第二時間點讀點、第三時間點讀點至第n時間點讀點。在每個時間點讀點過程為:將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進行比對判斷,若iref<i,則閃存讀出“1”;若iref>i,則閃存讀出“0”。具體的,在閃存(例如norflash)產(chǎn)品htol可靠性驗證的階段的測試流程例如依次為:初始(***時間點)讀點、48小時(第二時間點)讀點、168小時(第三時間點)讀點、500小時(第四時間點)讀點、1000小時(第n時間點)讀點。本發(fā)明實施例的閃存參考單元未經(jīng)過編譯和擦除循環(huán)而直接進行htol測試時,發(fā)現(xiàn)閃存htol可靠性驗證在48小時(hrs)讀點失效。上海頂策科技自主研發(fā)TH801智能一體化HTOL測試機,擁有多項發(fā)明專利及軟件著作權(quán)。一體化HTOL測試機
蓋模擬,數(shù)字,混合信號,SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計,原理圖設(shè)計,PCBlayout加工制作,老化程序開發(fā)調(diào)試,可靠性測試試驗,出具可靠性報告等一條龍服務(wù)。自主研發(fā)在線實時單顆監(jiān)測技術(shù),通過監(jiān)測數(shù)據(jù),可實時發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,大幅提高HTOL效率,節(jié)省更多時間、FA成本,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性,讓報告更有說服力,下游客戶更放心。20年以上的豐富測試技術(shù)積累及運營經(jīng)驗,擁有多項發(fā)明專利及軟件著作權(quán),自成立以來,已經(jīng)為超過500家半導(dǎo)體公司提供高質(zhì)量,高效率,低成本,一條龍測試解決方案!虹口區(qū)HTOL測試機排行榜上海頂策科技智能HTOL系統(tǒng),實時監(jiān)測并記錄環(huán)境溫度,以及每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)。
模擬,數(shù)字,混合信號,SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計,原理圖設(shè)計,PCBlayout加工制作,老化程序開發(fā)調(diào)試,可靠性測試試驗,出具可靠性報告。上海頂策科技有限公司提供高質(zhì)量、高效率、低成本HTOL測試方案??煽啃詼y試事業(yè)部提供可靠性測試整體解決方案,包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備,以及測試方案制定,PCB設(shè)計制作,測試試驗,可以滿足各類芯片可靠性測試需求。自主研發(fā)在線實時單顆監(jiān)測技術(shù),大幅度提高HTOL效率,節(jié)省更多時間、FA成本,全程數(shù)據(jù)記錄,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性,有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄,讓報告更有說服力,下游客戶更放心。
AEC-Q1001.對于非易失性存儲器樣品,在HTOL之前進行預(yù)處理:等級0:150℃,1000h等級1:125℃,1000h等級2:105℃,1000h等級3:85℃,1000h2.各等級溫度對應(yīng)的時間是比較低要求,通過計算或測量獲取HTOL的Tj(結(jié)溫);3.當(dāng)進行HTOL的器件Tj大于或等于最高工作溫度時的Tj,那么Tj可以代替Ta(環(huán)境溫度),但是要低于***比較大Tj;4.如果Tj被用來作為HTOL的條件,在Ta和1000h條件下的器件需要使用;(max)需要保證交直流參數(shù)?!鏅?quán)聲明:本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接:。 上海頂策科技智能HTOL系統(tǒng),實時監(jiān)測并記錄環(huán)境溫度,確保芯片處于正常HTOL狀態(tài),保證HTOL測試質(zhì)量。
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