相控陣探頭是由多陣元組成的多晶片探頭，相控陣檢測(cè)技術(shù)利用晶片數(shù)量上的優(yōu)勢(shì)，可以變換組合、分時(shí)激勵(lì)，實(shí)現(xiàn)靈活聚焦。相控陣探頭晶片數(shù)量是決定相控陣聚焦功能的基礎(chǔ)，選擇合適的晶片數(shù)量有利于發(fā)揮相控陣技術(shù)優(yōu)勢(shì)。相控陣探頭有很多種，線陣探頭是工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域簡(jiǎn)單常用的。對(duì)線陣探頭的聲場(chǎng)的了解很重要。并且，當(dāng)掃描時(shí)探頭表面必須被保護(hù)。如果探頭面直接在粗糙面上摩擦，它將磨損。當(dāng)用在金屬部件上直接接觸檢測(cè)時(shí)，探頭的表面應(yīng)該用鐵氟龍膠帶保護(hù)。這種相控陣解決方案可以提供更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，以及具有更高數(shù)據(jù)點(diǎn)密度的C掃描成像功能，從而可提高檢測(cè)效率。面陣相控陣探頭可以使電子掃描在縱向和橫向上更有效，速度更快。江蘇奧氏體檢測(cè)相控陣探頭現(xiàn)貨
超聲波檢測(cè)方法使用超聲波探頭進(jìn)行探傷，是利用超聲波的性質(zhì)判斷材料缺陷和異常的一種物理手段。常用的超聲波探頭：超聲波探頭探型式、晶片尺寸大小、功用，使用條件基本上分成直探頭、斜探頭、雙晶探頭、聚焦探頭。探傷中常用的是單晶直探頭、雙晶直探頭和斜探頭。線陣探頭是一種一維的相控陣探頭。相控陣探傷技術(shù)依靠相控陣探頭產(chǎn)生的聲場(chǎng)檢測(cè)，相控陣探頭參數(shù)設(shè)置的正確與否，決定了聲場(chǎng)特征并直接影響檢測(cè)結(jié)果。相控陣探頭參數(shù)的設(shè)計(jì)中，要綜合考慮檢測(cè)靈敏度、信噪比、分辨力、避免柵瓣和降低陣元相互干擾等因素。線陣探頭的主要參數(shù)包括：頻率、陣元數(shù)、陣元寬度、陣元間距、陣元長度、孔徑大小等。北京圓環(huán)陣相控陣探頭購買能影響相控陣探頭檢測(cè)性能的參數(shù)有哪些？
相控陣探頭的比較分類：相控陣扇形掃查、線性掃查分別與A型掃描超聲檢測(cè)斜探頭、直探頭校準(zhǔn)的方法相似。扇形掃查的聲束入射到兩個(gè)半徑為50mm與100m同心圓，線性掃查聲束入射兩個(gè)不同厚度的試塊，系統(tǒng)通過入射到兩個(gè)反射體的發(fā)射與接收時(shí)間關(guān)系計(jì)算出聲速。校準(zhǔn)聲速的目的是讓儀器計(jì)算的聲速與被檢工件聲速相近，減少測(cè)量誤差。相控陣探頭扇形掃查：調(diào)節(jié)角度指針至設(shè)置的扇形掃查范圍中心角度，例如：扇形掃查范圍為30°-70°，調(diào)節(jié)角度指針至50°。將探頭至于CSK-IA試塊，前后移動(dòng)探頭找到兩個(gè)同心半圓的較大反射回波，固定探頭，分別移動(dòng)閘門套住回波依次“得到位”，較后確定完成聲速校準(zhǔn)。相控陣探頭線性掃查：移動(dòng)探頭找到探頭較大回波，閘門依次套住回波“得到位”，較后確定完成聲速校準(zhǔn)。
在超聲相控陣成像檢測(cè)中，要獲得分辨率高的聲聚焦和清晰的圖像，聲場(chǎng)的好壞是關(guān)鍵，而聲場(chǎng)主要取決于相控陣探頭的設(shè)計(jì)，因此相控陣探頭在超聲相控陣成像檢測(cè)中是至關(guān)重要的．目前實(shí)際檢測(cè)時(shí)，探頭多為均勻線陣。均勻線陣的主要參數(shù)包括：探頭頻率、探頭陣元數(shù)、陣元間距和陣元大小。在分析相控陣探頭陣元數(shù)之前需要分清探頭陣元數(shù)、系統(tǒng)通道數(shù)和實(shí)際檢測(cè)通道數(shù)之間區(qū)別。相控陣探頭陣元數(shù)是指探頭可以使用的較大陣元數(shù)．而系統(tǒng)獨(dú)通道數(shù)則是系統(tǒng)在檢測(cè)時(shí)可以實(shí)際使用的較大通道數(shù)。一般探頭陣元數(shù)小于系統(tǒng)通道數(shù)，系統(tǒng)通道數(shù)又大于實(shí)際檢測(cè)通道數(shù)。相控陣探頭電子束通過交替地發(fā)射線性相控陣給定數(shù)目的元件進(jìn)行電子轉(zhuǎn)換。
相控陣探頭的類型：根據(jù)探頭的功能可將探頭劃分為接觸式、延遲線式、角度聲束、或水浸式等類型。在具體應(yīng)用中，被測(cè)材料的特性例如：表面粗糙度、溫度、可達(dá)性、材料內(nèi)缺陷的位置、檢測(cè)速度等，都會(huì)影響用戶對(duì)探頭類型的選擇。尺寸：尺寸是指開啟探頭晶片的直徑，或者晶片的長度和寬度。晶片通常被置于比它稍大一點(diǎn)的外殼中。頻率：頻率是指一秒鐘內(nèi)聲波完成振動(dòng)周期的次數(shù)，通常用千赫（kHz）或兆赫（MHz）表示。大多數(shù)工業(yè)超聲檢測(cè)在500kHz到20MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行，因此大多數(shù)探頭的頻率處于這個(gè)范圍內(nèi)。用戶對(duì)相控陣探頭的類型選擇需要考慮到被測(cè)材料的可達(dá)性。江蘇奧氏體檢測(cè)相控陣探頭現(xiàn)貨
相控陣探頭電子聚焦的優(yōu)點(diǎn)是通過一個(gè)探頭能聚焦在聲場(chǎng)覆蓋的每一個(gè)深度。江蘇奧氏體檢測(cè)相控陣探頭現(xiàn)貨
相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類別：晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。晶片數(shù)量：常用的相控陣探頭一般有16到128個(gè)晶片，有些探頭的晶片多達(dá)256個(gè)。隨著晶片數(shù)量的增多，聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會(huì)增強(qiáng)，同時(shí)檢測(cè)所覆蓋的區(qū)域也會(huì)擴(kuò)大，然而探頭和儀器的成本費(fèi)用也會(huì)增加。每個(gè)晶片被單獨(dú)脈沖激勵(lì)，以創(chuàng)建希望得到的波前。因此這些晶片排列方向的維度通常被稱為主動(dòng)方向或偏轉(zhuǎn)方向。江蘇奧氏體檢測(cè)相控陣探頭現(xiàn)貨
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