常見的測(cè)試治具有哪些?1、鉆孔治具:鉆孔治具是一種可借由移動(dòng)模具以導(dǎo)引麻花鉆孔設(shè)備或其他鉆孔裝置到每個(gè)洞的準(zhǔn)確中心位置,并可在多個(gè)可互換零件上加速反復(fù)在洞孔中心定位的治具類型,主要應(yīng)用于制造業(yè)這些地方,如CNC機(jī)床,具有自動(dòng)移動(dòng)工具到正確位置,提高設(shè)備精度度等特點(diǎn)。2、功能測(cè)試治具:功能測(cè)試治具是一種用來測(cè)試半成品/成品或生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的某一個(gè)工序,以此來判斷被測(cè)對(duì)象是否達(dá)到了初始設(shè)計(jì)者目的的機(jī)械輔助設(shè)備,主要應(yīng)用于模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路等領(lǐng)域,適用于產(chǎn)品生產(chǎn)過程中及出貨時(shí)功能檢測(cè),有利于提高產(chǎn)品的質(zhì)量和測(cè)試效率。ICT測(cè)試點(diǎn)的要求有測(cè)點(diǎn)焊盤的中心間距至少為50mil,若能達(dá)到75mi...
ICT測(cè)試治具的盲點(diǎn):(就是ICT無法準(zhǔn)確測(cè)量的零件)1,當(dāng)小電容與大電容并聯(lián)時(shí),小電容無法準(zhǔn)確測(cè)量。2,當(dāng)小電容與小電阻并聯(lián)時(shí),小電容無法被準(zhǔn)確測(cè)量。3,當(dāng)大電阻與大電容并聯(lián)時(shí),大電阻無法被準(zhǔn)確測(cè)量。4,當(dāng)小電感同二極管并聯(lián)時(shí),二極管無法準(zhǔn)確測(cè)量。ICTTest主要是靠測(cè)試探針接觸PCBlayout出來的測(cè)試點(diǎn)來檢測(cè),其主要的測(cè)試內(nèi)容有以下幾點(diǎn):1,PCBA的線路開路,短路;2,電阻測(cè)試(歐姆定律R=U/I);3,電容,電感測(cè)試:a.恒定交流電壓源測(cè)電容:交流電壓一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2πfCx得:Cx=Ix/2πfVs;b.直流恒定電流源測(cè)電容:C=ΔT/ΔV*I;c.交恒定流電...
不管是故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等提供給維修人員參考,可以**地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴度。ICT測(cè)試治具能夠?qū)⑸厦嫠墓收弦杂”頇C(jī)印出測(cè)試結(jié)果,不管是故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等提供給維修人員參考,可以**地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴度。ICT測(cè)試治具能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì),自動(dòng)化測(cè)試治具,生產(chǎn)管理人員加以分析,模組測(cè)試治具,可以找出各種不良的產(chǎn)生原因,包括人為的因素在內(nèi),使之各個(gè)解決、完善、指正,藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。ICT測(cè)試治具根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖,把電路板上面的DIP腳,測(cè)試點(diǎn)的位置打孔。嘉興ict在線測(cè)試儀器多少錢當(dāng)測(cè)試員把ICT治具裝好后,發(fā)現(xiàn)測(cè)試不良連續(xù)2PCS以上應(yīng)首先檢...
ICT技術(shù)參數(shù):1)較大測(cè)試點(diǎn)數(shù)表示設(shè)備較多能設(shè)多少個(gè)測(cè)試點(diǎn)。一般電阻、電容等元件只有兩條引腳,每個(gè)元件只用兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)就夠了。ICT有多個(gè)引腳,每條引腳都需要設(shè)一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。元件越多,電路板越復(fù)雜,需要測(cè)試點(diǎn)越多。因此,測(cè)試儀需要足夠多的測(cè)試點(diǎn)數(shù)。目前ICT的較大測(cè)試點(diǎn)數(shù)可達(dá)2048點(diǎn),已足夠用了。2)可測(cè)試的元器件種類早期的ICT只可以測(cè)試開、短路,電阻、電容、電感、二極管等較少種類的元器件,經(jīng)不斷改進(jìn),現(xiàn)在ICT已可以測(cè)試三極管、穩(wěn)壓管、光耦、IC等多種元器件。ICT測(cè)試治具能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。深圳在線ICT自動(dòng)化測(cè)試治具生產(chǎn)批發(fā)ICT測(cè)試治具是ICT測(cè)...
