北京尋找測(cè)試探針卡研發(fā)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-11-04

    探針卡的探針個(gè)數(shù)越來(lái)越多,探針間的pitch越來(lái)越小,對(duì)探針卡的質(zhì)量要求越來(lái)越高。保證晶圓測(cè)試成品率,減少探針卡測(cè)試問(wèn)題,防止探針卡的異常損壞,延長(zhǎng)探針卡的使用壽命,降低測(cè)試成本,提高測(cè)試良率和測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性,成為晶圓測(cè)試中重要的技術(shù)。因此,開(kāi)展探針卡使用問(wèn)題的分析和研究具有重要的實(shí)用價(jià)值。論文的主要工作和成果如下:1.本文總結(jié)和分析了影響探針卡壽命的各種因素,并針對(duì)65納米的晶圓測(cè)試中,PM7540探針卡遇到的針尖易氧化和針跡易外擴(kuò)引起的探針消耗過(guò)快問(wèn)題,提出了改進(jìn)方法。2.研究表明影響探針卡壽命的因素有機(jī)臺(tái)硬件和參數(shù)的設(shè)定、晶圓自身的影響、探針卡本身的問(wèn)題、人員操作問(wèn)題和測(cè)試程序的問(wèn)題。并結(jié)合PM754065nm晶圓測(cè)試過(guò)程中的遇到實(shí)際問(wèn)題,通過(guò)實(shí)驗(yàn)和分析,找到了造成探針卡針尖氧化和針跡外擴(kuò)的原因。3.通過(guò)對(duì)有可能造成探針卡針尖氧化原因進(jìn)行羅列、歸納和分析,探針在高溫下時(shí)間越長(zhǎng),氧化越嚴(yán)重,確定了高溫測(cè)試是造成針尖氧化的原因。4.通過(guò)對(duì)收集的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)分析,證明了承載臺(tái)水平異常是造成針跡外擴(kuò)的主要原因。解決探針卡的針尖氧化和針跡外擴(kuò)的問(wèn)題,可以更好地保護(hù)和使用探針卡,延長(zhǎng)使用壽命,進(jìn)而提高晶圓測(cè)試的穩(wěn)定性和測(cè)試成品率。 測(cè)試探針卡收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)。北京尋找測(cè)試探針卡研發(fā)

    當(dāng)前,我國(guó)超大規(guī)模和極大規(guī)模集成電路處于快速發(fā)展時(shí)期,隨著集成電路技術(shù)從深亞微米向90-65-45納米技術(shù)推進(jìn),大幅度提高芯片測(cè)試準(zhǔn)確性和測(cè)試效率是集成電路生產(chǎn)中迫切需要解決的問(wèn)題。本項(xiàng)目研發(fā)的超高速、超高頻芯片測(cè)試探針卡是實(shí)現(xiàn)集成電路超高速、超高頻芯片測(cè)試的重要環(huán)節(jié),是實(shí)現(xiàn)高速、高效測(cè)試的重要保障。同時(shí),測(cè)試探針卡研究成果將沖破國(guó)外廠商對(duì)我國(guó)超高頻芯片測(cè)試探針卡設(shè)計(jì)制作技術(shù)的壟斷,為我國(guó)自主研制和生產(chǎn)超快速、超高頻芯片測(cè)試探針卡開(kāi)拓道路,為實(shí)現(xiàn)超高頻芯片測(cè)試探針卡國(guó)產(chǎn)化研發(fā)及產(chǎn)業(yè)化打下堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。由于本項(xiàng)目研制出的成果切合我國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的需要,具有很大的推廣前景,與此同時(shí),本單位將積極參與擴(kuò)展超高頻芯片測(cè)試探針卡產(chǎn)業(yè)化平臺(tái)建設(shè),發(fā)展壯大公司。 云南尋找測(cè)試探針卡多少錢選擇測(cè)試探針卡供應(yīng)商。

