由于集成電路輸出的電壓邏輯值并不一定與電路中的所有節(jié)點(diǎn)相關(guān),電壓測試并不能檢測出集成電路的非功能失效故障。于是,在 80 年代早期,基于集成電路電源電流的診斷技術(shù)便被提出。電源電流通常與電路中所有的節(jié)點(diǎn)都是直接或間接相關(guān)的,因此基于電流的診斷方法能覆蓋更多的電路故障。然而電流診斷技術(shù)的提出并非是為了取代電壓測試,而是對其進(jìn)行補(bǔ)充,以提高故障診斷的檢測率和覆蓋率。電流診斷技術(shù)又分為靜態(tài)電流診斷和動(dòng)態(tài)電流診斷。模擬集成電路有,例如傳感器、電源控制電路和運(yùn)放,處理模擬信號(hào)。金山區(qū)質(zhì)量電阻芯片性價(jià)比
此方法通過對電路輸入不同的測試向量得到對應(yīng)電路的邏輯輸出值,然后將采集的電路邏輯輸出值與該輸入向量對應(yīng)的電路預(yù)期邏輯輸出值進(jìn)行對比,來達(dá)到檢測電路在實(shí)際運(yùn)行環(huán)境中能否實(shí)現(xiàn)預(yù)期邏輯功能的目的。此方法簡單卻并不適用于冗余較多的大規(guī)模的集成電路。若缺陷出現(xiàn)在冗余部分就無法被檢測出來。而且當(dāng)電路規(guī)模較大時(shí),測試向量集也會(huì)成倍增長,這會(huì)直接導(dǎo)致測試向量的生成難且診斷效率低下等問題。此外,如果故障只影響電路性能而非電路邏輯功能時(shí),電壓診斷也無法檢測出來。崇明區(qū)個(gè)性化電阻芯片現(xiàn)價(jià)雖然設(shè)計(jì)開發(fā)一個(gè)復(fù)雜集成電路的成本非常高,但是當(dāng)分散到通常以百萬計(jì)的產(chǎn)品上,每個(gè)集成電路的成本小化。
靜態(tài)電流診斷技術(shù)的**是將待測電路處于穩(wěn)定運(yùn)行狀態(tài)下的電源電流與預(yù)先設(shè)定的閾值進(jìn)行比較,來判定待測電路是否存在故障??梢?,閾值的選取便是決定此方法檢測率高低的關(guān)鍵。早期的靜態(tài)電流診斷技術(shù)采用的固定閾值,然而固定的閾值并不能適應(yīng)集成電路芯片向深亞微米的發(fā)展。于是,后人在靜態(tài)電流檢測方法上進(jìn)行了不斷的改進(jìn),相繼提出了差分靜態(tài)電流檢測技術(shù),電流比率診斷方法,基于聚類技術(shù)的靜態(tài)電流檢測技術(shù)等。動(dòng)態(tài)電流診斷技術(shù)于 90 年代問世。動(dòng)態(tài)電流能夠直接反應(yīng)電路在進(jìn)行狀態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí),其內(nèi)部電壓的切換頻繁程度?;趧?dòng)態(tài)電流的檢測技術(shù)可以檢測出之前兩類方法所不能檢測出的故障,進(jìn)一步擴(kuò)大故障覆蓋范圍。隨著智能化技術(shù)的發(fā)展與逐漸成熟,集成電路芯片故障檢測技術(shù)也朝著智能化的趨勢前進(jìn) [2]。
在使用自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)包裝前,每個(gè)設(shè)備都要進(jìn)行測試。測試過程稱為晶圓測試或晶圓探通。晶圓被切割成矩形塊,每個(gè)被稱為晶片(“die”)。每個(gè)好的die被焊在“pads”上的鋁線或金線,連接到封裝內(nèi),pads通常在die的邊上。封裝之后,設(shè)備在晶圓探通中使用的相同或相似的ATE上進(jìn)行終檢。測試成本可以達(dá)到低成本 產(chǎn)品的制造成本的25%,但是對于低產(chǎn)出,大型和/或高成本的設(shè)備,可以忽略不計(jì)。在2005年,一個(gè)制造廠(通常稱為半導(dǎo)體工廠,常簡稱fab,指fabrication facility)建設(shè)費(fèi)用要超過10億美元,因?yàn)榇蟛糠植僮魇亲詣?dòng)化的。 [1]更為少見的電感結(jié)構(gòu),可以制作芯片載電感或由回旋器模擬。
**早的電路故障診斷方法主要依靠一些簡單工具進(jìn)行測試診斷,它極大地依賴于**或技術(shù)人員的理論知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)。在這些測試方法中,**常用的主要有四類:虛擬測試、功能測試、結(jié)構(gòu)測試和缺陷故障測試。虛擬測試不需要檢測實(shí)際芯片,而只測試仿真的芯片,適用于在芯片制造前進(jìn)行。它能及時(shí)檢測出芯片設(shè)計(jì)上的故障,但它并未考慮芯片在實(shí)際的制造和運(yùn)行中的噪聲或差異。功能測試依據(jù)芯片在測試中能否完成預(yù)期的功能來判定芯片是否存在故障。數(shù)字集成電路可以包含任何東西,在幾平方毫米上有從幾千到百萬的邏輯門、觸發(fā)器、多任務(wù)器和其他電路。嘉定區(qū)本地電阻芯片現(xiàn)價(jià)
大規(guī)模集成電路(LSI英文全名為Large Scale Integration)邏輯門101~1k個(gè)或 晶體管1,001~10k個(gè)。金山區(qū)質(zhì)量電阻芯片性價(jià)比
五、按用途分類:集成電路按用途可分為電視機(jī)用集成電路、音響用集成電路、影碟機(jī)用集成電路、錄像機(jī)用集成電路、電腦(微機(jī))用集成電路、電子琴用集成電路、通信用集成電路、照相機(jī)用集成電路、遙控集成電路、語言集成電路、報(bào)警器用集成電路及各種**集成電路。集成電路(IC)芯片在封裝工序之后,必須要經(jīng)過嚴(yán)格地檢測才能保證產(chǎn)品的質(zhì)量,芯片外觀檢測是一項(xiàng)必不可少的重要環(huán)節(jié),它直接影響到 IC 產(chǎn)品的質(zhì)量及后續(xù)生產(chǎn)環(huán)節(jié)的順利進(jìn)行。金山區(qū)質(zhì)量電阻芯片性價(jià)比
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