相控陣探頭較常用線陣探頭。這些相控陣探頭為直線排列，每個(gè)陣元是連接到一個(gè)不同的電子通道，根據(jù)設(shè)計(jì)的性能可采用直接或通過(guò)多路復(fù)用器。每一個(gè)陣元可以被開(kāi)啟或不開(kāi)啟。儀器利用電子延時(shí)控制各電子通道，發(fā)射和接收的信號(hào)/形式的換能器陣元。對(duì)特定陣元進(jìn)行延遲相對(duì)應(yīng)的設(shè)置，每一個(gè)聚焦法則定義了一個(gè)不同的波束，它具有特定的方向、聚焦距離和橫向分辨率。這種技術(shù)要求在相控陣探頭陣元之間具有非常低的聲學(xué)和電交叉耦合影響，這樣所有的陣元都可以單獨(dú)發(fā)射。一般采用壓電復(fù)合材料，能夠完全適應(yīng)這一特點(diǎn)。相控陣探頭的聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。測(cè)距相控陣探頭哪家好相控陣探頭能影響檢測(cè)性能的參數(shù)有哪些？分辨力表示超聲波相控...

相控陣探頭的類(lèi)型：根據(jù)探頭的功能可將探頭劃分為接觸式、延遲線式、角度聲束、或水浸式等類(lèi)型。在具體應(yīng)用中，被測(cè)材料的特性例如：表面粗糙度、溫度、可達(dá)性、材料內(nèi)缺陷的位置、檢測(cè)速度等，都會(huì)影響用戶對(duì)探頭類(lèi)型的選擇。尺寸：尺寸是指開(kāi)啟探頭晶片的直徑，或者晶片的長(zhǎng)度和寬度。晶片通常被置于比它稍大一點(diǎn)的外殼中。頻率：頻率是指一秒鐘內(nèi)聲波完成振動(dòng)周期的次數(shù)，通常用千赫（kHz）或兆赫（MHz）表示。大多數(shù)工業(yè)超聲檢測(cè)在500kHz到20MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行，因此大多數(shù)探頭的頻率處于這個(gè)范圍內(nèi)。不過(guò)，用戶也可以買(mǎi)到頻率范圍在50kHz以下及200MHz以上的商業(yè)探頭。頻率越低，穿透力越強(qiáng)；頻率越高，那么分辨...

相控陣探頭的波形持續(xù)：波形持續(xù)是指每次探頭被脈沖觸發(fā)后生成的波動(dòng)周期的數(shù)量。窄帶寬探頭要比寬帶寬探頭生成的波動(dòng)周期數(shù)量多。晶片直徑、基底材料、電子調(diào)諧、探頭激勵(lì)的方式都會(huì)影響波形持續(xù)。帶寬：帶寬是指處于特定波幅范圍內(nèi)的頻率響應(yīng)的部分。在這種情況下，應(yīng)該注意的是典型的NDT探頭不會(huì)生成獨(dú)特頻率的聲波，而只能在以額定的頻率值為中心的頻率范圍內(nèi)生成聲波。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)將這個(gè)帶寬確定在–6dB（或半波幅）的位置處。靈敏度：靈敏度是指激勵(lì)脈沖波幅與從指定目標(biāo)反射的回波波幅之間的關(guān)系。用戶對(duì)相控陣探頭的類(lèi)型選擇需要考慮到被測(cè)材料的檢測(cè)速度。河南菊花陣相控陣探頭直銷(xiāo)柔性相控陣探頭：柔性相控陣探頭可分為一維柔性相控...

相控陣探頭的應(yīng)用：超聲相控陣是超聲探頭晶片的組合，由多個(gè)壓電晶片按一定的規(guī)律分布排列，然后逐次按預(yù)先規(guī)定的延遲時(shí)間激發(fā)各個(gè)晶片，所有晶片發(fā)射的超聲波相控陣形成一個(gè)整體波陣面，能有效地控制發(fā)射超聲束（波陣面）的形狀和方向，能實(shí)現(xiàn)超聲波相控陣的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。它為確定不連續(xù)性的形狀、大小和方向提供出比單個(gè)或多個(gè)探頭系統(tǒng)更大的能力。超聲相控陣檢測(cè)技術(shù)使用不同形狀的多陣元換能器產(chǎn)生和接收超聲波相控陣束，通過(guò)控制換能器陣列中各陣元發(fā)射(或接收)脈沖的不同延遲時(shí)間，改變聲波到達(dá)(或來(lái)自)物體內(nèi)某點(diǎn)時(shí)的相位關(guān)系，實(shí)現(xiàn)焦點(diǎn)和聲束方向的變化，從而實(shí)現(xiàn)超聲波相控陣的波束掃描、偏轉(zhuǎn)和聚焦。然后采用機(jī)械掃描和電...

