DDR測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試

USB4.0的接收容限測(cè)試

對(duì)于USB4.0的接收端來說，主要進(jìn)行的是接收容限測(cè)試，用于驗(yàn)證接收端在壓力信號(hào)(StressedElectricalSignal)下的表現(xiàn)。具體的測(cè)試項(xiàng)目包括壓力信號(hào)的誤碼率測(cè)試(BER)、突發(fā)誤碼率測(cè)試(MultiError-Burst)、頻率偏差(FrequencyVariations)、回波損耗(ReturnLoss)等。

誤碼率的測(cè)試要在壓力信號(hào)下進(jìn)行，因此需要先用高速誤碼儀的碼型發(fā)生器產(chǎn)生帶預(yù)加重、正弦抖動(dòng)(PJ)、隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)、擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC)、共模噪聲(ACCM)的信號(hào)，并用高帶寬示波器進(jìn)行壓力信號(hào)校準(zhǔn)。校準(zhǔn)完成后再把壓力信號(hào)注入被測(cè)件，在不同的正弦抖動(dòng)幅度和頻率下進(jìn)行誤碼率測(cè)試。在USB4.0的接收容限測(cè)試中，需要做兩種場(chǎng)景的測(cè)試：Casel的測(cè)試中沒有插入U(xiǎn)SB電纜，模擬鏈路損耗小的情況；Case2的測(cè)試中要插入2m 克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室USB標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方案；DDR測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試

USB4.0 的 規(guī)范 是 2021 年 5 月份發(fā) 布 的 ”USB4 Specification Version 1.0 with Errata and ECN through Oct. 15, 2020”；測(cè) 試 規(guī) 范 是 2021 年 7 月 份 發(fā) 布的 ”USB4 Electrical Compliance Test Specification V1.02”。

因?yàn)?USB4.0 需要支持有源電纜和無源電纜兩種應(yīng)用場(chǎng)景，  針對(duì) 的測(cè)試點(diǎn)分別是 TP2 和TP3，  即通俗講的近端測(cè)試和遠(yuǎn)端測(cè)試。 在進(jìn)行遠(yuǎn)端測(cè)試時(shí)，需要考慮無源電纜的影響。因?yàn)橐桓鶎?shí)體的 無源電纜很難完整的表征所有惡劣的場(chǎng)景，  包括插入損耗、回 波損耗、串?dāng)_等，為了保證測(cè)試的一致性和可重復(fù)性，發(fā)動(dòng)端測(cè) 試都是用軟件的算法，  利用示波器嵌入 S 參數(shù) / 傳遞函數(shù)的方式， 實(shí)現(xiàn)參考鏈路的模擬。同時(shí)，  為了保證測(cè)試精度，  USB4.0 要求示 波器在進(jìn)行信號(hào)捕獲前，需要通過去嵌 (De-embedded) 的方式去除 測(cè)試電纜的影響。 DDR測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試USB3.0一致性測(cè)試環(huán)境；

USB測(cè)試

基本介紹隨著USB技術(shù)在消費(fèi)電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用，USB性能規(guī)范和符合性測(cè)試變得越來越重要。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認(rèn)證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品，例如電腦、手機(jī)、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進(jìn)行USB測(cè)試。北測(cè)是獲得認(rèn)可的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認(rèn)證，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志。測(cè)試服務(wù)USB測(cè)試服務(wù)包括：高速、全速、低速USB設(shè)備測(cè)試·外部裝置·主機(jī)內(nèi)插卡·集線器·系統(tǒng)·集成電路·電線組件·連接器·USBOTG

USB2.0技術(shù)已被的市場(chǎng)接受，它將資料處理速率提升了40倍。資料處理量的增加為許多新型產(chǎn)品打開新天地，包括全動(dòng)態(tài)視訊至輔助性的、只有錢包大小的硬盤機(jī)。但是，隨著資料速率的急速升高，也出現(xiàn)了新的測(cè)試和量測(cè)方面的挑戰(zhàn)。

資料速率增加40倍后雖然帶來了許多好處，但也給USB2.0兼容性裝置供應(yīng)商帶來了各種新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。特別是在訊號(hào)品質(zhì)問題方面，如電路板的布局、抖動(dòng)、上升和下降時(shí)間、電磁場(chǎng)干擾、噪聲，和接地噪聲等，都已成為需待解決的設(shè)計(jì)問題。保持訊號(hào)質(zhì)量是保證USB2.0裝置合乎規(guī)格，并獲得USB2.0「認(rèn)證」標(biāo)志的關(guān)鍵之一。訊號(hào)質(zhì)量測(cè)試包括:?眼圖測(cè)試?信號(hào)速率?數(shù)據(jù)包結(jié)束寬度?交叉電壓范圍（適用于低速和全速）?JK抖動(dòng)?KJ抖動(dòng)?連續(xù)抖動(dòng)?單調(diào)測(cè)試（適用于高速）?漲落時(shí)間 USB4.0一致性測(cè)試環(huán)境；示波器、測(cè)試軟件、夾具；

USB接口測(cè)試USB3.0測(cè)試USB-IF標(biāo)準(zhǔn)隨著USB技術(shù)在消費(fèi)電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用，USB性能規(guī)范和符合性測(cè)試變得越來越重要。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認(rèn)證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品，例如電腦、手機(jī)、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進(jìn)行USB測(cè)試。是獲得認(rèn)可的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認(rèn)證，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志。為滿足行業(yè)發(fā)展的需要，提供的USB測(cè)試服務(wù)，包括USB一致性測(cè)試、USB性能測(cè)試以及USB產(chǎn)品調(diào)試實(shí)驗(yàn)室租賃服務(wù)。

測(cè)試服務(wù)USB測(cè)試服務(wù)包括：高速、全速、低速USB設(shè)備測(cè)試外部裝置主機(jī)內(nèi)插卡集線器系統(tǒng)集成電路電線組件連接器USBOTG USB2.0一致性測(cè)試環(huán)境；數(shù)字信號(hào)USB測(cè)試熱線

USB3.0的總線架構(gòu)展示？DDR測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試

每一代USB新的標(biāo)準(zhǔn)推出，都考慮到了對(duì)前一代的兼容能力，但是一些新的特性可能只能在新的技術(shù)下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更強(qiáng)的供電能力及對(duì)多協(xié)議的支持等，都只能在新型的Type-C連接器上實(shí)現(xiàn)。由于USB總線的信號(hào)速率已經(jīng)很高，且鏈路損耗和鏈路組合的情況非常復(fù)雜，所以給設(shè)計(jì)和測(cè)試驗(yàn)證工作帶來了挑戰(zhàn)，對(duì)于測(cè)試儀器的功能和性能要求也與傳統(tǒng)的USB2.0差別很大。下面將詳細(xì)介紹其相關(guān)的電氣性能測(cè)試方法。由于涉及的標(biāo)準(zhǔn)眾多，為了避免混淆，我們將把USB3.0、USB3.1、USB3.2標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)稱為USB3.x,并與USB4.0標(biāo)準(zhǔn)分開介紹。DDR測(cè)試USB測(cè)試USB測(cè)試