ICT在線測(cè)試儀測(cè)試是怎樣讀取時(shí)間的?1.往單元A寫入數(shù)據(jù)"0",往單元B寫入數(shù)據(jù)"1",堅(jiān)持READ為使能狀態(tài)并讀取單元A值。2.地址轉(zhuǎn)換到單元B,實(shí)質(zhì)上就是ICT在線測(cè)試儀丈量內(nèi)存數(shù)據(jù)的堅(jiān)持時(shí)間,轉(zhuǎn)換時(shí)間就是從地址轉(zhuǎn)換開始到數(shù)據(jù)變換之間的時(shí)間。3.建立時(shí)間--輸入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換必需提前鎖定輸入時(shí)鐘的時(shí)間。4.堅(jiān)持時(shí)間--鎖定輸入時(shí)鐘之后輸入數(shù)據(jù)必需堅(jiān)持的時(shí)間。5.暫停時(shí)間--內(nèi)存單元能保持它狀態(tài)的時(shí)間。6.刷新時(shí)間--刷新內(nèi)存的很大允許時(shí)間。7.寫入恢復(fù)時(shí)間--寫操作之后的能讀取某一內(nèi)存單元所必須等待的時(shí)間。ICT可以測(cè)量到電路版上所有的線路及零件,可以提升產(chǎn)品品質(zhì)。ICT測(cè)試治具哪家好ICT測(cè)...
ICT測(cè)試治具通用功能,全檢出組裝電路板上零件:電阻、電容、電感、電晶體、FETLED.ICT能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)對(duì)普通二極體、穩(wěn)壓二極體、光藕器、IC等零件,是否在設(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作?;仞伒街瞥痰母纳?。ICT能夠先期找出制程不良所在如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯(cuò)件、空焊等不良問題。包括故障位置、零件規(guī)范值、測(cè)試值,ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果。以供維修人員參考。可以有效降低人員對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度,不需對(duì)產(chǎn)品線路了解,照樣有維修能力。生產(chǎn)管理人員加以分析,能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì)??梢哉页龈鞣N不良的發(fā)生原因,包括人為的因素在內(nèi),使之各個(gè)解決、完善、指正,藉以提升電路板制造...
信息與通信技術(shù)(ICT,informationandcommunicationstechnology)是一個(gè)涵蓋性術(shù)語,覆蓋了所有通信設(shè)備或應(yīng)用軟件:比如說,收音機(jī)、電視、移動(dòng)電話、計(jì)算機(jī)、網(wǎng)絡(luò)硬件和軟件、衛(wèi)星系統(tǒng),等等;以及與之相關(guān)的各種服務(wù)和應(yīng)用軟件,例如視頻會(huì)議和遠(yuǎn)程教學(xué)。此術(shù)語常常用在某個(gè)特定領(lǐng)域里,例如教育領(lǐng)域的信息通信技術(shù),健康保健領(lǐng)域的信息通信技術(shù),圖書館里的信息通信技術(shù)等等。此術(shù)語在美國之外的地方使用更普遍。在生產(chǎn)線路板時(shí),檢測(cè)電容是否插反是非常有必要的,特別人工插件的生產(chǎn)線,插錯(cuò)或者插反的概率非常高。老化ICT測(cè)試治具:用于對(duì)產(chǎn)品或半成品進(jìn)行抗疲勞的試驗(yàn)。沈陽ict在線測(cè)試儀...
