掃描電鏡應(yīng)用范圍：進行動態(tài)觀察。在掃描電鏡中,成象的信息主要是電子信息。根據(jù)近代的電子工業(yè)技術(shù)水平,即使高速變化的電子信息,也能毫不困難的及時接收、處理和儲存,故可進行一些動態(tài)過程的觀察。如果在樣品室內(nèi)裝有加熱、冷卻、彎曲、拉伸和離子刻蝕等附件,則可以通過電視裝置,觀察相變、斷裂等動態(tài)的變化過程。10從試樣表面形貌獲得多方面資料。在掃描電鏡中,不但可以利用入射電子和試樣相互作用產(chǎn)生各種信息來成象,而且可以通過信號處理方法,獲得多種圖象的特殊顯示方法,還可以從試樣的表面形貌獲得多方面資料。掃描電鏡與電視一樣是由控制電子束偏轉(zhuǎn)的電子系統(tǒng)來完成的。遵義日立掃描電鏡報價
掃描電鏡鏡筒：鏡筒包括電子長筒械具、聚光鏡、物鏡及掃描系統(tǒng)。其作用是產(chǎn)生很細(xì)的電子束(直徑約幾個nm)，并且使該電子束在樣品表面掃描，同時激發(fā)出各種信號。電子信號的收集與處理系統(tǒng)在樣品室中，掃描電子束與樣品發(fā)生相互作用后產(chǎn)生多種信號，其中包括二次電子、背散射電子、X射線、吸收電子、俄歇(Auger)電子等。在上述信號中，較主要的是二次電子，它是被入射電子所激發(fā)出來的樣品原子中的外層電子，產(chǎn)生于樣品表面以下幾nm至幾十nm的區(qū)域，其產(chǎn)生率主要取決于樣品的形貌和成分。通常所說的掃描電鏡像指的就是二次電子像，它是研究樣品表面形貌的較有用的電子信號。檢測二次電子的檢測器的探頭是一個閃爍體，當(dāng)電子打到閃爍體上時，就在其中產(chǎn)生光，這種光被光導(dǎo)管傳送到光電倍增管，光信號即被轉(zhuǎn)變成電流信號，再經(jīng)前置放大及視頻放大，電流信號轉(zhuǎn)變成電壓信號，較后被送到顯像管的柵極。銅仁日本電子掃描電鏡廠家掃描電鏡普遍應(yīng)用于沉積學(xué)領(lǐng)域的研究。
光學(xué)顯微鏡以可見光為介質(zhì)，掃描電鏡以電子束為介質(zhì)，由于電子束波長遠(yuǎn)較可見光小，故掃描電鏡分辨率遠(yuǎn)比光學(xué)顯微鏡高。光學(xué)顯微鏡放大倍率較高只有約1500倍，掃描電鏡可放大到10000倍以上。在10KV的加速電壓之下，電子的波長但為0.12?，遠(yuǎn)低于可見光的4000-7000?，所以掃描電鏡分辨率自然比光學(xué)顯微鏡優(yōu)越許多，但是掃描電鏡的電子束直徑大多在50-100?之間，電子與原子核的彈性散射(ElasticScattering)與非彈性散射(InelasticScattering)的反應(yīng)體積又會比原有的電子束直徑增大，因此一般穿透式掃描電鏡的分辨率比掃描電鏡高。
掃描電鏡照片是灰度圖像，分為二次電子像和背散射電子像，主要用于表面微觀形貌觀察或者表面元素分布觀察。一般二次電子像主要反映樣品表面微觀形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情況需要對比分析。背散射電子像主要反映樣品表面元素分布情況，越亮的區(qū)域，原子序數(shù)越高?？幢砻嫘蚊?，電子成像，亮的區(qū)域高，暗的區(qū)域低。非常薄的薄膜，背散射電子會造成假像。導(dǎo)電性差時，電子積聚也會造成假像。掃描電鏡圖像放大倍數(shù)定義為顯示器上圖像寬度與電子束在試樣上相應(yīng)方向掃描寬度之比。例如顯示器上圖像寬度為100mm，入射電子束在試樣上掃描寬度為10um,則放大倍數(shù)M為:M=100mm/10um=10000因顯示器上圖像寬度一定，只要改變電子束在試樣表面的掃描寬度，就可連續(xù)地幾倍、十幾倍直至幾萬倍地改變圖像放大倍數(shù)。放大倍數(shù)調(diào)整范圍寬是掃描電鏡的一個突出優(yōu)點，低倍數(shù)便于選擇視場、觀察試樣的全貌，高倍數(shù)則觀察部分微區(qū)表面的精細(xì)形貌結(jié)構(gòu)。掃描電鏡普遍應(yīng)用于材料學(xué)領(lǐng)域的微觀研究。
掃描電鏡主要是觀察物體的表面形貌，能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，也可以從各種角度對樣品進行觀察，樣品制備過程簡單。掃描電鏡有普通掃描電鏡、分析型掃描電鏡和場發(fā)射長筒械具掃描電鏡。掃描電鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的人射電子轟擊物質(zhì)表面時，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時，也可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動(聲子)、電子振蕩(等離子體)。掃描電鏡掃描是指在圖象上從左到右、從上到下依次對圖象象元掃掠的工作過程。銅仁日本電子掃描電鏡廠家
掃描電鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品。遵義日立掃描電鏡報價
掃描電鏡(scanningelectronmicroscope,SEM)是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點。目前,掃描電鏡已被普遍應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究,但在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。遵義日立掃描電鏡報價
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