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芯片HTOL測(cè)試如何做到省力省心?上海頂策科技有限公司,提供可靠性測(cè)試整體解決方案:可靠性設(shè)備,HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測(cè)試試驗(yàn),滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號(hào),SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì),原理圖設(shè)計(jì),PCBlayout加工制作,老化程序開發(fā)調(diào)試,可靠性測(cè)試試驗(yàn),出具可靠性報(bào)告等全方面服務(wù)。自有發(fā)明專利的智能HTOL系統(tǒng),自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù),可靈活配置芯片工作狀態(tài),并施加信號(hào),非常方便HTOLSetup,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度,以及每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù),確保芯片處于正常HTOL狀態(tài)。TH801智能老化系統(tǒng),全程數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)記錄,讓HTOL問(wèn)題更容易分析,更有追溯性。HTOL測(cè)試機(jī)哪家強(qiáng)
在每個(gè)時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)過(guò)程為:將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進(jìn)行比對(duì)判斷,若iref<i,則閃存讀出“1”;若iref>i,則閃存讀出“0”。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下有益效果:本發(fā)明所提供的閃存htol測(cè)試方法,對(duì)所述閃存參考單元循環(huán)進(jìn)行編譯和擦除,以在所述閃存參考單元中引入電子;對(duì)所述閃存進(jìn)行htol測(cè)試,所述引入電子在所述htol測(cè)試過(guò)程中存在丟失,以對(duì)htol測(cè)試過(guò)程中所述空穴的丟失形成補(bǔ)償。降低了閃存參考單元的輸出電流iref的偏移量,從而使閃存htol讀“0”通過(guò),解決了閃存htol測(cè)試中讀點(diǎn)失效的問(wèn)題,提高閃存質(zhì)量。附圖說(shuō)明圖1為本發(fā)明實(shí)施例的閃存htol測(cè)試方法流程圖;圖2為本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元的結(jié)構(gòu)示意圖;圖3為本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)閃存參考單元進(jìn)行編譯示意圖;圖4為本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)閃存參考單元進(jìn)行擦除示意圖;圖5為本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元未經(jīng)過(guò)編譯和擦除直接進(jìn)行htol測(cè)試的輸出電流iref分布圖;怎樣選擇HTOL測(cè)試機(jī)大概費(fèi)用上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng),實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度,具體到每顆芯片的狀態(tài)數(shù)據(jù)。
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上海頂策科技有限公司,提供可靠性測(cè)試整體解決方案,包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備,以及測(cè)試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測(cè)試試驗(yàn),滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。自主研發(fā)TH801智能一體化HTOL測(cè)試機(jī),實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度,以及每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù),確保芯片處于正常HTOL狀態(tài),保證HTOL測(cè)試質(zhì)量。通過(guò)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析,大幅提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本。全程數(shù)據(jù)記錄,讓HTOL問(wèn)題更容易分析,更有追溯性;有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄,讓報(bào)告更有說(shuō)服力,下游客戶更放心。上海頂策科技有限公司可靠性測(cè)試部,提供芯片可靠性測(cè)試整體解決方案。
提供可靠性測(cè)試整體解決方案:可靠性設(shè)備,HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測(cè)試試驗(yàn),滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號(hào),SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì),原理圖設(shè)計(jì),PCBlayout加工制作,老化程序開發(fā)調(diào)試,可靠性測(cè)試試驗(yàn),出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù),通過(guò)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析,大幅提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本,讓HTOL問(wèn)題更容易分析,更有追溯性,讓報(bào)告更有說(shuō)服力,下游客戶更放心。上海頂策科技有限公司智能一體化HTOL測(cè)試機(jī)TH801可以為芯片HTOL測(cè)試節(jié)省更多時(shí)間、FA成本。楊浦區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)哪家好
上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng),芯片狀態(tài)實(shí)時(shí)參數(shù)正態(tài)分布圖,散點(diǎn)圖等顯示,多維度分析芯片狀態(tài)。HTOL測(cè)試機(jī)哪家強(qiáng)
包括:將所述源極101和漏極102均懸空,在所述控制柵106上施加***擦除電壓vc1,在所述襯底100上施加第二擦除電壓vc2;其中,所述***擦除電壓vc1為負(fù)電壓,所述第二擦除電壓vc2為正電壓。所述***擦除電壓vc1的范圍為-10v~-8v,本實(shí)施例中例如為-9v;所述第二擦除電壓vc2的范圍為8v~10v,本實(shí)施例中例如為9v;擦除過(guò)程中的脈沖寬度為10ms~20ms。本實(shí)施例中,閃存參考單元的擦除原理是基于fowler-nordheim隧穿(簡(jiǎn)稱為fn隧穿),通過(guò)在襯底100上施加正電壓,在控制柵106上施加負(fù)電壓,以在隧穿氧化層103中注入空穴,同時(shí)減少浮柵104中的電子。HTOL測(cè)試機(jī)哪家強(qiáng)
上海頂策科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來(lái)、有夢(mèng)想有目標(biāo),有組織有體系的公司,堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來(lái)的道路上大放光明,攜手共畫藍(lán)圖,在上海市等地區(qū)的儀器儀表行業(yè)中積累了大批忠誠(chéng)的客戶粉絲源,也收獲了良好的用戶口碑,為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ),也希望未來(lái)公司能成為*****,努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量,我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息,斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**上海頂策科技供應(yīng)和您一起攜手步入輝煌,共創(chuàng)佳績(jī),一直以來(lái),公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠(chéng)實(shí)守信的方針,員工精誠(chéng)努力,協(xié)同奮取,以品質(zhì)、服務(wù)來(lái)贏得市場(chǎng),我們一直在路上!