如果用于識(shí)別輻射源，由于準(zhǔn)峰值檢波器算法結(jié)果總是小于或等于峰值檢波器，因此使用峰值檢波器足夠。準(zhǔn)峰值檢波器結(jié)果和峰值檢波器結(jié)果都涉及相同的信號(hào)重復(fù)率，您可以用公式表示數(shù)學(xué)波形，或者在故障排查過(guò)程中考慮到這一點(diǎn)。另一方面，EMI濾波器只會(huì)略微改變結(jié)果。與測(cè)試接收機(jī)不同，示波器在設(shè)計(jì)上沒(méi)有內(nèi)置EMI一致性限值測(cè)試。使用大多數(shù)示波器都配有的模板測(cè)試，或遠(yuǎn)程軟件，可以在示波器上定義EMI一致性限值從而模擬EMI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。然后，您可以進(jìn)一步設(shè)置更多的模板，發(fā)現(xiàn)感興趣的問(wèn)題區(qū)域。通過(guò)EMI測(cè)試﹐而使設(shè)計(jì)工程師花費(fèi)許多時(shí)間和精力投入EMI的修改。成都GJB151BEMI診斷頻譜儀
種診斷輻射EMI機(jī)理的實(shí)驗(yàn)臺(tái)及簡(jiǎn)易診斷方法,實(shí)驗(yàn)臺(tái)由工作臺(tái),電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組,頻譜分析儀和計(jì)算機(jī)構(gòu)成;電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組可以在工作臺(tái)上方三維移動(dòng);電場(chǎng)探頭和磁場(chǎng)探頭組交替連接頻譜分析儀輸入端,頻譜分析儀的輸出端接計(jì)算機(jī).診斷步驟:將被測(cè)電路平面區(qū)域劃分為若干輻射干擾單元;確定輻射電/磁場(chǎng)精測(cè)頻段.輻射干擾單元輻射干擾精測(cè),根據(jù)輻射電/磁場(chǎng)精測(cè)頻段調(diào)整頻譜分析儀的掃描頻段,分別用電/磁場(chǎng)探頭依次測(cè)量各輻射干擾單元的電平值,計(jì)算各輻射干擾單元的輻射電/磁場(chǎng)強(qiáng)度.本發(fā)明實(shí)驗(yàn)臺(tái)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低.本發(fā)明方法能快速簡(jiǎn)便地檢測(cè)出電子系統(tǒng)的輻射EMI噪聲種類(lèi),為輻射EMI噪聲壓制方案提供理論依據(jù)。成都GJB151BEMI診斷頻譜儀需要記住的一個(gè)好規(guī)則是，準(zhǔn)峰值檢測(cè)值總是小于或等于峰值檢測(cè)值，永遠(yuǎn)不會(huì)大于峰值檢測(cè)值。
我們將初步的診斷步驟詳列于下﹐并加以說(shuō)明其關(guān)鍵點(diǎn)﹐這些步驟看來(lái)似乎非常平凡簡(jiǎn)單﹐不像介紹對(duì)策方法各種理論秘籍絕招層出不窮﹐變化奧妙。其實(shí)﹐許多很好EMI工程師在其對(duì)策處理時(shí)﹐大部份的時(shí)間都在重復(fù)這些步驟與判斷。筆者要再次強(qiáng)調(diào)﹐只有真正找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐才是解決EMI的好的途徑﹐若只憑理論推測(cè)或經(jīng)驗(yàn)判斷﹐有時(shí)反而會(huì)花費(fèi)更多的時(shí)間和精力。將桌子轉(zhuǎn)到待測(cè)（EUT）很大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關(guān)掉EUT電源加以確認(rèn)。
