檢測系統(tǒng)

老化衰減是指在長期使用中出現的極緩慢的功率下降，產生的主要原因與電池緩慢衰減有關，也與封裝材料的性能退化有關。其中紫外光的照射時導致組件主材性能退化的主要原因。紫外線的長期照射，使得EVA及背板（TPE結構）發(fā)生老化黃變現象，導致組件透光率下降，進而引起功率下降。這就要求組件廠商在選擇EVA及背板時，必須嚴格把關，所選材料在耐老化性能方面必須非常，以減小因輔材老化而引起組件功率衰減。初始的光致衰減，即光伏組件的輸出功率在剛開始使用的初幾天內發(fā)生較大幅度的下降，但隨后趨于穩(wěn)定。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司是一家專業(yè)提供檢測的公司，有想法的不要錯過哦！檢測系統(tǒng)

電位誘發(fā)衰減效應是電池組件長期在高電壓作用下，使玻璃、封裝材料之間存在漏電流，大量電荷狙擊在電池片表面，使得電池表面的鈍化效果惡化，導致組件性能低于設計標準。PID現象嚴重時，會引起一塊組件功率衰減50%以上，從而影響整個組串的功率輸出。一是系統(tǒng)設計原因：光伏電站的防雷接地是通過將方陣邊緣的組件邊框接地實現的，這就造成在單個組件和邊框之間形成偏壓，組件所處偏壓越高則發(fā)生PID現象越嚴重。對于P型晶硅組件，通過有變壓器的逆變器負極接地，消除組件邊框相對于電池片的正向偏壓會有效的預防PID現象的發(fā)生，但逆變器負極接地會增加相應的系統(tǒng)建設成本;二是光伏組件原因：高溫、高濕的外界環(huán)境使得電池片和接地邊框之間形成漏電流，封裝材料、背板、玻璃和邊框之間形成了漏電流通道。通過使用改變絕緣膠膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是實現組件抗PID的方式之一，在使用不同EVA封裝膠膜條件下，組件的抗PID性能會存在差異。三是電池片原因：電池片方塊電阻的均勻性、減反射層的厚度和折射率等對PID性能都有著不同的影響。上述引起PID現象的三方面中，由在光伏系統(tǒng)中的組件邊框與組件內部的電勢差而引起的組件PID現象被行業(yè)所公認。上海電池串檢測設備檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，用戶的信賴之選，歡迎您的來電哦！

當光伏組件出現問題時，局部電阻升高，該區(qū)域溫度就會升高。EL測試儀就像我們體檢中的X光機一樣，可以對光伏組件進行體檢--通過便攜式組件檢測儀紅外圖像拍攝，根據溫度不同，圖像呈現不同的顏色，從而非常容易的發(fā)現光伏組件的很多問題：隱裂、熱斑、PID效應等。光伏組件在運輸、搬運、安裝等過程中，容易被、撞擊，導致組件產生不易察覺的隱裂，極大影響組件輸出功率。用EL變可以檢測出來，1全自動對焦功能:運用激光技術使得成像系統(tǒng)可以自動對焦。2測距功能:運用藍牙無線技術輕松觀測到測試距離。3無線數據傳輸:運用wifi技術實現平板/手機遠程無線控制拍照與圖像傳輸。4移動電源:自主開發(fā)的移動電源使現場通電變得輕松方便。5全自動云臺系統(tǒng)，適合對大型地面電站進行檢測可以同時檢查大面積組件。

上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，EL檢測儀，又稱太陽能組件電致發(fā)光缺點檢測儀，是跟據硅材料的電致發(fā)光原理對組件進行缺點檢測及生產工藝監(jiān)控的測試設備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會發(fā)出1000-1100nm的紅外光，測試儀下方的攝像頭可以捕捉到這個波長的光并成像于電腦上。因為通電發(fā)的光與PN結中離子濃度有很大的關系，因此可以根據圖像來判斷硅片內部的狀況。EL照片中黑心片是反映在通電情況下電池片中心一圈呈現黑域，該部分沒有發(fā)出1150nm的紅外光，故紅外相片中反映出黑心，此類發(fā)光現象和硅襯底少數載流子濃度有關。這種電池片中心部位的電阻率偏高。檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，用戶的信賴之選，有想法可以來我司咨詢！

新興市場也在快速崛起，由于電價持續(xù)上漲，加上存在供電不足的隱憂，2018年澳大利亞大型地面光伏反超戶用光伏，2019年仍保持在4GW以上，包括墨西哥、土耳其都在快速發(fā)展。從全球整體來看，全球光伏市場前景樂觀，且仍將保持在一個較高的水平。目前，應對氣候變化已成為全世界的呼聲和共識，全球目前已經有146個國家設定了可再生能源目標，一些跨國企業(yè)已經實現或制定了的可再生能源使用目標。此外，主要市場比如中國、日本、印度、美國，中國仍將保持穩(wěn)定水平，會略有變化；歐洲市場未來將是老樹發(fā)新芽，歐盟市場在2019年增速明顯高于過去，達到11GW以上；上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司為您提供檢測，期待您的光臨！上海電池串檢測設備

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