-高波長(zhǎng)精度和重復(fù)性
-全自動(dòng)控制
主要技術(shù)參數(shù):
光譜范圍 185nm-60um(取決于光柵類型)
F/數(shù) 1/3.8
掃描范圍 0-1270nm( 1200g/mm光柵,其它光柵請(qǐng)聯(lián)系)
雜散光比 5*10-10
光學(xué)參數(shù)
1200g/mm光柵,15um狹縫,546nm標(biāo)定值
光譜分辨率 0.07nm
波長(zhǎng)重復(fù)性 +/-0.03nm
波長(zhǎng)精度 +/-0.06nm
光柵尺寸 70*70*10(mm)
典型應(yīng)用:
一、可調(diào)諧單色儀
MZDD350i可作為一套帶寬可調(diào)諧的濾光片,它的工作波段寬(紫外到紅外),帶寬可調(diào)諧而且非常窄,雜散光比很高,因而是一套非常不錯(cuò)的濾光系統(tǒng)。
二、拉曼光譜儀
雙級(jí)聯(lián)光譜儀用于拉曼光譜,可以做低波數(shù)拉曼,并且不需要額外的濾光片。
三、脈沖光譜測(cè)量
雙級(jí)聯(lián)光譜儀的色散為零(兩臺(tái)相互抵消),因而非常適合超短脈沖的光譜測(cè)量,不會(huì)引起展寬效應(yīng)。
四、CCD探測(cè)器的量子效率標(biāo)定
通過(guò)電動(dòng)轉(zhuǎn)折鏡6,待標(biāo)定的CCD探測(cè)器和一個(gè)標(biāo)定過(guò)的單點(diǎn)探測(cè)器可以同步比對(duì)。
1200g/mm光柵,15um狹縫,546nm標(biāo)定值
1200g/mm光柵,15um狹縫,546nm標(biāo)定值
1200g/mm光柵,15um狹縫,546nm標(biāo)定值 PONY譜尼測(cè)試具有CNAS,CMA資質(zhì)的專業(yè)第三方光功率計(jì)量校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室,光功率計(jì)量校.火焰原子吸收光譜儀的檢測(cè)限
離軸拋物面鏡
型號(hào):HR-OAP 離軸拋物面(OAP)反射鏡是表面反射鏡,其反射表面是組成原始拋物面反射鏡的一部分。 每個(gè)反射表面都具有原始拋物面無(wú)色差地聚焦準(zhǔn)直光束或準(zhǔn)直寬帶點(diǎn)光源的能力。其全反射設(shè)計(jì)除去透射光學(xué)元件會(huì)引入的位相延遲和吸收損耗。適合飛秒激光、紅外、太赫茲應(yīng)用。
詳情介紹
一、特性
離軸角:90度
中間小孔,用于對(duì)準(zhǔn)光束
反射光聚焦時(shí)無(wú)球差或色差
保護(hù)金膜在800 nm至20 μm的波長(zhǎng)范圍內(nèi)提供>96%的平均反射率
表面粗糙度: < 100 ? (RMS)
提供紫外增強(qiáng)鋁、銀、金三種鍍膜, 適合紫外、飛秒激光、紅外、太赫茲用途。
這些拋物面鏡是表面鏡,其反射表面等效于母拋物面鏡的一部分。這些拋物面無(wú)色差地聚焦準(zhǔn)直光束,且它們的全反射設(shè)計(jì)除去由透射性光學(xué)元件引起的相位延遲和吸收損失,因此它們非常適合與飛秒脈沖激光器一起使用。
聚焦光束與準(zhǔn)直光束之間的角稱為“離軸角”,是90°。OAP使用鋁基板制造,其在800 nm至20 μm的波長(zhǎng)范圍內(nèi)提供>96%的平均反射率。非光學(xué)表面經(jīng)過(guò)氧化發(fā)黑處理且用激光印有產(chǎn)品型號(hào),便于識(shí)別。中間小孔的內(nèi)部未經(jīng)過(guò)發(fā)黑。
電感耦合等離子體光譜儀賽默飛致力于專業(yè)研發(fā)/訂制/生產(chǎn)高性能科研及工業(yè)激光器,波長(zhǎng)覆蓋nm,產(chǎn)品種類齊全,。
Fusion BT-300-1100nm高信噪比弱光成像探測(cè)器
詳情介紹
a)2304*2304,有效探測(cè)面約15x15mm,6.5um像元,全副幀頻89fps@CoaXpress版本@16bit,同時(shí)支持USB3.0版本,全副幀頻31fps@16bit;