故在EMI的問(wèn)題上﹐常?？吹揭粋€(gè)EMI有問(wèn)題的產(chǎn)品﹐由于未能找到造成EMI問(wèn)題的關(guān)鍵﹐花了許多時(shí)間﹐下了許多對(duì)策﹐卻始終無(wú)法解決﹐其中亦不乏專(zhuān)業(yè)的EMI工程師。以往談到EMI往往強(qiáng)調(diào)對(duì)策方法﹐甚而視許多對(duì)策秘決或絕招﹐然而沒(méi)有正確的診斷﹐而在產(chǎn)品上加了一大堆EMI壓制組件﹐其結(jié)果往往只會(huì)使EMI情況更糟。起初接觸產(chǎn)品EMI對(duì)策修改時(shí)﹐會(huì)聽(tīng)到很好EMI工程師說(shuō)把所有EMI對(duì)策拿掉﹐就可以通過(guò)測(cè)試。初聽(tīng)以為是句玩笑話(huà)﹐如今回想這是很寶貴的經(jīng)驗(yàn)談。而后亦聽(tīng)到許多EMI工程師談到類(lèi)似的經(jīng)驗(yàn)。本文中將舉出實(shí)際的例子﹐讓讀者更加了解EMI的對(duì)策觀念。待測(cè)設(shè)備上的哪個(gè)信號(hào)與EMI事件是同時(shí)發(fā)生的？一般常見(jiàn)的做法是用示波器探測(cè)DUT上的電氣信號(hào)。
MIL-STD-285和NSA65-6是兩種常用的屏蔽效能標(biāo)準(zhǔn)，其測(cè)試目的類(lèi)似于設(shè)備箱體的屏蔽效能測(cè)試，只不過(guò)它是在一個(gè)較大規(guī)模上進(jìn)行罷了。測(cè)試要求通常會(huì)用到磁場(chǎng)、電場(chǎng)、平面波和微波發(fā)射接收設(shè)備；被測(cè)的頻率范圍從幾十Hz到幾十GHz；可能會(huì)要求屏蔽效能值大于100dB。近場(chǎng)探頭和天線(xiàn)與頻譜分析儀一起用于標(biāo)定射頻泄漏區(qū)域，就象在一個(gè)物理小規(guī)模上測(cè)試電子設(shè)備所做的一樣。在這里會(huì)碰到許多同樣的問(wèn)題，通常的射頻泄漏區(qū)域?yàn)殄e(cuò)誤的導(dǎo)電封裝、襯墊、濾波器以及很可怕的“暗道”。所謂“暗道”指的是箱體外部的一個(gè)射頻泄漏點(diǎn)在箱體內(nèi)部的一個(gè)不同點(diǎn)上引起了射頻泄漏。在短波頻率上定位“暗道”是一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的工作。一致性測(cè)試是在遠(yuǎn)場(chǎng)中進(jìn)行的，而不是近場(chǎng)。西安GJB151BEMI診斷原理
準(zhǔn)峰值以便對(duì)從廣播角度看解釋為“干擾”的信號(hào)施加更多的權(quán)重。成都GJB151BEMI診斷頻譜儀
理解EMI報(bào)告在討論排查技術(shù)之前，介紹一下EMI測(cè)試報(bào)告是很有必要的。乍一看，EMI報(bào)告似乎直接提供了有關(guān)特定頻率點(diǎn)故障的信息，因此事情看起來(lái)很簡(jiǎn)單，就是使用報(bào)告中的數(shù)據(jù)確定設(shè)計(jì)中的哪個(gè)元件包含問(wèn)題源頻率，并特別加以注意，以便通過(guò)下一輪測(cè)試。然而，雖然許多測(cè)試條件在報(bào)告中是明確表示的，但一些需要考慮的重要事情可能并不那么明顯。在審查設(shè)計(jì)并試圖判斷問(wèn)題源時(shí)，理解測(cè)試室如何生成這種報(bào)告是很有幫助的。需要記住的一個(gè)好規(guī)則是，準(zhǔn)峰值檢測(cè)值總是小于或等于峰值檢測(cè)值，永遠(yuǎn)不會(huì)大于峰值檢測(cè)值。因此你可以使用峰值檢測(cè)來(lái)開(kāi)展你的EMI排查和診斷。你不需要達(dá)到與EMI部門(mén)或?qū)嶒?yàn)室掃描同等程度的精度，因?yàn)闇y(cè)量都是相對(duì)值。如果你的實(shí)驗(yàn)室報(bào)告中的準(zhǔn)峰值檢測(cè)值表明，設(shè)計(jì)超過(guò)了3dB，峰值檢測(cè)值超過(guò)了6dB，那么你就知道你需要的修復(fù)工作是將信號(hào)減小3dB或更多。成都GJB151BEMI診斷頻譜儀