ICT測(cè)試治具,包括測(cè)試機(jī)構(gòu),所述測(cè)試機(jī)構(gòu)上設(shè)有用于適配安裝待測(cè)試電路板的容置區(qū)間以及與所述待測(cè)試電路板相對(duì)應(yīng)的若干探針,通過若干所述探針與待測(cè)試電路板接觸以進(jìn)行在線測(cè)試,還包括驅(qū)動(dòng)連接于所述測(cè)試機(jī)構(gòu)上的蓋章裝置,所述蓋章裝置包括雕刻工具以及與所述雕刻工具連接的浮動(dòng)機(jī)構(gòu),所述雕刻工具能借助所述浮動(dòng)機(jī)構(gòu)在設(shè)定位置區(qū)間內(nèi)軸向浮動(dòng)地抵壓在待測(cè)試電路板上,以對(duì)測(cè)試后的相應(yīng)電路板進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)。需要說明的是,該ICT測(cè)試治具在使用時(shí),所述測(cè)試機(jī)構(gòu)的若干探針是與現(xiàn)有的ICT測(cè)試儀相連接的,從而在探針與待測(cè)試電路板接觸后利用所述ICT測(cè)試儀在線測(cè)試電路板是否合格。ICT測(cè)試治具的鉆孔文件的常規(guī)表示方法:T2表...
ICT測(cè)試治具精密PCB電子元件檢測(cè)中的作用:ICT測(cè)試治具應(yīng)力測(cè)試關(guān)系到把PCB板子固定在ICT測(cè)試治具上并進(jìn)行某項(xiàng)任何務(wù)的FVT(校核測(cè)試)。如果這些ICT測(cè)試治具沒有設(shè)計(jì)得很好,就很可能對(duì)PCB板產(chǎn)生超過允許范圍的應(yīng)力。甚至設(shè)計(jì)的很好的夾具也會(huì)因?yàn)闀r(shí)間過長在PCB板的內(nèi)部產(chǎn)生很大的應(yīng)力。為了預(yù)先發(fā)現(xiàn)問題、避免失誤,你可以對(duì)PCB板做一個(gè)應(yīng)變測(cè)試,把易于產(chǎn)生高壓力的流程中很大應(yīng)力測(cè)量出來,確定應(yīng)力處于允許范圍內(nèi)。如果測(cè)量得到的應(yīng)力值超過了電路板的允許應(yīng)力水平的較大值,你可以重新制造或者設(shè)計(jì)ICT測(cè)試治具,或者按要求改變流程(一般是調(diào)整頂針,減少測(cè)試時(shí)頂針對(duì)電路板的壓力),使得應(yīng)變值下降到允...
ICT測(cè)試治具應(yīng)力測(cè)試的重要性?對(duì)PCB板做一個(gè)應(yīng)變測(cè)試,把容易產(chǎn)生的高壓力的流程中很大應(yīng)力測(cè)量出來,確定應(yīng)力處于允許的范圍內(nèi)。如果應(yīng)力值過大,可以重新制造或者設(shè)計(jì)ICT測(cè)試治具、按要求改變流程,使得應(yīng)變值下降到允許范圍之內(nèi)。我們?cè)诜蠘?biāo)準(zhǔn)的前提下,對(duì)很多大型代工廠提供相關(guān)的ICT測(cè)試治具應(yīng)力測(cè)試服務(wù),同時(shí)發(fā)現(xiàn)不少ICT測(cè)試治具存在應(yīng)力過大的問題,需要調(diào)整,對(duì)PCB裝配測(cè)試流程來說還是需要進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的,提高自己產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)能力。ICT治具的優(yōu)點(diǎn):降低因誤判而損壞的元件成本、降低維修成本。合肥ICT測(cè)試儀器供應(yīng)商ICT測(cè)試治具:這樣的結(jié)構(gòu)通過浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)對(duì)彈性組件軸向伸縮量的調(diào)節(jié)達(dá)到間接控...
