現(xiàn)代解決方案技巧

測(cè)量方法平面度誤差測(cè)量的常用方法有如下幾種：1、平晶干涉法：用光學(xué)平晶的工作面體現(xiàn)理想平面，直接以干涉條紋的彎曲程度確定被測(cè)表面的平面度誤差值。主要用于測(cè)量小平面，如量規(guī)的工作面和千分尺測(cè)頭測(cè)量面的平面度誤差。平面是由直線組成的，因此直線度測(cè)量中直尺法、光學(xué)準(zhǔn)直法、光學(xué)自準(zhǔn)直法、重力法等也適用于測(cè)量平面度誤差。測(cè)量平面度時(shí)，先測(cè)出若干截面的直線度，再把各測(cè)點(diǎn)的量值按平面度公差帶定義(見(jiàn)形位公差)利用圖解法或計(jì)算法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理即可得出平面度誤差。也有利用光波干涉法和平板涂色法測(cè)量平面誤差的。如果有很好的分析問(wèn)題，對(duì)成功案例進(jìn)行客觀分析，本身也是產(chǎn)生更好解決方案的基礎(chǔ)?，F(xiàn)代解決方案技巧

3、液平面法：液平面法是用液平面作為測(cè)量基準(zhǔn)面，液平面由“連通罐”內(nèi)的液面構(gòu)成，然后用傳感器進(jìn)行測(cè)量。此法主要用于測(cè)量大平面的平面度誤差。4、光束平面法：光束平面法是采用準(zhǔn)值望遠(yuǎn)鏡和瞄準(zhǔn)靶鏡進(jìn)行測(cè)量，選擇實(shí)際表面上相距較遠(yuǎn)的三個(gè)點(diǎn)形成的光束平面作為平面度誤差的測(cè)量基準(zhǔn)面。5、激光平面度測(cè)量?jī)x：激光平面度測(cè)量?jī)x用于測(cè)量大型平面的平面度誤差。6、利用數(shù)據(jù)采集儀連接百分表測(cè)量平面度誤差的方法。測(cè)量?jī)x器：偏擺儀、百分表、數(shù)據(jù)采集儀。測(cè)量原理：數(shù)據(jù)采集儀可從百分表中實(shí)時(shí)讀取數(shù)據(jù)，并進(jìn)行平面度誤差的計(jì)算與分析，平面度誤差計(jì)算工式已嵌入我們的數(shù)據(jù)采集儀軟件中，完全不需要人工去計(jì)算繁瑣的數(shù)據(jù)，可以dada提高測(cè)量的準(zhǔn)確率。安徽加工解決方案市場(chǎng)拓展系統(tǒng)的其他因素。

測(cè)量方法和評(píng)定方法不同，數(shù)據(jù)處理的方法也不相同。選定某一測(cè)量方法和評(píng)定方法，可能直接得到實(shí)際表面的平面度誤差值，如采用打表法進(jìn)行測(cè)量，再用對(duì)角線法評(píng)定其平面度誤差，則可不必進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，可直接得到測(cè)量結(jié)果；采用水平儀進(jìn)行測(cè)量，則不論采用何種評(píng)定方法，均需進(jìn)行數(shù)據(jù)處理；而對(duì)于任何一種測(cè)量方法，如果按較小區(qū)域法來(lái)評(píng)定其平面度誤差，都必須進(jìn)行數(shù)據(jù)處理才能得到平面度誤差值。另外，還應(yīng)注意到，測(cè)量基準(zhǔn)面和評(píng)定基準(zhǔn)面一般是不重合的（或說(shuō)不平行的）。