相控陣探頭的應(yīng)用：利用相控陣進(jìn)行小口徑奧氏體管焊縫檢測(cè),這類(lèi)焊縫都是氣焊的,輪廓是接近垂直的,管焊縫的壁是很薄的,管道之間的空間非常狹小。檢測(cè)這類(lèi)焊縫要采用手動(dòng)掃查或者小型的掃查器,同時(shí)由于安全方面的原因,在應(yīng)用中是不允許使用射線的。這項(xiàng)應(yīng)用需要快速而可靠的檢測(cè)方法,并且保證所有數(shù)據(jù)被記錄。奧氏體不銹鋼管焊縫的檢測(cè)可以利用兩個(gè)陣列來(lái)產(chǎn)生橫波,在掃查上使用線性掃查和并采用編碼器記錄數(shù)據(jù),另外在掃查上也能使用扇掃,并且數(shù)據(jù)以C掃描的形式顯示。利用常規(guī)自動(dòng)超聲技術(shù)檢測(cè)核電站管道焊縫的晶間應(yīng)力腐蝕裂紋需要在焊縫兩側(cè)進(jìn)行至少五次掃查,每一次的掃查方式都是柵格掃查,需要花費(fèi)大量的時(shí)間和人力。相控陣探頭的聲...

我們可以將這種較簡(jiǎn)單的相控陣探頭的排列形式想象成包裝為一體的一系列單個(gè)晶片，實(shí)際情況是這些晶片要比常規(guī)探頭小得多，脈沖可以對(duì)這些被編成組的晶片進(jìn)行激勵(lì)，以產(chǎn)生可直接進(jìn)行控制的波前。這種“電子聲束形成”的方式可以在不移動(dòng)探頭的情況下高速對(duì)多個(gè)檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)與分析。相控陣探頭可以有各種尺寸、形狀、頻率及晶片數(shù)量，所有這些探頭的共同特點(diǎn)是都裝有一個(gè)被分割成若干段的壓電晶片。用于工業(yè)NDT的現(xiàn)代相控陣探頭一般由壓電復(fù)合材料構(gòu)建，具體地說(shuō)就是許多細(xì)小、極薄的壓電陶瓷棒被嵌在聚合物矩陣中。雖然制造這種探頭會(huì)復(fù)雜一些，但是與在其它方面設(shè)計(jì)相似的壓電陶瓷探頭相比，這種復(fù)合材料探頭在一般情況下可提供的靈敏度會(huì)...

對(duì)相控陣延遲的理解：相控陣的超聲波脈沖發(fā)射裝置由探頭晶片與楔塊組成，延遲激發(fā)晶片發(fā)射超聲波形成扇形聲束，各角度的聲束經(jīng)過(guò)楔塊與耦合層到達(dá)工件接觸面所需要的時(shí)間，紅色線為各角度聲束的延遲。雖然在儀器初始設(shè)置過(guò)程中輸入了探頭與楔塊等相關(guān)參數(shù)，但是輸入的參數(shù)與實(shí)際參數(shù)的誤差，楔塊磨損，掃查角度，耦合劑等因素都會(huì)影響實(shí)際的延遲數(shù)值。超聲相控陣技術(shù)較早應(yīng)用在醫(yī)療領(lǐng)域,從上個(gè)世紀(jì)80年代起,超聲相控陣技術(shù)開(kāi)始應(yīng)用到核電領(lǐng)域。20多年以來(lái),超聲相控陣技術(shù)在工業(yè)上的應(yīng)用范圍越來(lái)越普遍,在電力、航空、航天、石化等行業(yè)都能夠看到它的身影。相信隨著相控陣設(shè)備價(jià)格的不斷下降、人員培訓(xùn)規(guī)模的日益擴(kuò)大以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的逐步建...