關(guān)于PCBA制作ICT治具的注意事項(xiàng),測(cè)試點(diǎn):1、被測(cè)點(diǎn)應(yīng)離板邊或折邊至少0.100"。2、盡量避免將被測(cè)點(diǎn)置于SMT零件上,因?yàn)榭山佑|錫面太小,而且容易壓傷零件。3、盡量避免使用過長零件腳(大于0.170"(4.3mm))或過大的孔徑(大于1.5mm)為被測(cè)點(diǎn),需特殊處理。定位孔:1、待測(cè)PCB須有2個(gè)或以上的定位孔,且孔內(nèi)不能沾錫,其位置較好在PCB之對(duì)角。2、定位孔選擇以對(duì)角線,距離較遠(yuǎn)之2孔為定位孔。3、被測(cè)點(diǎn)至定位孔位置公差應(yīng)為+/-0.002"。4、定位孔(ToolingHole)直徑較好為0.125"(3.175mm),公差在"+0.002"/-0.001"。ICT測(cè)試治具的鉆孔...
ICT測(cè)試不良及常見故障的分析方法:A、如果測(cè)試值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了較大的偏移,而不是量測(cè)值為無窮大的情況,則可能存在的原因有以下幾個(gè)方面:(1)錯(cuò)件;(2)有內(nèi)阻的被動(dòng)組件的影響;(3)測(cè)試點(diǎn)有問題。B、如果量測(cè)值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了很小的偏移,這種情況多為零件誤差引起的,但是為了準(zhǔn)確起見,較好是通過比較的方法看是否真的是由于誤差的原因而造成的量測(cè)值偏移,如果由于誤差的原因造成的話,需由工程人員作相應(yīng)的程序調(diào)整。ICT叫做自動(dòng)在線測(cè)試儀。長沙在線測(cè)試治具生產(chǎn)批發(fā)ICT測(cè)試治具對(duì)各商業(yè)有什么作用?不同的產(chǎn)品需要使用到的ICT測(cè)試治具不一樣,ICT測(cè)試治具基本上是非標(biāo)定制根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn)進(jìn)行...
ICT測(cè)試治具的產(chǎn)生是為了提高生產(chǎn)力、重復(fù)特定動(dòng)作、或使工作更加精確。治具的設(shè)計(jì)基本上是建立于邏輯,類似的治具可能會(huì)因?yàn)槭褂糜诓煌臅r(shí)間和地點(diǎn)而分別產(chǎn)生。測(cè)試治具可以分為幾個(gè)種類,包括ICT測(cè)試治具,功能測(cè)試治具,F(xiàn)CT測(cè)試治具等幾個(gè)類別。ICT測(cè)試治具有單面雙面之分,通用天板方便交換機(jī)種,使用可調(diào)培林座,容易保養(yǎng),使用壓克力&電木&FR-4材質(zhì)(或指定),直接gerber文件處理生成鉆孔文件,保證鉆孔精度。測(cè)試程式自動(dòng)生成,避免手工輸入出錯(cuò)之可能適用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord,PTI816等ICT機(jī)型。兩...
ICT測(cè)試治具的優(yōu)點(diǎn):測(cè)試治具能夠準(zhǔn)確的定位出產(chǎn)品的好壞,對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路,元件插錯(cuò)、插反、漏裝,管腳翹起、虛焊,pcb短路、斷線等故障。測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上,故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí),采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試,操作簡(jiǎn)單,測(cè)試快捷迅速,單板的測(cè)試時(shí)間一般在幾秒至幾十秒,能夠直接gerber文件處理生成鉆孔文件,保證鉆孔精度。測(cè)試程式自動(dòng)生成,避免手工輸入出錯(cuò)之可能。ICT測(cè)試治具的載板:用于放置保護(hù)被測(cè)試PCBA。廣州ICT自動(dòng)化測(cè)試治具導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因分析:ICT測(cè)試冶具在使用過程中有時(shí)候會(huì)出現(xiàn)不良現(xiàn)象,那么到底是哪些因...