測(cè)試探針材料的選用,必須搭配芯片焊區(qū)或凸點(diǎn)材質(zhì)來(lái)決定,一般常見(jiàn)的測(cè)試探針金屬選用鎢、鈸銅、鎢錸及鈀合金等。鎢具有較高的度,可以輕易刺破焊區(qū)與凸點(diǎn)氧化鋁層,降低接觸阻抗,但具有較強(qiáng)的破壞性,不適用于薄膜的測(cè)試場(chǎng)合;鈹銅合金一般應(yīng)用在鍍金的芯片焊區(qū)或凸點(diǎn),提供比鎢更低的接觸阻抗,但是探針硬度不如鎢離,因此磨耗比較快;至于鈀合金性質(zhì)類似于鈹銅合金,有比鎢更低的接觸阻抗,比較大的優(yōu)點(diǎn)是可以用電鍍方式來(lái)制作探針。其中鎢錸合金(97%-3%)的接觸電阻比鎢稍高,抗疲勞性相似。但是,由于鎢錸合金的晶格結(jié)構(gòu)比鎢更加緊密,其測(cè)試探針頂端的平面更加光滑。因此,這些測(cè)試探針頂端被污染的可能性更小,更容易淸潔,其接觸電阻也比鎢更加穩(wěn)定。所以鎢銖合金是一種更佳的選擇。

    從IC器件角度看,2016年邏輯類ASIC/ASSP芯片占全部半導(dǎo)體市場(chǎng)比例位22%;較好的手機(jī)、平板電腦市場(chǎng)推動(dòng)了高容量NAND閃存的需求;DRAM供不應(yīng)求的現(xiàn)象持續(xù)到15年底,但隨著各大廠的新產(chǎn)能陸續(xù)投產(chǎn),16年將再度出現(xiàn)供過(guò)于求的現(xiàn)象;智能手機(jī)及新型的物聯(lián)網(wǎng)市場(chǎng)帶動(dòng)傳感器市場(chǎng)的成長(zhǎng);16年呈負(fù)增長(zhǎng)的IC器件有DRAM、數(shù)字信號(hào)處理芯片、NOR閃存、其他存儲(chǔ)器、SRAM及CCD圖像傳感器等行業(yè)景氣度下滑主要因素,匯率變化、手機(jī)及消費(fèi)電子3G-4G高成長(zhǎng)期過(guò)了;未來(lái)隨著新的產(chǎn)能,新的技術(shù)的到來(lái)又會(huì)重回增長(zhǎng),集成電路周期性波動(dòng)還是不會(huì)改變。與15年相比,16年半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)形勢(shì)總體持平,但結(jié)構(gòu)變化多樣,中國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè),之前做的很艱苦,目前我們的優(yōu)勢(shì)主要有一下幾點(diǎn):1.經(jīng)過(guò)幾十年的探索,我們對(duì)產(chǎn)業(yè)發(fā)展規(guī)律的人士在逐步到位;2.機(jī)構(gòu)和社會(huì)各界對(duì)產(chǎn)業(yè)非常重視;3.部分地方機(jī)構(gòu)積極性非常高;一部分是好事,但是有些地方機(jī)構(gòu)對(duì)集成電路產(chǎn)業(yè)認(rèn)識(shí)不清,尤其是想做集成電路制造,12寸制造。4.經(jīng)過(guò)幾十年的發(fā)展,產(chǎn)業(yè)具備了一定的基礎(chǔ)主要面臨的問(wèn)題1.國(guó)際巨頭云集中國(guó),中國(guó)成為較激烈的競(jìng)爭(zhēng)場(chǎng)所,所有跨國(guó)公司都在中國(guó)設(shè)點(diǎn)設(shè)廠,趨勢(shì)還在繼續(xù)。 工業(yè)園區(qū)矽利康測(cè)試探針卡。