相控陣探頭的應(yīng)用發(fā)展：隨著超聲波相控陣相控陣檢測(cè)技術(shù)的飛速發(fā)展，相控陣真實(shí)幾何結(jié)構(gòu)位置仿真工藝技術(shù)得到越來(lái)越普遍的關(guān)注，各種檢測(cè)工藝的應(yīng)用逐漸在驗(yàn)證成熟。同時(shí)，伴隨著國(guó)內(nèi)涉及該技術(shù)應(yīng)用的相關(guān)法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布，該技術(shù)在特種設(shè)備、石化石油、電力等領(lǐng)域的應(yīng)用被正式認(rèn)可。超聲相控陣技術(shù)已有近20多年的發(fā)展歷史。初期主要應(yīng)用于醫(yī)療領(lǐng)域,醫(yī)學(xué)超聲成像中用相控陣換能器快速移動(dòng)聲束對(duì)被檢部位成像;大功率超聲利用其可控聚焦特性局部升溫?zé)岑熤尾?使目標(biāo)組織升溫并減少非目標(biāo)組織的功率吸收。較初,系統(tǒng)的復(fù)雜性、固體中波動(dòng)傳播的復(fù)雜性及成本費(fèi)用高等原因使其在工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中的應(yīng)用受限。然而隨著電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展...

相控陣探頭的應(yīng)用方法有哪些？直接接觸法：直接接觸法通常采用斜探頭進(jìn)行橫波檢測(cè)，檢測(cè)面為曲面，應(yīng)將探頭斜楔嚴(yán)格按規(guī)程的要求加工成與管子曲面相吻合，利用對(duì)比樣管調(diào)整檢測(cè)靈敏度。通常使用材質(zhì)與試件相同或相近、外徑壁厚也相同的管材制作，按相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制作人工缺陷、調(diào)整靈敏度時(shí)，將對(duì)比樣管內(nèi)外壁上的人工缺陷回波高度調(diào)整到規(guī)定高度，進(jìn)行掃查。管材檢測(cè)時(shí)，有時(shí)采用雙探頭橫波接觸法，兩個(gè)探頭相背并列，同時(shí)發(fā)射、接收管材中的一個(gè)缺陷的兩個(gè)信號(hào)。直接接觸法在檢驗(yàn)檢疫領(lǐng)域應(yīng)用較為普遍，對(duì)環(huán)境條件要求比較低，容易操作，但現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn)工作強(qiáng)度較大，速度較慢。相控陣探頭的類(lèi)型有直接接觸式探頭和水浸式探頭。浙江好的相控陣探頭相控陣...

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類(lèi)別：晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。晶片數(shù)量：常用的相控陣探頭一般有16到128個(gè)晶片，有些探頭的晶片多達(dá)256個(gè)。隨著晶片數(shù)量的增多，聲波聚焦與電子偏轉(zhuǎn)的能力會(huì)增強(qiáng)，同時(shí)檢測(cè)所覆蓋的區(qū)域也會(huì)擴(kuò)大，然而探頭和儀器的成本費(fèi)用也會(huì)增加。每個(gè)晶片被單獨(dú)脈沖激勵(lì)，以創(chuàng)建希望得到的波前。因此這些晶片排列方向的維度通常被稱為主動(dòng)方向或偏轉(zhuǎn)方向。用戶對(duì)相控陣探頭的類(lèi)型選擇需要考慮到被測(cè)材料的可達(dá)性。浙江圓環(huán)陣相控陣探頭價(jià)錢(qián)凹面陣相控陣探頭：凹面陣多用于管道的外檢測(cè)，因其能很好地匹配相...