應(yīng)用擴(kuò)展:除了ICT測(cè)試過程外,類似活動(dòng)包括四點(diǎn)彎曲測(cè)試、電路板子卡或連接器插入過程、分板過程、散熱器連接、對(duì)電路板的不適當(dāng)支撐等都會(huì)引起電路板過應(yīng)力失效,這些也可以通過Sherlock的ICT測(cè)試模塊進(jìn)行仿真。ICT技術(shù)參數(shù):1)測(cè)試速度測(cè)試一塊電路板的較少時(shí)間。測(cè)試速度與電路板的復(fù)雜程度有關(guān)。2)測(cè)試范圍電阻的測(cè)試范圍:一般0.05Ω~40MΩ;電容的測(cè)試范圍:一般1pF~40000μF電感的測(cè)試范圍:一般1μH~40H5)測(cè)試電壓、電流、頻率測(cè)試電壓一般為0~10V測(cè)試電流一般為1μA~80mA頻率一般為1Hz~100KHz6)電路板尺寸較大的電路板尺寸一般為460×350mm。ICT測(cè)...
ICT測(cè)試治具可以全檢出哪些零件的故障呢?ICT測(cè)試治具是一種專門用于測(cè)試元器件電阻、短路等故障的的一種治具產(chǎn)品,那么它主要可以全檢出哪些零件的故障呢?能夠在短時(shí)間內(nèi)測(cè)試出產(chǎn)品的不良,如組件漏件、反向、錯(cuò)件、空焊、短路等問題,將這些問題以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果,包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值,以供維修人員參考。ICT測(cè)試治具對(duì)技術(shù)要求較低,即使對(duì)產(chǎn)品不太解,也可以將測(cè)試不良的消息進(jìn)行統(tǒng)計(jì),生產(chǎn)管理人員加以分析,可以找出各種不良的產(chǎn)生原因,包括人為的因素在內(nèi),使之各個(gè)解決、完善、指正,藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。正因?yàn)槿绱?,所以ICT測(cè)試治具的功能強(qiáng)大,能給客戶帶來巨大的效益,也能得到普遍的運(yùn)用...
ICT測(cè)試治具:這樣的結(jié)構(gòu)通過浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)對(duì)彈性組件軸向伸縮量的調(diào)節(jié)達(dá)到間接控制雕刻工具的軸向浮動(dòng)的目的,有利于在組裝之前利用浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)進(jìn)行軸向伸縮量的預(yù)設(shè)置,并且在安裝后以及在ICT測(cè)試治具使用時(shí)也能方便的進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整,提高了操作的便利性。具體的,所述浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)包括一限位件和活動(dòng)套設(shè)于所述一限位件外的二限位件,所述一限位件和所述二限位件之間具有供安裝所述彈性組件的限制空間,其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,拆裝方便。其中,所述限制空間與所述彈性組件的設(shè)定軸向伸縮量是相對(duì)應(yīng)的。ICT治具驗(yàn)收審核標(biāo)準(zhǔn):外型尺寸是否和要求一致,即長,寬,高(行程)。合肥壓床式治具生產(chǎn)批發(fā)導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因分析:...
ICT測(cè)試點(diǎn)的要求:1.測(cè)試點(diǎn)的焊盤大小至少要有28mil,較好在35mil以上,建議設(shè)計(jì)為1mm。2.測(cè)點(diǎn)焊盤的中心間距至少為50mil,若能達(dá)到75mil或以上則可以降低治具成本。3.測(cè)試點(diǎn)不能被遮擋、覆蓋,焊盤中心距離器件外框至少120mil。4.如果空間不允許測(cè)試點(diǎn)放到了SMD焊盤上,一般應(yīng)放在焊盤的三分之一處,并保證不被貼片覆蓋的測(cè)試點(diǎn)焊盤距離30mil以上。5.測(cè)試點(diǎn)距離板框必須在120mil以上,測(cè)試點(diǎn)外緣和定位孔外緣至少120mil以上。6.測(cè)試點(diǎn)是焊盤,直徑為30-50mil或更大,測(cè)試點(diǎn)是孔,內(nèi)徑不超過15mil,盤徑為40-50mil或更大。7.測(cè)試點(diǎn)較好放置在同面,可以...