    探針卡的發(fā)展也應(yīng)該堅(jiān)持結(jié)合國(guó)內(nèi)的實(shí)際現(xiàn)狀,不能盲目跟從國(guó)外的發(fā)展,技術(shù)也可以引進(jìn),但是創(chuàng)新能力是無(wú)法引進(jìn)的,必須依靠自身的積聚,才能使探針卡能更好的走下去。探針卡廠家要轉(zhuǎn)變生產(chǎn)、管理模式,順應(yīng)信息、網(wǎng)絡(luò)新環(huán)境。探針卡要想發(fā)展,就要堅(jiān)持自己的創(chuàng)新,在生產(chǎn)中不斷的積累經(jīng)驗(yàn),才能使探針卡不斷的提升性能,每一個(gè)探針卡的生產(chǎn)廠家都應(yīng)該有自己的優(yōu)點(diǎn),優(yōu)于別人才能銷量高于別人。探針卡之所以能占據(jù)市場(chǎng)的主動(dòng),就是因?yàn)槠洚a(chǎn)品在坡面的防護(hù)能力較好的,是別的物品無(wú)法替代,其產(chǎn)品探針卡擁有比較高的性價(jià)比。探針卡的需求量比較大,市場(chǎng)潛力巨大。業(yè)內(nèi)相關(guān)**提出了未來(lái)發(fā)展的策略:加快產(chǎn)業(yè)結(jié)構(gòu)調(diào)整;在今后的發(fā)展中機(jī)械行業(yè)首先要更加注意其產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的戰(zhàn)略性調(diào)整,使結(jié)構(gòu)復(fù)雜、精密度高的探針卡得到更快的發(fā)展。同時(shí),機(jī)械行業(yè)還應(yīng)該要緊緊地跟著市場(chǎng)的需求來(lái)發(fā)展。探針卡通過(guò)引入先進(jìn)的控制技術(shù)降低壓機(jī)動(dòng)力源輸出的無(wú)用功損耗,比較大化的提高能量利用率,機(jī)械市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)如此激烈的目前,大量探針卡廠家不斷涌現(xiàn),要想在市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中站穩(wěn)發(fā)展的腳步,質(zhì)量是關(guān)鍵。 矽利康測(cè)試探針卡多少錢。海南矽利康測(cè)試探針卡

專業(yè)提供測(cè)試探針卡那些廠家。北京尋找測(cè)試探針卡研發(fā)

    一、尖頭被測(cè)點(diǎn)是凸?fàn)畹钠狡瑺罨蛘哂醒趸F(xiàn)象;二、傘型頭被測(cè)點(diǎn)是孔或者是平片狀或凹狀;三、平頭被測(cè)點(diǎn)是凸起平片狀;四、內(nèi)碗口平頭被測(cè)點(diǎn)是凸起;五、九爪頭被測(cè)點(diǎn)是平片或者凹狀;六、皇冠頭被測(cè)點(diǎn)是凸起或平片狀;七、三針頭被測(cè)點(diǎn)是凹狀;八、圓頭被測(cè)點(diǎn)是間隙較密且凸起或平片狀。probecard翻譯過(guò)來(lái)其實(shí)就是探針卡。探針卡是一種測(cè)試接口,主要對(duì)裸芯進(jìn)行測(cè)試,通過(guò)連接測(cè)試機(jī)和芯片,通過(guò)傳輸信號(hào),對(duì)芯片參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。目前我國(guó)探針卡市場(chǎng)發(fā)展迅速,產(chǎn)品產(chǎn)出持續(xù)擴(kuò)張,國(guó)家產(chǎn)業(yè)政策鼓勵(lì)探針卡產(chǎn)業(yè)向高技術(shù)產(chǎn)品方向發(fā)展,國(guó)內(nèi)企業(yè)新增投資項(xiàng)目投資逐漸增多。投資者對(duì)探針卡市場(chǎng)的關(guān)注越來(lái)越密切,這使得探針卡市場(chǎng)越來(lái)越受到各方的關(guān)注。但是目前探針卡的關(guān)鍵技術(shù)部分是國(guó)外廠商壟斷,如何提高其自主創(chuàng)新力度,如何消化吸收再創(chuàng)造,讓研究成果真正的商業(yè)化還是有一段路要做的。 北京尋找測(cè)試探針卡研發(fā)

蘇州矽利康測(cè)試系統(tǒng)有限公司在探針卡,探針,設(shè)備一直在同行業(yè)中處于較強(qiáng)地位,無(wú)論是產(chǎn)品還是服務(wù),其高水平的能力始終貫穿于其中。公司成立于2009-10-13,旗下矽利康,已經(jīng)具有一定的業(yè)內(nèi)水平。蘇州矽利康以探針卡,探針,設(shè)備為主業(yè),服務(wù)于儀器儀表等領(lǐng)域,為全國(guó)客戶提供先進(jìn)探針卡,探針,設(shè)備。產(chǎn)品已銷往多個(gè)國(guó)家和地區(qū),被國(guó)內(nèi)外眾多企業(yè)和客戶所認(rèn)可。

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