相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：從較基本的意義上說(shuō)，相控陣系統(tǒng)利用了波動(dòng)物理學(xué)的相位調(diào)整原理，即通過(guò)改變一系列超聲脈沖的發(fā)射時(shí)間，使陣列中的每個(gè)晶片生成的單個(gè)波前交匯在一起。這個(gè)操作以可以預(yù)見(jiàn)的方式加強(qiáng)或減弱聲波的能量，從而使聲波有效地偏轉(zhuǎn)并形成聲束。要達(dá)到這個(gè)目的，需要以極小的時(shí)間差分別對(duì)探頭的晶片進(jìn)行脈沖觸發(fā)。通常將晶片分組進(jìn)行脈沖發(fā)射，每組包含4到32個(gè)數(shù)量不等的晶片。通過(guò)加長(zhǎng)孔徑的方法，可以減少不希望發(fā)生的聲束擴(kuò)散，完成銳利度更強(qiáng)的聚焦，從而有效地提高靈敏度。相控陣探頭普遍應(yīng)用于醫(yī)學(xué)成像和工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中。北京水浸相控陣探頭供應(yīng)商相控陣探頭的應(yīng)用技術(shù)：超聲相控陣技術(shù)可以檢測(cè)電站汽輪機(jī)葉根的應(yīng)力腐蝕...

相控陣探頭的波形持續(xù)：波形持續(xù)是指每次探頭被脈沖觸發(fā)后生成的波動(dòng)周期的數(shù)量。窄帶寬探頭要比寬帶寬探頭生成的波動(dòng)周期數(shù)量多。晶片直徑、基底材料、電子調(diào)諧、探頭激勵(lì)的方式都會(huì)影響波形持續(xù)。帶寬：帶寬是指處于特定波幅范圍內(nèi)的頻率響應(yīng)的部分。在這種情況下，應(yīng)該注意的是典型的NDT探頭不會(huì)生成獨(dú)特頻率的聲波，而只能在以額定的頻率值為中心的頻率范圍內(nèi)生成聲波。工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)將這個(gè)帶寬確定在–6dB（或半波幅）的位置處。靈敏度：靈敏度是指激勵(lì)脈沖波幅與從指定目標(biāo)反射的回波波幅之間的關(guān)系。用戶對(duì)相控陣探頭的類(lèi)型選擇需要考慮到被測(cè)材料的可達(dá)性。福建菊花陣相控陣探頭廠家相控陣探頭的應(yīng)用：相控陣采用S掃，即同時(shí)可以擁有許...

相控陣成像的基本原理常規(guī)超聲儀器和相控陣超聲儀器都使用高頻聲波，核查被測(cè)樣件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)或測(cè)量樣件的厚度。它們都以物理學(xué)中支配聲波傳播的相同的基本法則為基礎(chǔ)。相控陣工作原理：通過(guò)軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。技術(shù)優(yōu)勢(shì)：1.實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會(huì)誤判或漏判缺陷；2.相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn)；3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)。相控陣探頭技術(shù)優(yōu)于常規(guī)超聲探頭技...

相控陣探頭的應(yīng)用方法有哪些？管材檢測(cè)：管材缺陷大多同管子軸線相平行，因此，管材的超聲波相控陣檢測(cè)以沿管子外徑作周向掃查的斜角檢測(cè)為主。目前，進(jìn)出口無(wú)縫鋼管超聲波相控陣檢驗(yàn)主要采用直接接觸法和水浸法。水浸法：探頭發(fā)射的超聲波相控陣經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)方法稱為液浸法，通常采用水浸法。水浸法便于提高掃查速度，縮短檢驗(yàn)試件，特別是中小口徑的無(wú)縫鋼管，要對(duì)全長(zhǎng)全周進(jìn)行掃查，水浸法特別有利。通常采用單探頭縱波水浸法檢測(cè)縱向分層。檢測(cè)前確定好入射角，計(jì)算好折射角，并選擇合適的偏心距。為控制折射角的擴(kuò)散，通常采用聚焦探頭。水浸法在工廠在線檢驗(yàn)中應(yīng)用普遍，在實(shí)際檢驗(yàn)檢疫過(guò)程中由于受條件制約，應(yīng)用得比較...

超聲相控陣技術(shù)簡(jiǎn)介：普通超聲探頭通常由一個(gè)晶片來(lái)產(chǎn)生超聲波,其聲束的傳播角度是獨(dú)特的,在實(shí)際檢測(cè)中,為了防止漏檢,通常需要進(jìn)行不同角度的掃查。相控陣探頭是由許多單獨(dú)的晶片構(gòu)成的,每個(gè)晶片都能被單獨(dú)激發(fā)。這些探頭由特殊的裝置驅(qū)動(dòng),能夠在每個(gè)通道單獨(dú)的、同步的發(fā)射和接收信號(hào)。超聲相控陣的一個(gè)重要特性就是可以通過(guò)軟件來(lái)改變超聲波束的特性。根據(jù)系統(tǒng)軟件設(shè)置,每個(gè)晶片都能通過(guò)不同的時(shí)間延時(shí)來(lái)開(kāi)啟,并發(fā)射和接收超聲信號(hào)。另外掃查角度范圍、聚焦深度和焦點(diǎn)尺寸等也都能通過(guò)軟件控制。因而在一定程度上克服了常規(guī)超聲由于聲束的方向性造成的在缺陷檢出和定量上的限制。大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類(lèi)型。北京測(cè)厚相控陣探頭...