ICT測(cè)試治具的特性:ICT測(cè)試治具有單面雙面之分,通用天板方便交換機(jī)種,使用可調(diào)培林座,容易保養(yǎng),使用壓克力&電木&FR-4材質(zhì)(或指定),直接gerber文件處理生成鉆孔文件,保證鉆孔精度。測(cè)試程式自動(dòng)生成,避免手工輸入出錯(cuò)之可能適用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord,PTI816等ICT機(jī)型。兩被測(cè)點(diǎn)或被測(cè)點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距不得小于0.050(1.27mm)。以大于0.100(2.54mm)為佳,其次是0.075(1.905mm)。治具的測(cè)試點(diǎn)分布也盡量均勻,保證壓上后板子不變型,以免造成產(chǎn)品的損壞。ICT可...
ICT測(cè)試治具,包括測(cè)試機(jī)構(gòu),所述測(cè)試機(jī)構(gòu)上設(shè)有用于適配安裝待測(cè)試電路板的容置區(qū)間以及與所述待測(cè)試電路板相對(duì)應(yīng)的若干探針,通過若干所述探針與待測(cè)試電路板接觸以進(jìn)行在線測(cè)試,還包括驅(qū)動(dòng)連接于所述測(cè)試機(jī)構(gòu)上的蓋章裝置,所述蓋章裝置包括雕刻工具以及與所述雕刻工具連接的浮動(dòng)機(jī)構(gòu),所述雕刻工具能借助所述浮動(dòng)機(jī)構(gòu)在設(shè)定位置區(qū)間內(nèi)軸向浮動(dòng)地抵壓在待測(cè)試電路板上,以對(duì)測(cè)試后的相應(yīng)電路板進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)。需要說明的是,該ICT測(cè)試治具在使用時(shí),所述測(cè)試機(jī)構(gòu)的若干探針是與現(xiàn)有的ICT測(cè)試儀相連接的,從而在探針與待測(cè)試電路板接觸后利用所述ICT測(cè)試儀在線測(cè)試電路板是否合格。功能ICT測(cè)試治具的設(shè)計(jì)基本設(shè)計(jì)條件就是了解產(chǎn)...
各種ICT測(cè)試治具的制作流程:1、要根據(jù)情況選用適當(dāng)??的材料。2、才能大幅度的降低成本。3、重復(fù)使用的底座也可大幅度的降低成本,并且使治具制作標(biāo)準(zhǔn)化方便制作,提高治具的質(zhì)量。4、測(cè)試架中測(cè)試針及相關(guān)材料的選用對(duì)測(cè)試治具的好壞及成本是非常重要的。ICT測(cè)試治具使用的板材分析:測(cè)試夾具中所選用的板材一般有壓克力(有機(jī)玻璃)、環(huán)氧樹脂板等。普通的探細(xì)孔徑大于1.00毫米的治具,其板材以有機(jī)玻璃居多,有機(jī)玻璃價(jià)格便宜,同時(shí)有機(jī)玻璃相對(duì)較軟鉆孔時(shí)有脹縮探針套管與孔的結(jié)合緊密,由于有機(jī)玻璃是透明的夾具,出現(xiàn)問題檢查十分容易。但是普通的有機(jī)玻璃在鉆孔時(shí)容易發(fā)生溶化和斷鉆頭,特別是鉆孔孔徑小于0.8毫米時(shí)問...
