AEC-Q1001.對于非易失性存儲器樣品，在HTOL之前進行預處理：等級0：150℃，1000h等級1：125℃，1000h等級2：105℃，1000h等級3：85℃，1000h2.各等級溫度對應的時間是比較低要求，通過計算或測量獲取HTOL的Tj（結溫）；3.當進行HTOL的器件Tj大于或等于最高工作溫度時的Tj，那么Tj可以代替Ta（環(huán)境溫度），但是要低于***比較大Tj；4.如果Tj被用來作為HTOL的條件，在Ta和1000h條件下的器件需要使用；(max)需要保證交直流參數。————————————————版權聲明：本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章，遵循，轉載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：。 TH801智能老化系統(tǒng)，全程HTOL數據記錄，讓質量報告更有說服力，下游客戶更放心。寶山區(qū)HTOL測試機哪里有賣的
GJB548B-2015方法，否則采用額定工作電壓S級**少時間有240h到120h共6個級別；B級**少時間160h到12h共10個級別；H級**少時間352h到80h共11級別；K級**少時間從700h到320h共6個級別。S級最低溫度從125℃到150℃共6個級別；B級別最低溫度從125℃到250℃；H級最低溫度從100℃到150℃；K級最低溫度從100℃到125℃?！鏅嗦暶鳎罕疚臑镃SDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章，遵循，轉載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：。 嘉定區(qū)HTOL測試機哪家強上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng)，擁有智能動態(tài)在線實時檢測技術，同時一體化結合ATE與高溫老化爐。
導致偏移量發(fā)生的原因是在htol可靠性驗證過程中閃存參考單元會有空穴丟失，而丟失的空穴是在制作閃存的生產工藝過程中捕獲(引入)的，短期內無法消除。而閃存產品從工程樣品(es，engineeringsample)到客戶樣品(cs，customersample)的時間不容延期。從測試端找出解決方案非常迫在眉睫。本發(fā)明實施例的閃存htol測試方法對所述閃存參考單元循環(huán)進行編譯和擦除，以在所述閃存參考單元中引入電子；對所述閃存進行htol測試，所述引入電子在所述htol測試過程中存在丟失，以對htol測試過程中所述空穴的丟失形成補償。
發(fā)明人檢查失效的原因，發(fā)現(xiàn)讀點失效為讀“0”失效，并且進一步研究發(fā)現(xiàn)閃存參考單元的輸出電流iref在48小時的測試值iref1與在初始的測試值iref0之間有偏移，具體偏移量經測試統(tǒng)計在4μa以內，而且iref1＜iref0，即48小時后iref往電流變小的方向偏移。閃存測試中，若iref＞i，則讀出“0”(即閃存讀“0”操作時，iref＞i)。閃存判斷讀“0”的具體操作過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經由讀出放大器進行比對判斷。當差值變弱到由讀出放大器無法進行識別時，讀“0”失效。當htol可靠性驗證經過***時間點例如48小時后，由于閃存參考單元的輸出電流iref往電流變小的方向偏移即iref變小，如此一來，閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值變小，超出讀出放大器識別范圍，于是讀“0”失效。測試發(fā)現(xiàn)經48小時閃存參考單元的輸出電流iref往電流變小的方向偏移后，進一步做htol測試，閃存參考單元的輸出電流iref在第三時間點例如168小時,第四時間點例如500小時,第五時間點例如1000小時測試均不會進一步偏移。上海頂策科技有限公司可靠性測試服務，涵蓋原理圖設計，PCBlayout加工制作，老化程序開發(fā)調試。
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