相控陣探頭的應(yīng)用：利用相控陣進(jìn)行小口徑奧氏體管焊縫檢測(cè),這類(lèi)焊縫都是氣焊的,輪廓是接近垂直的,管焊縫的壁是很薄的,管道之間的空間非常狹小。檢測(cè)這類(lèi)焊縫要采用手動(dòng)掃查或者小型的掃查器,同時(shí)由于安全方面的原因,在應(yīng)用中是不允許使用射線的。這項(xiàng)應(yīng)用需要快速而可靠的檢測(cè)方法,并且保證所有數(shù)據(jù)被記錄。奧氏體不銹鋼管焊縫的檢測(cè)可以利用兩個(gè)陣列來(lái)產(chǎn)生橫波,在掃查上使用線性掃查和并采用編碼器記錄數(shù)據(jù),另外在掃查上也能使用扇掃,并且數(shù)據(jù)以C掃描的形式顯示。利用常規(guī)自動(dòng)超聲技術(shù)檢測(cè)核電站管道焊縫的晶間應(yīng)力腐蝕裂紋需要在焊縫兩側(cè)進(jìn)行至少五次掃查,每一次的掃查方式都是柵格掃查,需要花費(fèi)大量的時(shí)間和人力。隨著相控陣探頭...

超聲波相控陣技術(shù)的操作步驟：探頭盤(pán)上裝上兩個(gè)相控陣探頭,分別置于焊縫的兩側(cè)。使用液壓裝置將相控陣探頭壓合在管道的表面上以提高耦合質(zhì)量。耦合劑是水,由水泵供給,在寒冷的條件下耦合劑使用水—甲醇以防凍結(jié)。每個(gè)相控陣探頭上裝有64個(gè)線狀晶片構(gòu)成線陣。整個(gè)焊縫在用相控陣探頭掃查時(shí)被分割成許多小的區(qū)域,每個(gè)區(qū)域的深度為1～3mm,分別覆蓋焊縫的根部、熱影響區(qū)、焊肉區(qū)和余高區(qū)。焊縫檢測(cè)時(shí),同時(shí)從兩側(cè)掃查,并覆蓋需要檢測(cè)的所有區(qū)域?？梢允褂妹}沖回波法或串列掃查法檢測(cè)每個(gè)焊縫區(qū)域。在每個(gè)通道內(nèi)設(shè)置有兩個(gè)閘門(mén),一個(gè)對(duì)應(yīng)于回波高度,另一個(gè)對(duì)應(yīng)于傳播時(shí)間。不同的相控陣探頭陣列排布方式將會(huì)產(chǎn)生不同的聲場(chǎng)特性。安徽水楔...

相控陣探頭的應(yīng)用發(fā)展：隨著超聲波相控陣相控陣檢測(cè)技術(shù)的飛速發(fā)展，相控陣真實(shí)幾何結(jié)構(gòu)位置仿真工藝技術(shù)得到越來(lái)越普遍的關(guān)注，各種檢測(cè)工藝的應(yīng)用逐漸在驗(yàn)證成熟。同時(shí)，伴隨著國(guó)內(nèi)涉及該技術(shù)應(yīng)用的相關(guān)法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布，該技術(shù)在特種設(shè)備、石化石油、電力等領(lǐng)域的應(yīng)用被正式認(rèn)可。超聲相控陣技術(shù)已有近20多年的發(fā)展歷史。初期主要應(yīng)用于醫(yī)療領(lǐng)域,醫(yī)學(xué)超聲成像中用相控陣換能器快速移動(dòng)聲束對(duì)被檢部位成像;大功率超聲利用其可控聚焦特性局部升溫?zé)岑熤尾?使目標(biāo)組織升溫并減少非目標(biāo)組織的功率吸收。較初,系統(tǒng)的復(fù)雜性、固體中波動(dòng)傳播的復(fù)雜性及成本費(fèi)用高等原因使其在工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中的應(yīng)用受限。然而隨著電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展...

