EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對(duì)于EMI設(shè)計(jì)都摸不著頭腦，其實(shí)我當(dāng)初也是一樣，但是在做了幾次設(shè)計(jì)以后，也逐漸有了一些體會(huì)。首先，對(duì)于大腦里面一定要清楚一個(gè)概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對(duì)于一般的EMI中的空間輻射來(lái)說(shuō)，是由于信號(hào)的回路到了可以和空間阻抗相比擬的地步，因而信號(hào)通過(guò)空間“輻射”出來(lái)。瞭解了這一點(diǎn)，要做的就是把信號(hào)回路的阻抗降下來(lái)?？刂菩盘?hào)回路的阻抗，主要的辦法是縮短信號(hào)的長(zhǎng)度，減少回路的面積，其次是採(cǎi)取合理的端接，控制回路的反射。其實(shí)控制信號(hào)回路的一個(gè)簡(jiǎn)單的辦法就是對(duì)重點(diǎn)信號(hào)進(jìn)行包地處理（在兩邊近的距離走地線，尤其是雙面板要特別注意，因?yàn)殡p面微帶模型阻抗有150歐姆，和自由空間布相上下，而包地可以提供幾十歐姆的阻抗），請(qǐng)注意由于走線本身在高頻里面也是有阻抗的，所以好採(cǎi)用地平面或者地線多次接過(guò)孔到地平面。我很多的設(shè)計(jì)都是在採(cǎi)用包地以后，避免了時(shí)鐘信號(hào)的輻射超標(biāo)。人們周邊所有的物體時(shí)刻都在進(jìn)行電磁輻射。鄭州多媒體無(wú)線性能儀器
輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)-TS18整體介紹：具有無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品在工作時(shí)，除了主載波頻率及正常調(diào)制相關(guān)的邊帶信號(hào)外，往往會(huì)產(chǎn)生其他的離散頻率信號(hào)，造成對(duì)外邊設(shè)備和電磁環(huán)境的干擾。按照標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)要求，雜散信號(hào)的強(qiáng)度不能超過(guò)相應(yīng)的限值，否則產(chǎn)品就不能對(duì)外銷(xiāo)售。雜散信號(hào)產(chǎn)生的主要原因有：諧波發(fā)射、寄生的發(fā)射、互調(diào)產(chǎn)物、變頻產(chǎn)物等，而每種原因?qū)е碌碾s散問(wèn)題在解決方法和措施上也不盡相同，由此給設(shè)計(jì)者帶來(lái)極大的困擾。如何在產(chǎn)品設(shè)計(jì)初期和方案驗(yàn)證階段就能對(duì)產(chǎn)品的輻射雜散特性做評(píng)估測(cè)試和問(wèn)題分析，輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試方法與標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室相同，測(cè)試結(jié)果一致性高，對(duì)應(yīng)性好，便捷省成本，應(yīng)用場(chǎng)景靈活，既可以進(jìn)行預(yù)測(cè)試，也可用于雜散問(wèn)題的診斷分析，是產(chǎn)品研發(fā)階段解決輻射雜散問(wèn)題的有效工具。成都自動(dòng)化輻射雜散配置信號(hào)接收端比較這兩個(gè)電壓的差值來(lái)判斷發(fā)送端發(fā)送的邏輯狀態(tài)。
輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類(lèi)問(wèn)題的途徑，但目前處于研究階段。輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。近場(chǎng)測(cè)量對(duì)天線口徑場(chǎng)診斷的精度和速度：近場(chǎng)測(cè)量對(duì)常規(guī)陣列天線口徑場(chǎng)的診斷有較好的診斷精度，但對(duì)于很低副瓣天線陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。
人眼可接收到的電磁輻射，波長(zhǎng)大約在380至780納米之間，稱為可見(jiàn)光。只要是本身溫度大于一定零度的物體，都可以發(fā)射電磁輻射，而世界上并不存在溫度等于或低于一定零度的物體。因此，人們周邊所有的物體時(shí)刻都在進(jìn)行電磁輻射。盡管如此，只有處于可見(jiàn)光頻域以內(nèi)的電磁波，才是可以被人們看到的。電磁波不需要依靠介質(zhì)傳播，各種電磁波在真空中速率固定，速度為光速。常見(jiàn)的電磁輻射源：一般來(lái)說(shuō)，雷達(dá)系統(tǒng)、電視、手機(jī)和廣播發(fā)射系統(tǒng)、射頻感應(yīng)及介質(zhì)加熱設(shè)備、射頻及微波醫(yī)療設(shè)備、各種電加工設(shè)備、通信發(fā)射臺(tái)站、衛(wèi)星地球通信站、大型電力發(fā)電站、輸變電設(shè)備、高壓及超高壓輸電線大多數(shù)家用電器等都是可以產(chǎn)生各種形式、不同頻率、不同強(qiáng)度的電磁輻射源。近場(chǎng)探頭在受試設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微相機(jī)的協(xié)助下完成。
EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問(wèn)題：一次性很難通過(guò)昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來(lái)源；截短PCB線路，然后重連，才有可能找到噪聲來(lái)源；很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號(hào)和/或數(shù)字信號(hào)。遇到傳導(dǎo)測(cè)試超標(biāo)問(wèn)題，第一步要做的，通常是定位噪聲分量主要是差模還是共模，通常的測(cè)試設(shè)備可以用來(lái)區(qū)分差共模分量，但個(gè)人覺(jué)得太麻煩，并且測(cè)試出來(lái)的是相對(duì)值，并不一定可以具備指導(dǎo)意義。簡(jiǎn)單的辦法是，在輸入端口并聯(lián)一個(gè)X電容，幾十nF到幾百nF，如果所關(guān)心的頻段測(cè)試通過(guò)了，就說(shuō)明噪聲的干擾主要是差模干擾，或者更準(zhǔn)確地說(shuō)，通過(guò)壓低差模分量，就一定能夠搞定問(wèn)題。在EMI測(cè)試中，信號(hào)線對(duì)于電磁噪聲來(lái)說(shuō)是一個(gè)很好的耦合傳播途徑。（EMC電磁干擾EMI與電磁抗EMS）問(wèn)題也受到各國(guó)有關(guān)部門(mén)和生產(chǎn)企業(yè)的日益重視。山東韓國(guó)KC輻射雜散系統(tǒng)價(jià)格
掃描儀和近場(chǎng)探頭系列（從SX到LF）的組合可以測(cè)量頻率范圍為100kHz-10GHz的電場(chǎng)或磁場(chǎng)。鄭州多媒體無(wú)線性能儀器
輻射抗擾度（RS）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場(chǎng)近場(chǎng)耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，采用近場(chǎng)電磁耦合的方式，將10kHz-6GHz的輻射抗擾度(RS)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，解決輻射抗擾度問(wèn)題，提高產(chǎn)品的輻射抗擾度能力。普遍用于醫(yī)療、感應(yīng)器、無(wú)線終端模塊、儀器儀表、汽車(chē)電子部件等行業(yè)的輻射抗擾度問(wèn)題解決，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、輻射抗擾度敏感源頭定位、器件選型輻射抗擾度性能評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的輻射抗擾度性能評(píng)估、電磁仿真驗(yàn)證等方面。鄭州多媒體無(wú)線性能儀器
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