光電傳感器一般由處理通路和處理元件2 部分組成。其基本原理是以光電效應(yīng)為基礎(chǔ)，把被測(cè)量的變化轉(zhuǎn)換成光信號(hào)的變化，然后借助光電元件進(jìn)一步將非電信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。光電效應(yīng)是指用光照射某一物體，可以看作是一連串帶有一定能量為的光子轟擊在這個(gè)物體上，此時(shí)光子能量就傳遞給電子，并且是一個(gè)光子的全部能量一次性地被一個(gè)電子所吸收，電子得到光子傳遞的能量后其狀態(tài)就會(huì)發(fā)生變化，從而使受光照射的物體產(chǎn)生相應(yīng)的電效應(yīng)。通常把光電效應(yīng)分為3 類：（1 ）在光線作用下能使電子逸出物體表面的現(xiàn)象稱為外光電效應(yīng)，如光電管、光電倍增管等；（2 ）在光線作用下能使物體的電阻率改變的現(xiàn)象稱為內(nèi)光電效應(yīng)，如光敏電阻、光敏晶體管等；（3 ）在光線作用下，物體產(chǎn)生一定方向電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象稱為光生伏te xiao應(yīng)，如光電池等。行業(yè)信息化的發(fā)展過(guò)程。

解決方案（Solution），就是針對(duì)某些已經(jīng)體現(xiàn)出的，或者可以預(yù)期的問(wèn)題、不足、缺陷、需求等等，所提出的一個(gè)解決整體問(wèn)題的方案（建議書(shū)、計(jì)劃表），同時(shí)能夠確保加以快速有效的執(zhí)行。通常指解決問(wèn)題的方法。解決方案必需有明確的對(duì)象，或者施行的范圍和領(lǐng)域。（這些要素可能包括但不限于：不同的行業(yè)，領(lǐng)域，階層，類別等等）在某些領(lǐng)域，解決方案不止是針對(duì)問(wèn)題本身，也必須考量到需要服務(wù)的對(duì)象，例如面向的客戶的具體情況和需求。能夠親自參與到具體執(zhí)行中的解決方案，是更容易被客戶認(rèn)可和青睞的。優(yōu)勢(shì)解決方案型號(hào)

從傳統(tǒng)的觀點(diǎn)來(lái)說(shuō)，解決方案只包含方案的生成階段，具體的執(zhí)行階段是另外劃分的。現(xiàn)代解決方案技巧

(1)鍵入坐標(biāo)值方式雙擊邊界點(diǎn)“1”，輸入起始點(diǎn)坐標(biāo)值X、Y、Z；雙擊邊界方向點(diǎn)“D”，輸入掃描方向點(diǎn)坐標(biāo)值；雙擊邊界點(diǎn)“2”，輸入確定較早方向的掃描寬度；雙擊邊界點(diǎn)“3”，輸入確定第二方向的掃描寬度；點(diǎn)擊“3”，然后按“添加”按鈕，對(duì)話框給出第四個(gè)邊界點(diǎn)；雙擊邊界點(diǎn)“4”，輸入終止點(diǎn)坐標(biāo)值；選擇掃描所需的步長(zhǎng)(各點(diǎn)間的步距)和比較大步長(zhǎng)(1、2兩點(diǎn)間的步長(zhǎng))值后，點(diǎn)擊“創(chuàng)建”。(2)觸測(cè)方式選定“面片掃描”方式，用坐標(biāo)測(cè)量機(jī)草作盤(pán)在所需起始點(diǎn)位置觸測(cè)較早點(diǎn)，該點(diǎn)坐標(biāo)值將顯示在“邊界點(diǎn)”對(duì)話框的“#1”項(xiàng)內(nèi)；然后觸測(cè)第二點(diǎn)，該點(diǎn)帶表掃描較早方向的終止點(diǎn)，其坐標(biāo)值將顯示在對(duì)話框的“D”項(xiàng)內(nèi)；然后觸測(cè)第三點(diǎn)，該點(diǎn)帶表掃描面片寬度，其坐標(biāo)值將顯示在對(duì)話框的“#3”項(xiàng)內(nèi)；點(diǎn)擊“3”，選擇“添加”，可在清單上添加第四點(diǎn)；觸測(cè)終止點(diǎn)，將關(guān)閉對(duì)話框。結(jié)尾定義掃描行距和步長(zhǎng)兩個(gè)方向數(shù)據(jù)；選擇掃描觸測(cè)類型及所需選項(xiàng)后，點(diǎn)擊“創(chuàng)建”?，F(xiàn)代解決方案技巧

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