如果重復(fù)定位會(huì)造成的結(jié)果:1、阻礙工件的裝置或定位不穩(wěn)定,使其得不到斷定方位。2、導(dǎo)致定位就會(huì)容易產(chǎn)生變形或工件變形。專業(yè)治具加工:治具的制造的選材專業(yè)治具加工:治具的制造的選材:治具的制造要根據(jù)實(shí)踐的情況選用恰當(dāng)?shù)馁Y料,這樣可大起伏的降低本錢,一起通用可重復(fù)使用的底座也可大起伏的降低本錢,而且使治具制造標(biāo)準(zhǔn)化方便制造,進(jìn)步治具的質(zhì)量。測(cè)驗(yàn)架中測(cè)驗(yàn)針及相關(guān)資料的選用對(duì)測(cè)驗(yàn)治具的好壞及本錢是非常重要的。ICT測(cè)試治具的鉆孔文件的常規(guī)表示方法:T2表示75MIL的探孔;T3表示50MIL的探孔。寧波在線測(cè)試儀器生產(chǎn)廠家ICT測(cè)試治具中文慣用名為在線測(cè)試儀(本手冊(cè)特指組裝電路板在線測(cè)試儀),主要用于...
ICT測(cè)試治具:在進(jìn)行在線測(cè)試作業(yè)時(shí),受電路板結(jié)構(gòu)尺寸、在線測(cè)試時(shí)測(cè)試機(jī)構(gòu)對(duì)電路板的接觸作用力以及安裝誤差等因素的影響,所述雕刻工具與電路板實(shí)際相對(duì)位置與理論相對(duì)位置之間通常會(huì)具有一定偏差,本實(shí)用新型的ICT測(cè)試治具通過設(shè)置所述浮動(dòng)機(jī)構(gòu)能保證雕刻工具始終抵壓在待測(cè)試電路板上,以克服所述偏差,這樣就可從根本上解決標(biāo)記作業(yè)中發(fā)生漏標(biāo)記、雕刻工具卡在電路板上甚至導(dǎo)致?lián)p壞電路板的問題。進(jìn)一步的,所述浮動(dòng)機(jī)構(gòu)包括彈性組件和浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu),所述浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)能調(diào)節(jié)所述彈性組件的軸向伸縮量以使雕刻工具在所述設(shè)定位置區(qū)間內(nèi)軸向浮動(dòng)地抵壓在待測(cè)試電路板上。ICT測(cè)試治具的鉆孔文件的常規(guī)表示方法:保護(hù)板的表示方法...
ICT測(cè)試不良及常見故障的分析方法:開路不良:所謂開路不良就是指在某一個(gè)短路群中,各個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間本來應(yīng)該是短路,但卻出現(xiàn)了某個(gè)測(cè)試點(diǎn)對(duì)其所在短路群的其它測(cè)試點(diǎn)是開路的。出現(xiàn)開路不良的可能原因有如下幾個(gè)方面:(1)PCBOpen;(2)零件造成的;它又包括如下幾個(gè)方面:A.立件與漏件;B.空焊;C.零件不良。(3)測(cè)試點(diǎn)有問題A.探針未接觸到;B.測(cè)試點(diǎn)氧化;C.測(cè)試點(diǎn)有東西擋住;D.測(cè)試點(diǎn)在防焊區(qū)。有利于提高產(chǎn)品的質(zhì)量和測(cè)試效率。ICT測(cè)試治具的鉆孔文件的常規(guī)表示方法:T4表示板內(nèi)定位柱以及板外擋位柱。鄭州在線ICT自動(dòng)化測(cè)試治具廠家報(bào)價(jià)功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具的區(qū)別,應(yīng)用場(chǎng)景不同,功能測(cè)...
功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具的區(qū)別,我們知道測(cè)試治具是專門對(duì)產(chǎn)品的功能、功率校準(zhǔn)、壽命、性能等進(jìn)行測(cè)試、試驗(yàn)的一種治具。根據(jù)測(cè)試功能的不同它又可分為鉆孔工具、功能測(cè)試治具、ICT測(cè)試治具、過錫爐治具等測(cè)試治具,而由于功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具應(yīng)用場(chǎng)景的相近很多用戶往往不知道它們的區(qū)別是什么,首先測(cè)試功能不同,功能測(cè)試治具是一種用來測(cè)試半成品/成品或生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的某一個(gè)工序,主要是對(duì)產(chǎn)品的功能進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備,以此來判斷被測(cè)對(duì)象是否達(dá)到了初始設(shè)計(jì)者目的的機(jī)械輔助治具;而ICT測(cè)試治具是對(duì)在線元器件的性能、原理及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速...
