工業(yè)檢測熱紅外顯微鏡性價比

來源: 發(fā)布時間:2025-07-13

在失效分析的有損分析中,打開封裝是常見操作,通常有三種方法。全剝離法會將集成電路完全損壞,留下完整的芯片內部電路。但這種方法會破壞內部電路和引線,導致無法進行電動態(tài)分析,適用于需觀察內部電路靜態(tài)結構的場景。局部去除法通過特定手段去除部分封裝,優(yōu)點是開封過程不會損壞內部電路和引線,開封后仍可進行電動態(tài)分析,能為失效分析提供更豐富的動態(tài)數據。自動法則是利用硫酸噴射實現局部去除,自動化操作可提高效率和精度,不過同樣屬于破壞性處理,會對樣品造成一定程度的損傷。


熱紅外顯微鏡采用先進的探測器,實現對微小熱量變化的快速響應 。工業(yè)檢測熱紅外顯微鏡性價比

工業(yè)檢測熱紅外顯微鏡性價比,熱紅外顯微鏡

半導體制程已逐步進入 3 納米及更先進階段,芯片內部結構日趨密集,供電電壓也持續(xù)降低,這使得微觀熱行為對器件性能的影響變得更為明顯。致晟光電熱紅外顯微鏡是在傳統熱發(fā)射顯微鏡基礎上,經迭代進化而成的精密工具。在先進制程研發(fā)中,它在應對熱難題方面能提供一定支持,在芯片設計驗證、失效排查以及性能優(yōu)化等環(huán)節(jié),都能發(fā)揮相應的作用。其通過不斷優(yōu)化的技術,適應了先進制程下對微觀熱信號檢測的需求,為相關研發(fā)工作提供了有助于分析和解決問題的熱分布信息,助力研發(fā)人員更好地推進芯片相關的研究與改進工作。
鎖相熱紅外顯微鏡應用熱紅外顯微鏡通過 AI 輔助分析,一鍵生成熱譜圖,大幅提升科研與檢測效率。

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從傳統熱發(fā)射顯微鏡到熱紅外顯微鏡的演變,是其技術團隊對微觀熱分析需求的深度洞察與持續(xù)創(chuàng)新的結果。它既延續(xù)了通過紅外熱輻射解析熱行為的原理,又通過全尺度觀測、高靈敏度檢測、場景化分析等創(chuàng)新,突破了傳統技術的邊界。如今,這款設備已成為半導體失效分析、新材料熱特性研究、精密器件研發(fā)等領域的專業(yè)工具,為行業(yè)在微觀熱管控、缺陷排查、性能優(yōu)化等方面提供了更高效的技術支撐,推動微觀熱分析從 “可見” 向 “可知”“可控” 邁進。

車規(guī)級芯片作為汽車電子系統的重心,其可靠性直接關系到汽車的安全運行,失效分析是對提升芯片質量、保障行車安全意義重大。在車規(guī)級芯片失效分析中,熱紅外顯微鏡發(fā)揮著關鍵作用。芯片失效常伴隨異常發(fā)熱,通過熱紅外顯微鏡分析其溫度分布,能定位失效相關的熱點區(qū)域。比如,芯片內部電路短路、元器件老化等故障,會導致局部溫度驟升形成明顯熱點。從而快速定位潛在的故障點,為功率模塊的失效分析提供了強有力的工具。可以更好的幫助車企優(yōu)化芯片良率與安全性。熱紅外顯微鏡可模擬器件實際工作溫度測試,為產品性能評估提供真實有效數據。

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熱紅外顯微鏡(Thermal EMMI )技術不僅可實現電子設備的故障精細定位,更在性能評估、熱管理優(yōu)化及可靠性分析等領域展現獨特價值。通過高分辨率熱成像捕捉設備熱點分布圖譜,工程師能深度解析器件熱傳導特性,以此為依據優(yōu)化散熱結構設計,有效提升設備運行穩(wěn)定性與使用壽命。此外,該技術可實時監(jiān)測線路功耗分布與異常發(fā)熱區(qū)域,建立動態(tài)熱特征數據庫,為線路故障的早期預警與預防性維護提供數據支撐,從根本上去降低潛在失效風險。熱紅外顯微鏡通過熱輻射相位差算法,三維定位 3D 封裝中 Z 軸方向的失效層。檢測用熱紅外顯微鏡工作原理

芯片復雜度提升對缺陷定位技術的精度與靈敏度提出更高要求。工業(yè)檢測熱紅外顯微鏡性價比

熱紅外顯微鏡是半導體失效分析與缺陷定位的三大主流手段之一(EMMI、THERMAL、OBIRCH),通過捕捉故障點產生的異常熱輻射,實現精細定位。存在缺陷或性能退化的器件通常表現為局部功耗異常,導致微區(qū)溫度升高。顯微熱分布測試系統結合熱點鎖定技術,能夠高效識別這些區(qū)域。熱點鎖定是一種動態(tài)紅外熱成像方法,通過調節(jié)電壓提升分辨率與靈敏度,并借助算法優(yōu)化信噪比。在集成電路(IC)分析中,該技術廣泛應用于定位短路、ESD損傷、缺陷晶體管、二極管失效及閂鎖問題等關鍵故障。 工業(yè)檢測熱紅外顯微鏡性價比

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