模擬，數(shù)字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計，原理圖設(shè)計，PCBlayout加工制作，老化程序開發(fā)調(diào)試，可靠性測試試驗，出具可靠性報告。上海頂策科技有限公司提供高質(zhì)量、高效率、低成本HTOL測試方案。可靠性測試事業(yè)部提供可靠性測試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備，以及測試方案制定，PCB設(shè)計制作，測試試驗，可以滿足各類芯片可靠性測試需求。自主研發(fā)在線實時單顆監(jiān)測技術(shù)，大幅度提高HTOL效率，節(jié)省更多時間、FA成本，全程數(shù)據(jù)記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性，有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。上海頂策科技有限公司智能HTOL測試機TH801有全程數(shù)據(jù)記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。寶山區(qū)HTOL測試機設(shè)計
第二時間點讀點、第三時間點讀點至第n時間點讀點。在每個時間點讀點過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進行比對判斷，若iref＜i，則閃存讀出“1”；若iref＞i，則閃存讀出“0”。具體的，在閃存(例如norflash)產(chǎn)品htol可靠性驗證的階段的測試流程例如依次為：初始(***時間點)讀點、48小時(第二時間點)讀點、168小時(第三時間點)讀點、500小時(第四時間點)讀點、1000小時(第n時間點)讀點。本發(fā)明實施例的閃存參考單元未經(jīng)過編譯和擦除循環(huán)而直接進行htol測試時，發(fā)現(xiàn)閃存htol可靠性驗證在48小時(hrs)讀點失效。徐匯區(qū)HTOL測試機推薦上海頂策科技自主研發(fā)實時單顆監(jiān)測技術(shù)，可靈活配置芯片工作狀態(tài)，并施加信號，非常方便HTOL Setup。
閃存參考單元的隧穿氧化層103中會捕獲一些主要從生產(chǎn)工藝帶來的淺能級的空穴，在浮柵里面會注入所需要的電子。編譯過程中浮柵104可以捕獲電子，擦除過程中隧穿氧化層103會捕獲空穴；在經(jīng)過多次的編譯以及擦除后，會在浮柵104中有更多的電子，隧穿氧化層103中有更多的空**7中經(jīng)編譯和擦除循環(huán)后電子空穴的凈值(差值)與未經(jīng)編譯和擦除循環(huán)的電子空穴的凈值(差值)相等，從而保證閃存參考單元編譯和擦除循環(huán)后的輸出電流與編譯和擦除循環(huán)前的輸出電流是相等的。擦除過程中隧穿氧化層捕獲的空穴為深能級的空穴，這些深能級的空穴不容易移動，而在浮柵里面捕獲的電子比較活躍，在htol測試過程中高溫下會比較容易丟失，從而補償了閃存參考單元從生產(chǎn)工藝帶來的淺能級的空穴在htol測試過程中的丟失。
高溫工作壽命實驗（Hightemperatureoperatinglifetest:HTOL）測試目的：芯片處于高溫條件下，加入動態(tài)信號，并長時間工作，以評估其使用壽命，并確定其可靠性。測試條件：結(jié)溫(Tj)≧125℃，電壓Vcc≧Vccmax，測試時間：1000hrs樣品數(shù)：77ea/lot,3lots測試讀點：168、500、1000hrs參考規(guī)范：、JESD22-A108JESD22-A108B：Temperature,Bias,andOperatingLifeJESD85：METHODSFORCALCULATINGFAILURERATESINUNITSOFFITSJESD47K：Stress-Test-DrivenQualificationofIntegratedCircuitsJESD74：EarlyLifeFailureRateCalculationProcedureforSemiconductorComponents芯片工作壽命試驗、老化試驗(OperatingLifeTest)，為利用溫度、電壓加速方式，在短時間試驗內(nèi)，預(yù)估芯片在長時間可工作下的壽命時間(生命周期預(yù)估)。BI(Burn-in)/ELFR(EarlyLifeFailureRate)：評估早夭階段的故障率或藉由BI手法降低出貨的早夭率-DPPM(DefectPartsPer-Million)，針對失效模式中的InfantMortality，一般測試低于48小時，車規(guī)級芯片需要100%BI測試。HTOL(HighTemperatureOperatingLife)：評估可使用期的壽命時間-FIT/MTTF，針對失效模式中的Wearout，一般需要測試1000小時，屬于抽樣測試。 上海頂策科技智能HTOL系統(tǒng)，自主研發(fā)在線實時單顆監(jiān)測技術(shù)。
芯片HTOL測試一條龍服務(wù)，可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項可靠性測試方案制定，PCB設(shè)計制作，測試試驗，滿足各類芯片可靠性測試需求。涵蓋模擬，數(shù)字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計，原理圖設(shè)計，PCBlayout加工制作，老化程序開發(fā)調(diào)試，可靠性測試試驗，出具可靠性報告，上海頂策科技有限公司提供高質(zhì)量、高效率、低成本HTOL測試方案。自主研發(fā)在線實時單顆監(jiān)測技術(shù)，大幅度提高HTOL效率，節(jié)省更多時間、FA成本，全程數(shù)據(jù)記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性，有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄，讓報告更有說服力，下游客戶更放心。TH801智能老化系統(tǒng)，監(jiān)測數(shù)據(jù)異常自動報警，實時發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，可以整體降低30~50%的成本。徐匯區(qū)HTOL測試機推薦
TH801智能老化系統(tǒng)，全程數(shù)據(jù)實時記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性。寶山區(qū)HTOL測試機設(shè)計
3.試驗方法標(biāo)準(zhǔn)試驗方法備注JESD22-A108F-20171.應(yīng)力持續(xù)時間應(yīng)符合要求，在必要時進行測量；2.如果制造商提供了驗證數(shù)據(jù)，不需要在偏置下進行冷卻。中斷偏置1min，不應(yīng)認(rèn)為消除了偏置。1.測量所用時間不應(yīng)納入器件試驗時間；2.偏置指電源對引腳施加的電壓。，一般在老化結(jié)束96h內(nèi)進行；2.在消除偏置之前，器件在室溫下冷卻到穩(wěn)定狀態(tài)的10℃以內(nèi)。如果應(yīng)力消失，則試驗時間延長。GJB548B-2015方法：1.四種標(biāo)準(zhǔn)都保證了器件高溫工作時間的完整性。————————————————版權(quán)聲明：本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章，遵循，轉(zhuǎn)載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：。 寶山區(qū)HTOL測試機設(shè)計
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