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類(lèi)別：類(lèi)型：大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類(lèi)型，與塑料楔塊、平直塑料靴或延遲塊一起使用。此外，還有直接接觸式探頭和水浸式探頭。頻率：超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率，因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外，還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭，穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加，而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。相控陣探頭與壓電陶瓷探頭相比，在一般情況下可提供的靈敏度會(huì)高出10dB到30dB。高頻相控陣探頭生產(chǎn)...

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類(lèi)別：類(lèi)型：大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類(lèi)型，與塑料楔塊、平直塑料靴或延遲塊一起使用。此外，還有直接接觸式探頭和水浸式探頭。頻率：超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率，因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外，還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭，穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加，而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。相控陣探頭的聲波吸收程度會(huì)隨著頻率的增加而呈線性增加。杭州圓環(huán)陣相控陣探頭相控陣探頭能影響檢測(cè)性能的...

相控陣探頭的應(yīng)用：一維線陣是目前相控陣探頭中應(yīng)用較多的一種形式，其特點(diǎn)是能在相控陣的軸平面實(shí)現(xiàn)聲束偏轉(zhuǎn)和軸向聚焦。與一維線陣相比，環(huán)形陣的優(yōu)勢(shì)是能在聲束剖面實(shí)現(xiàn)二維聚焦(一維線陣只能實(shí)現(xiàn)一個(gè)方向上的聲束聚焦)，聲束剖面呈圓形，能獲得較大的能量集中，并且不要求大數(shù)目的陣列，因此其能在采用高頻檢測(cè)時(shí)仍保證較高的穿透力；但環(huán)形陣的缺點(diǎn)是不能進(jìn)行聲束偏轉(zhuǎn)控制，因此主要應(yīng)用于醫(yī)學(xué)成像和脈沖多普勒體積流量計(jì)中。扇形陣和二維矩陣都可實(shí)現(xiàn)所有方向的聲束偏轉(zhuǎn)和軸向聚焦，扇形陣多用于棒材檢測(cè)，二維矩陣由于加工工藝限制、電路復(fù)雜及制作成本高等原因，仍主要應(yīng)用于醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用較少，但其聲束不只能實(shí)現(xiàn)沿晶片排列...

對(duì)相控陣延遲的理解：相控陣的超聲波脈沖發(fā)射裝置由探頭晶片與楔塊組成，延遲激發(fā)晶片發(fā)射超聲波形成扇形聲束，各角度的聲束經(jīng)過(guò)楔塊與耦合層到達(dá)工件接觸面所需要的時(shí)間，紅色線為各角度聲束的延遲。雖然在儀器初始設(shè)置過(guò)程中輸入了探頭與楔塊等相關(guān)參數(shù)，但是輸入的參數(shù)與實(shí)際參數(shù)的誤差，楔塊磨損，掃查角度，耦合劑等因素都會(huì)影響實(shí)際的延遲數(shù)值。超聲相控陣技術(shù)較早應(yīng)用在醫(yī)療領(lǐng)域,從上個(gè)世紀(jì)80年代起,超聲相控陣技術(shù)開(kāi)始應(yīng)用到核電領(lǐng)域。20多年以來(lái),超聲相控陣技術(shù)在工業(yè)上的應(yīng)用范圍越來(lái)越普遍,在電力、航空、航天、石化等行業(yè)都能夠看到它的身影。相信隨著相控陣設(shè)備價(jià)格的不斷下降、人員培訓(xùn)規(guī)模的日益擴(kuò)大以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的逐步建...