b)同時(shí)支持水冷-15°C和風(fēng)冷-8°C,暗噪聲 0.3電子/像素/秒@水冷-15°C;
c)讀出噪聲低至0.7個(gè)電子;
d)支持同步觸發(fā)及二次開(kāi)發(fā),Matlab、Labview、C/C++, 免費(fèi)提供SDK ;
e)95%量子效率@550nm
f)較好的暗信號(hào)均勻性和光響應(yīng)均勻性;
g)軟件功能齊全,尺寸測(cè)量,扣除背景噪聲,加偽彩,光斑對(duì)準(zhǔn)等;
通用型光柵光譜儀MS系列科研級(jí)高光通量四光柵光譜儀。 光譜范圍185nm-60μm,焦距200/350/520/750/1000mm焦距可選,光譜分辨率可達(dá)0.013nm。詳情介紹
MS系列科研級(jí)高光通量四光柵光譜儀。 光譜范圍185nm-60μm,焦距200/350/520/750/1000mm焦距可選,光譜分辨率可達(dá)0.013nm。C-T結(jié)構(gòu)單色儀/光譜儀 MS系列
MS系列光譜儀/單色儀*基于經(jīng)典的C-T結(jié)構(gòu),依據(jù)焦距的不同共有5個(gè)型號(hào):MS200/MS350/MS520/MS750/MSDD1000。對(duì)于C-T結(jié)構(gòu)的光譜儀,焦距越短,其光通量越大,但分辨率越低。因而,MS200/MS350系列,結(jié)構(gòu)緊湊,光通量大,適合信號(hào)較弱的光譜測(cè)量。MS520/MS750/MSDD1000適合分辨率,高精度的光譜測(cè)量。
特點(diǎn):
1. 像散補(bǔ)償
MS系列的光譜儀,都是成像光譜儀,都有非球面像散補(bǔ)償結(jié)構(gòu)。沒(méi)有像散補(bǔ)償?shù)墓庾V儀,在入射狹縫處的一個(gè)點(diǎn),在探測(cè)焦平面上會(huì)成為一條垂直的線,如下圖所示(MS7501/4所攝)。經(jīng)過(guò)像散補(bǔ)償?shù)墓庾V儀,入射狹縫處的點(diǎn)光源,在探測(cè)焦平面上仍然為一個(gè)點(diǎn)。因而,成像光譜儀可用于多通道光譜;由于紅外探測(cè)器多是單點(diǎn)探測(cè)器,且探測(cè)口徑小,因而成像光譜儀可以提升紅外光譜的靈敏度。 光學(xué)儀器網(wǎng) - 光學(xué)儀器專業(yè)市場(chǎng)與光學(xué)儀器行業(yè)人脈服務(wù)平臺(tái)。
LIBS元素分析儀
LEA-S500 是一款結(jié)合了現(xiàn)代光學(xué)、激光、光譜和軟件等領(lǐng)域的科技而成的強(qiáng)有力的工具,它能在幾分鐘內(nèi)檢測(cè)樣品中的所含的化學(xué)成分。
詳情介紹
產(chǎn)品特點(diǎn):
20Hz雙激光脈沖激發(fā)
175nm-850nm高量子效率CCD探測(cè)器
系統(tǒng)含抽氣裝置,優(yōu)化175-193nm波段范圍
較低檢測(cè)限可達(dá)0.1ppm
5分鐘內(nèi)能定量分析50種元素
樣品全部元素定量分析在3至30分鐘內(nèi)即可完成
可分析任何固體或粉末狀材料
較小霧化質(zhì)量(元素分析消耗量)小于50納克
產(chǎn)品功能:
較少的樣品消耗即可測(cè)得樣品的化學(xué)元素或氧化物質(zhì)量分?jǐn)?shù)(濃度)快速的多元素分析功能,一次測(cè)試即可獲得樣品的全部元素分析數(shù)據(jù)很寬的濃度范圍內(nèi)都可以獲得高靈敏度及準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)無(wú)需改變樣品的狀態(tài)即可測(cè)試通過(guò)位置及系統(tǒng)對(duì)樣品表面指定區(qū)域進(jìn)行分析可以對(duì)腐蝕物、薄膜、沉積物、表面進(jìn)行逐層分析可以對(duì)夾雜物、缺點(diǎn)、瑕疵分析 光束分析,激光分析儀價(jià)格,國(guó)內(nèi)的激光分析儀廠商,品類齊全,德國(guó)技術(shù)。原子吸收光譜儀定量的方法
