靜安區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)推薦

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    那么IC在使用期的壽命測(cè)試中的HTOL是什么呢？使用期的壽命測(cè)試又包含高溫工作壽命（HTOL）和低溫工作壽命（LTOL），對(duì)于亞微米級(jí)尺寸的器件，熱載流子效應(yīng)對(duì)于器件壽命有著***的影響，低溫工作時(shí)相對(duì)比較苛刻，所以像存儲(chǔ)器、處理器等納米級(jí)別工藝的產(chǎn)品通常需要進(jìn)行低溫工作壽命測(cè)試。而對(duì)于。進(jìn)行HTOL（HighTemperatureOperationLife）測(cè)試的目的就是為了確定長時(shí)間的電氣偏差和溫度對(duì)器件的影響，評(píng)估器件在超熱和超電壓情況下一段時(shí)間的耐久力，也就是在正常工作的壽命期間潛在的固有故障被加速，這樣就可以在相對(duì)比較短的時(shí)間內(nèi)模擬出產(chǎn)品的正常使用壽命。HTOL是在產(chǎn)品放行和批量生產(chǎn)前進(jìn)行評(píng)估，對(duì)應(yīng)浴缸曲線曲線的UsefulLife期，通常是抽樣進(jìn)行的。此外，HTOL還可以用于可靠性監(jiān)控以及對(duì)存在潛在缺陷的產(chǎn)品進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估。 TH801智能老化系統(tǒng)，監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)異常自動(dòng)報(bào)警，實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅度提高HTOL效率。智能化HTOL測(cè)試機(jī)供應(yīng)商

上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng)，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度，具體到每顆芯片的狀態(tài)數(shù)據(jù)。靜安區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)推薦

本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元經(jīng)過編譯和擦除循環(huán)后再進(jìn)行htol測(cè)試的輸出電流iref分布圖。閃存參考單元進(jìn)行編譯和擦除循環(huán)后，htol測(cè)試過程中。閃存參考單元的輸出電流iref在48小時(shí)的測(cè)試值iref1與在初始的測(cè)試值iref0之間偏移量減小，實(shí)際驗(yàn)證多個(gè)型號(hào)的閃存產(chǎn)品采用本實(shí)施例的方法后，htol可靠性驗(yàn)證通過，而且測(cè)試可靠，使閃存產(chǎn)品較短時(shí)間內(nèi)進(jìn)入客戶樣品量產(chǎn)階段。綜上所述，本發(fā)明所提供的一種閃存htol測(cè)試方法，對(duì)閃存參考單元進(jìn)行編譯和擦除循環(huán)后，再進(jìn)行閃存htol可靠性驗(yàn)證，編譯和擦除循環(huán)會(huì)在閃存參考單元中引入電子，引入的電子在閃存htol可靠性驗(yàn)證過程存在丟失，進(jìn)而對(duì)空穴在htol測(cè)試過程中的丟失形成補(bǔ)償，降低了閃存參考單元的輸出電流iref的偏移量，從而使閃存htol讀“0”通過，解決了閃存htol測(cè)試中讀點(diǎn)失效的問題，提高閃存質(zhì)量。顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些改動(dòng)和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包括這些改動(dòng)和變動(dòng)在內(nèi)。靜安區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)推薦

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