相控陣探頭的類(lèi)型：根據(jù)探頭的功能可將探頭劃分為接觸式、延遲線式、角度聲束、或水浸式等類(lèi)型。在具體應(yīng)用中，被測(cè)材料的特性例如：表面粗糙度、溫度、可達(dá)性、材料內(nèi)缺陷的位置、檢測(cè)速度等，都會(huì)影響用戶對(duì)探頭類(lèi)型的選擇。尺寸：尺寸是指開(kāi)啟探頭晶片的直徑，或者晶片的長(zhǎng)度和寬度。晶片通常被置于比它稍大一點(diǎn)的外殼中。頻率：頻率是指一秒鐘內(nèi)聲波完成振動(dòng)周期的次數(shù)，通常用千赫（kHz）或兆赫（MHz）表示。大多數(shù)工業(yè)超聲檢測(cè)在500kHz到20MHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行，因此大多數(shù)探頭的頻率處于這個(gè)范圍內(nèi)。不過(guò)，用戶也可以買(mǎi)到頻率范圍在50kHz以下及200MHz以上的商業(yè)探頭。頻率越低，穿透力越強(qiáng)；頻率越高，那么分辨...

對(duì)相控陣延遲的理解：相控陣的超聲波脈沖發(fā)射裝置由探頭晶片與楔塊組成，延遲激發(fā)晶片發(fā)射超聲波形成扇形聲束，各角度的聲束經(jīng)過(guò)楔塊與耦合層到達(dá)工件接觸面所需要的時(shí)間，紅色線為各角度聲束的延遲。雖然在儀器初始設(shè)置過(guò)程中輸入了探頭與楔塊等相關(guān)參數(shù)，但是輸入的參數(shù)與實(shí)際參數(shù)的誤差，楔塊磨損，掃查角度，耦合劑等因素都會(huì)影響實(shí)際的延遲數(shù)值。超聲相控陣技術(shù)較早應(yīng)用在醫(yī)療領(lǐng)域,從上個(gè)世紀(jì)80年代起,超聲相控陣技術(shù)開(kāi)始應(yīng)用到核電領(lǐng)域。20多年以來(lái),超聲相控陣技術(shù)在工業(yè)上的應(yīng)用范圍越來(lái)越普遍,在電力、航空、航天、石化等行業(yè)都能夠看到它的身影。相信隨著相控陣設(shè)備價(jià)格的不斷下降、人員培訓(xùn)規(guī)模的日益擴(kuò)大以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的逐步建...

相控陣探頭的發(fā)展：超聲相控陣技術(shù)初期主要應(yīng)用于醫(yī)療領(lǐng)域,醫(yī)學(xué)超聲成像中用相控陣換能器快速移動(dòng)聲束對(duì)被檢部位成像;大功率超聲利用其可控聚焦特性局部升溫?zé)岑熤尾?使目標(biāo)組織升溫并減少非目標(biāo)組織的功率吸收。較初,系統(tǒng)的復(fù)雜性、固體中波動(dòng)傳播的復(fù)雜性及成本費(fèi)用高等原因使其在工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中的應(yīng)用受限。然而隨著電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展,超聲相控陣技術(shù)逐漸應(yīng)用于工業(yè)無(wú)損檢測(cè),特別是在核工業(yè)及航空工業(yè)等領(lǐng)域。如核電站主泵隔熱板的檢測(cè);核廢料罐電子束環(huán)焊縫的全自動(dòng)檢測(cè)及薄鋁板摩擦焊縫熱疲勞裂紋的檢測(cè)。由于數(shù)字電子和DSP技術(shù)的發(fā)展，使得精確延時(shí)越來(lái)越方便，因此近幾年,超聲相控陣技術(shù)發(fā)展的尤為迅速。相控陣探...

相控陣探頭的應(yīng)用發(fā)展：相控陣技術(shù)作為無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的新興技術(shù)，起源于醫(yī)療行業(yè)。80年代中期，隨著復(fù)合壓電材料的發(fā)明，相控陣技術(shù)得到了快速的發(fā)展。90年代初，相控陣技術(shù)作為一種新的無(wú)損評(píng)估技術(shù)出現(xiàn)在超聲手冊(cè)和培訓(xùn)手冊(cè)中。90年代末，隨著復(fù)合壓電技術(shù)，微加工技術(shù)，微電子技術(shù)和計(jì)算技術(shù)的發(fā)展，使得相控陣技術(shù)日趨成熟，尤其是計(jì)算處理能力的增強(qiáng)使得軟件功能得到極大提升。相控陣探傷技術(shù)可普遍用于石油石化、金屬加工制造、航空航天等領(lǐng)域，尤其以石油石化行業(yè)的焊縫檢測(cè)是相控陣技術(shù)應(yīng)用的重點(diǎn)。由相控陣探頭產(chǎn)生的聲波會(huì)沿直線傳播，直到遇到材料介質(zhì)的邊緣。山東集成楔塊相控陣探頭價(jià)位相控陣探頭的應(yīng)用：相控陣探傷儀通過(guò)軟件...

