在超聲相控陣成像檢測(cè)中，要獲得分辨率高的聲聚焦和清晰的圖像，聲場(chǎng)的好壞是關(guān)鍵，而聲場(chǎng)主要取決于相控陣探頭的設(shè)計(jì)，因此相控陣探頭在超聲相控陣成像檢測(cè)中是至關(guān)重要的．目前實(shí)際檢測(cè)時(shí)，探頭多為均勻線陣。均勻線陣的主要參數(shù)包括：探頭頻率、探頭陣元數(shù)、陣元間距和陣元大小。在分析相控陣探頭陣元數(shù)之前需要分清探頭陣元數(shù)、系統(tǒng)通道數(shù)和實(shí)際檢測(cè)通道數(shù)之間區(qū)別。相控陣探頭陣元數(shù)是指探頭可以使用的較大陣元數(shù)．而系統(tǒng)獨(dú)通道數(shù)則是系統(tǒng)在檢測(cè)時(shí)可以實(shí)際使用的較大通道數(shù)。一般探頭陣元數(shù)小于系統(tǒng)通道數(shù)，系統(tǒng)通道數(shù)又大于實(shí)際檢測(cè)通道數(shù)。使用相控陣探頭可以產(chǎn)生預(yù)定的聲束角度或不同角度的聲束。四川凸陣相控陣探頭批發(fā)
相控陣探頭的應(yīng)用：相控陣采用S掃，即同時(shí)可以擁有許多角度的超聲波，就相當(dāng)于擁有多種角度的探頭同時(shí)工作，所以相控陣無(wú)需鋸齒掃查，只要沿著焊縫挪動(dòng)探頭即可，檢測(cè)效率更高。適用于自動(dòng)化生產(chǎn)，和批量生產(chǎn)。相控陣可以擁有聚焦功能，而常規(guī)超聲波一般沒有（除了聚焦探頭外），所以相控陣檢測(cè)的靈敏度和分辨率都比常規(guī)超聲檢測(cè)高。相控陣檢測(cè)可以同時(shí)擁有B掃、D掃、S掃和C掃描，可以通過(guò)建模，建立一個(gè)三維立體圖形，缺陷顯示非常直觀，哪怕不懂NDT的人都能看明白，而常規(guī)超聲波只能通過(guò)波形來(lái)分辨缺陷。安徽凹陣相控陣探頭采購(gòu)相控陣探頭的聲波散射程度會(huì)隨頻率的更加而增強(qiáng)。
超聲相控陣技術(shù)簡(jiǎn)介：普通超聲探頭通常由一個(gè)晶片來(lái)產(chǎn)生超聲波,其聲束的傳播角度是獨(dú)特的,在實(shí)際檢測(cè)中,為了防止漏檢,通常需要進(jìn)行不同角度的掃查。相控陣探頭是由許多單獨(dú)的晶片構(gòu)成的,每個(gè)晶片都能被單獨(dú)激發(fā)。這些探頭由特殊的裝置驅(qū)動(dòng),能夠在每個(gè)通道單獨(dú)的、同步的發(fā)射和接收信號(hào)。超聲相控陣的一個(gè)重要特性就是可以通過(guò)軟件來(lái)改變超聲波束的特性。根據(jù)系統(tǒng)軟件設(shè)置,每個(gè)晶片都能通過(guò)不同的時(shí)間延時(shí)來(lái)開啟,并發(fā)射和接收超聲信號(hào)。另外掃查角度范圍、聚焦深度和焦點(diǎn)尺寸等也都能通過(guò)軟件控制。因而在一定程度上克服了常規(guī)超聲由于聲束的方向性造成的在缺陷檢出和定量上的限制。
雙線陣相控陣探頭區(qū)別于常規(guī)的單線陣探頭，雙線陣采用一邊發(fā)射另一邊的工作模式，提供了傳統(tǒng)的超聲波雙晶探頭一樣的優(yōu)點(diǎn)。雙線陣相控陣探頭在腐蝕測(cè)量應(yīng)用中比單線陣相控陣探頭具有更好的近地表分辨率和腐蝕凹坑探測(cè)能力，提高了臨界壁厚檢測(cè)的概率。同時(shí)，雙線陣相控陣探頭又具備相控陣探頭大聲場(chǎng)覆蓋和多位置聚焦的特點(diǎn)，改變了傳統(tǒng)雙晶探頭檢測(cè)范圍小的難題，具有更快的掃描速度。雙線陣相控陣探頭的特點(diǎn)：近表面盲區(qū)約1mm；可更換探頭楔塊，更經(jīng)濟(jì)；楔塊可內(nèi)置進(jìn)水孔優(yōu)化耦合效果；波束覆蓋寬度可達(dá)30mm；碳鋼的典型檢查深度范圍為1~80mm。隨著晶片寬度的減小，相控陣探頭的聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)。
相控陣工作原理：通過(guò)軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。技術(shù)優(yōu)勢(shì)：1.實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會(huì)誤判或漏判缺陷；2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn)；3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)。4、容易檢測(cè)各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測(cè)范圍廣，定量、定位精度高。相控陣探頭能檢測(cè)出航空復(fù)合材料構(gòu)件中的裂紋及未貼合等缺陷。四川凸陣相控陣探頭批發(fā)
環(huán)陣相控陣探頭晶片呈同心圓環(huán)狀排布，主要實(shí)現(xiàn)不同深度的聚焦功能。四川凸陣相控陣探頭批發(fā)
相控陣探頭電子束通過(guò)交替地發(fā)射線性相控陣給定數(shù)目的元件進(jìn)行電子轉(zhuǎn)換。這種技術(shù)替代了常規(guī)超聲單晶片探頭的機(jī)械移動(dòng)掃查的一種方法。線陣相控陣探頭的優(yōu)點(diǎn)是無(wú)需機(jī)械運(yùn)動(dòng)。相控陣探頭電子束聚焦通過(guò)對(duì)線性相控陣不同陣元施加對(duì)稱的聚焦法則。常規(guī)超聲通常使用幾種探頭來(lái)聚焦在不同深度。相控陣探頭電子聚焦的優(yōu)點(diǎn)是通過(guò)一個(gè)探頭能聚焦在聲場(chǎng)覆蓋的每一個(gè)深度。用動(dòng)態(tài)聚焦快速檢測(cè)厚坯的完整體積，電子聚焦還可以補(bǔ)償由于柱面界面引起的聚焦畸變。相控陣探頭電子束通過(guò)將聚焦法則應(yīng)用于線性、圓形或矩陣陣列的不同陣元，通過(guò)電子偏轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)線陣和環(huán)陣探頭的2D波束控制，而矩陣陣列允許三維波束控制。這種技術(shù)實(shí)現(xiàn)使用一個(gè)探頭完成多種角度檢測(cè)的工作。在復(fù)雜幾何形狀件檢測(cè)時(shí)，這種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)可以與電子聚焦的優(yōu)點(diǎn)結(jié)合起來(lái)快速檢測(cè)。四川凸陣相控陣探頭批發(fā)
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