功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具的區(qū)別是什么你知道嗎?測(cè)試功能不同,功能測(cè)試治具是一種用來測(cè)試半成品/成品或生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的某一個(gè)工序,主要是對(duì)產(chǎn)品的功能進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備,以此來判斷被測(cè)對(duì)象是否達(dá)到了初始設(shè)計(jì)者目的的機(jī)械輔助治具;而ICT測(cè)試治具是對(duì)在線元器件的性能、原理及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。較為低端的生產(chǎn)線,一般會(huì)通過人工檢查;自動(dòng)化程度較高或者要求較高的生產(chǎn)線會(huì)通過圖像識(shí)別或者ICT進(jìn)行檢測(cè)電容是否插反。ICT測(cè)試點(diǎn)的要求有測(cè)試點(diǎn)不能被遮擋、覆蓋,焊盤中心距離器件外框至少120mil。徐州ICT自動(dòng)化測(cè)試儀器價(jià)...
ICT測(cè)試治具檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):1.電源配線是否按+5V為2號(hào)針,+12V為15號(hào)針,+3.3V為10號(hào)針,GND為5號(hào)針;2.FIN零件,防呆針是否制成OPEN狀態(tài);3.TJ大小是否和IC一樣大,是否壓到其他零件(大小誤差為+/-1mm;4.貼圖正看A1是否在左上方;5.彈簧是否全部為16L,彈簧深7mm;6.TestJet牛角是否70mm,鎖右上一格,缺口朝下;7.天板(厚5mm):平頭螺絲4Φ*10mm長,天板銑沉頭;8.壓棒平頭是否Φ6.3(6.0)*20mm尖頭Φ2.0mm*20mm螺絲用圓頭3Φ*15mm壓棒與零件須距2mm以上距離;9.載板是否銑凹槽提把,60*30*4(mm);10.天...
ICT測(cè)試治具能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量,對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試,對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試,如所有74系列、Memory類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。ICT測(cè)試治具通過直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞,Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路,元件插錯(cuò)、插反、漏裝,管腳翹起、虛焊,PCB短路、斷線等故障。測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上,故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障...
ICT測(cè)試治具能檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量,對(duì)二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試,對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試,它通過直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞,Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路,元件插錯(cuò)、插反、漏裝,管腳翹起、虛焊,PCB短路、斷線等故障。測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上,故障定位準(zhǔn)確。ICT測(cè)試治具的鉆孔文件的一些常規(guī)表示:1.T1表示100MIL的探細(xì)孔;2....
ICT技術(shù)參數(shù):1)較大測(cè)試點(diǎn)數(shù)表示設(shè)備較多能設(shè)多少個(gè)測(cè)試點(diǎn)。一般電阻、電容等元件只有兩條引腳,每個(gè)元件只用兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)就夠了。ICT有多個(gè)引腳,每條引腳都需要設(shè)一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。元件越多,電路板越復(fù)雜,需要測(cè)試點(diǎn)越多。因此,測(cè)試儀需要足夠多的測(cè)試點(diǎn)數(shù)。目前ICT的較大測(cè)試點(diǎn)數(shù)可達(dá)2048點(diǎn),已足夠用了。2)可測(cè)試的元器件種類早期的ICT只可以測(cè)試開、短路,電阻、電容、電感、二極管等較少種類的元器件,經(jīng)不斷改進(jìn),現(xiàn)在ICT已可以測(cè)試三極管、穩(wěn)壓管、光耦、IC等多種元器件。對(duì)每種單板需制作專屬的針床,這個(gè)針床在工業(yè)生產(chǎn)上就叫它ICT測(cè)試治具。在線測(cè)試治具銷售公司如何做ICT測(cè)試治具的預(yù)防性保養(yǎng)計(jì)劃:IC...