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類(lèi)別：類(lèi)型：大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類(lèi)型，與塑料楔塊、平直塑料靴（即零度楔塊）或延遲塊一起使用。此外，還有直接接觸式探頭和水浸式探頭。相控陣探頭的頻率：超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率，因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外，還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭，穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加，而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。相控陣探頭與壓電陶瓷探頭相比，在一般情況下可提供的靈敏度會(huì)高出10dB到3...

相控陣探頭的應(yīng)用：一維線陣是目前相控陣探頭中應(yīng)用較多的一種形式，其特點(diǎn)是能在相控陣的軸平面實(shí)現(xiàn)聲束偏轉(zhuǎn)和軸向聚焦。與一維線陣相比，環(huán)形陣的優(yōu)勢(shì)是能在聲束剖面實(shí)現(xiàn)二維聚焦(一維線陣只能實(shí)現(xiàn)一個(gè)方向上的聲束聚焦)，聲束剖面呈圓形，能獲得較大的能量集中，并且不要求大數(shù)目的陣列，因此其能在采用高頻檢測(cè)時(shí)仍保證較高的穿透力；但環(huán)形陣的缺點(diǎn)是不能進(jìn)行聲束偏轉(zhuǎn)控制，因此主要應(yīng)用于醫(yī)學(xué)成像和脈沖多普勒體積流量計(jì)中。扇形陣和二維矩陣都可實(shí)現(xiàn)所有方向的聲束偏轉(zhuǎn)和軸向聚焦，扇形陣多用于棒材檢測(cè)，二維矩陣由于加工工藝限制、電路復(fù)雜及制作成本高等原因，仍主要應(yīng)用于醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用較少，但其聲束不只能實(shí)現(xiàn)沿晶片排列...

相控陣探頭能影響檢測(cè)性能的參數(shù)有哪些？斜探頭前沿距離是從斜探頭人射點(diǎn)到探頭底面前端的距離，此值在實(shí)際探測(cè)時(shí)可用來(lái)在工件表面上確定缺陷距探頭前端的水平投影距離。波束折射角（K值）表示經(jīng)折射透入工件的波束中心軸線與從人射點(diǎn)引出的工件表面法線之間的夾角（或折射角正切值），與探頭上標(biāo)稱折射角有一定誤差。K值系列斜探頭用K值（折射角正切值）表示。時(shí)基線性是表示超聲波相控陣探傷儀對(duì)距離不同的反射體所產(chǎn)生的一系列回波（通常是一組多次的底面回波）的顯示距離和反射體距離之間能按比例方式顯示的能力。相控陣探頭的聲場(chǎng)被分為兩個(gè)區(qū)域：近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)。山東醫(yī)療相控陣探頭售價(jià)什么是相控陣探頭？陣列是大量的同類(lèi)物體排列組合的方...

相控陣探頭根據(jù)以下基本參數(shù)從功能上被分成不同的類(lèi)別：類(lèi)型：大多數(shù)相控陣探頭屬于角度聲束類(lèi)型，與塑料楔塊、平直塑料靴或延遲塊一起使用。此外，還有直接接觸式探頭和水浸式探頭。頻率：超聲缺陷探測(cè)一般使用2MHz到10MHz之間的頻率，因此大多數(shù)相控陣探頭都屬于這個(gè)頻率范圍。此外，還有頻率更低或更高的探頭。使用常規(guī)探頭，穿透性能會(huì)隨著頻率的降低而增加，而分辨率及聚焦銳利度會(huì)隨著頻率的升高而增強(qiáng)。晶片尺寸：隨著晶片寬度的減小，聲束電子偏轉(zhuǎn)的性能會(huì)增強(qiáng)，但是要覆蓋大區(qū)域就需要有更多的晶片，因此費(fèi)用也會(huì)增加。相控陣探頭的波形持續(xù)是指每次探頭被脈沖觸發(fā)后生成的波動(dòng)周期的數(shù)量。廣東高速相控陣探頭品牌相控陣工作原...