光學(xué)儀器設(shè)備_自主研發(fā)_教學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)_光學(xué)儀器設(shè)備?;鹧嬖游展庾V儀的檢測(cè)限
CCT-1800太赫茲時(shí)域光譜儀太赫茲時(shí)域光譜分析是一種基于太赫茲波的新興、無(wú)損探測(cè)技術(shù),能對(duì)物質(zhì)光譜特性、組成結(jié)構(gòu)、分子振動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)特性分析。詳情介紹
太赫茲時(shí)域光譜分析儀已被應(yīng)用于光譜分析、生物醫(yī)學(xué)、醫(yī)學(xué)制藥、化學(xué)、農(nóng)業(yè)、材料和食品檢測(cè)等領(lǐng)域。
華訊太赫茲時(shí)域頻譜分析儀主要技術(shù)指標(biāo) 太赫茲源光控光電導(dǎo)半導(dǎo)體發(fā)射器 LT-GaAs emitter太赫茲探測(cè)器光控光電導(dǎo)半導(dǎo)體接收 LT-GaAs detector激光源780nm飛秒激光器 帶寬0.06-4THz掃描范圍54 ps快速掃描25-30 Scans/Second動(dòng)態(tài)范圍80 dB分辨率20 GHz成像范圍50mm×50mm掃描精度2 μm校準(zhǔn)自動(dòng)周期校準(zhǔn)大氣背景補(bǔ)償支持(去除水和二氧化碳干擾)節(jié)能模式休眠模式圖譜庫(kù)支持
太赫茲?rùn)z測(cè)技術(shù)優(yōu)勢(shì)
獨(dú)特的特征指紋譜
穿透能力強(qiáng)
量子能量小,無(wú)損檢測(cè)
測(cè)試速度快
精度和準(zhǔn)確率高
漏檢率低
多種特色功能(自動(dòng)周期校準(zhǔn)、大氣背景補(bǔ)償?shù)龋?
應(yīng)用場(chǎng)景
高校/科研所應(yīng)用研究等
生物、化學(xué)和農(nóng)業(yè)等
食品、藥品現(xiàn)場(chǎng)篩查
復(fù)合材料涂層太赫茲?rùn)z測(cè)
半導(dǎo)體等制造工藝管理
齲齒早期診斷、細(xì)胞早期病變發(fā)現(xiàn)等
食品、藥品現(xiàn)場(chǎng)篩查
火焰原子吸收光譜儀的檢測(cè)限
東方閃光(北京)光電科技有限公司致力于機(jī)械及行業(yè)設(shè)備,以科技創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)高品質(zhì)管理的追求。東方閃光光電作為東方閃光(北京)光電科技有限公司,是一家專業(yè)的光學(xué)儀器設(shè)備供應(yīng)商與服務(wù)商。致力于將國(guó)內(nèi)外優(yōu)異的光學(xué)儀器設(shè)備,結(jié)合自身的專業(yè)知識(shí)與行業(yè)經(jīng)驗(yàn),引薦給中國(guó)的科研和企業(yè)用戶,提供優(yōu)化的解決方案。技術(shù)推廣,技術(shù)服務(wù),會(huì)議服務(wù);銷售計(jì)算機(jī)、軟件及其輔助設(shè)備、電子設(shè)備、儀器儀表、機(jī)械設(shè)備、通訊設(shè)備、電子元器件;的企業(yè)之一,為客戶提供良好的光譜儀和系統(tǒng),相機(jī)、光機(jī)產(chǎn)品,太赫茲,激光器及測(cè)量產(chǎn)品。東方閃光光電致力于把技術(shù)上的創(chuàng)新展現(xiàn)成對(duì)用戶產(chǎn)品上的貼心,為用戶帶來(lái)良好體驗(yàn)。東方閃光光電始終關(guān)注自身,在風(fēng)云變化的時(shí)代,對(duì)自身的建設(shè)毫不懈怠,高度的專注與執(zhí)著使東方閃光光電在行業(yè)的從容而自信。