奧林巴斯手持式光譜儀聯(lián)系方式

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2021-11-22

1.奧林巴斯手持光譜儀用于DELTA手持式XRF分析儀的FlexStand是一款重量極輕,并帶有屏蔽性樣品艙的便攜式檢測(cè)臺(tái),可用于臺(tái)式檢測(cè)和野外檢測(cè)。FlexStand有不同的配置,可以與水平放置或垂直放置的DELTA手持式XRF分析儀配套使用。這個(gè)新推出的性?xún)r(jià)比高的配件為少量樣本、標(biāo)準(zhǔn)尺寸的樣件杯以及袋裝樣本的檢測(cè)提供了無(wú)需用手即可完成的簡(jiǎn)便檢測(cè)方法。在水平配置中,用戶(hù)可以直接訪(fǎng)問(wèn)DELTA的觸摸屏用戶(hù)界面,因此無(wú)需使用PC機(jī)。檢測(cè)艙中的樣本由可調(diào)節(jié)平臺(tái)定位,艙中的樣本由艙內(nèi)的凹槽和/或帶有三個(gè)位置的楔塊固定。尼通手持光譜儀價(jià)格咨詢(xún)!奧林巴斯手持式光譜儀聯(lián)系方式

用于保證產(chǎn)品符合消費(fèi)者安全和RoHS指令的DELTA手持式XRF分析儀可隨時(shí)隨地對(duì)大量的消費(fèi)和電子產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)鉛、鎘、汞、溴及其它元素進(jìn)行簡(jiǎn)單、快速、符合規(guī)范的無(wú)損篩檢。用于A(yíng)STM的方法F2617-08、HR4040、CPSC、CPSIA等等對(duì)于產(chǎn)品的安全問(wèn)題,這里沒(méi)有讓步的余地。DELTA手持式XRF分析儀是進(jìn)行以獲得一般性合格證書(shū)(GCC)為目的的任何合理的檢測(cè)程序的關(guān)鍵性設(shè)備,用于消費(fèi)安全的DELTA手持式XRF光譜儀可對(duì)產(chǎn)品和部件進(jìn)行快速篩查,以對(duì)產(chǎn)品符合CPSIA、RoHS、WEEE、EN71-3及其它法規(guī)的情況進(jìn)行監(jiān)管。分析儀可以迅速給出精確的監(jiān)管結(jié)果,以使工作人員根據(jù)具體情況采取措施。現(xiàn)在,包括鎳(Ni)元素在內(nèi)的新元素正被考慮添加到現(xiàn)存的監(jiān)管法規(guī)中。DELTA分析儀可以測(cè)量出這些元素以及更多新元素的含量。Olympus會(huì)密切關(guān)注全球監(jiān)管法規(guī)的發(fā)展情況,以確保我們的分析儀及所利用的技術(shù)與監(jiān)管要求同步發(fā)展。布魯克手持式光譜儀檢測(cè)尼通手持光譜儀合金分析儀。

1.    奧林巴斯手持光譜儀基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子,發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)輻射效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線(xiàn)熒光,其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此,射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知,只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng),就可以知道元素的種類(lèi),這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線(xiàn)探測(cè)器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。

1.Vanta手持式XRF光譜儀可根據(jù)材料測(cè)量0.00至約60.00微米的涂層鍍層厚度。X射線(xiàn)從手持式XRF光譜儀發(fā)出,它們撞擊樣品,使其發(fā)出熒光。用于材料成份辨別(PMI)的Vanta-手持金屬鍍層光譜儀如用于材料成份辨別(PMI)的Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀,可為用戶(hù)提供為精細(xì)的材料化學(xué)成份信息,從而可快速精確地辨別金屬的牌號(hào),以確保用戶(hù)在關(guān)鍵的位置上安裝牌號(hào)正確的合金部件。接收返回的的X射線(xiàn)并使用數(shù)據(jù)計(jì)算涂層鍍層或涂層鍍層的厚度。尼通手持式合金分析儀怎么樣?

1.    桓球儀器推薦的Vanta手持式ROHS光譜儀在篩查諸如玩具、服裝和鞋類(lèi)以及電子設(shè)備等消費(fèi)產(chǎn)品,以發(fā)現(xiàn)其中的鉛(Pb)、鎘(Cd)、砷(As)、汞(Hg)、鉻(Cr)及其它有毒金屬時(shí),可以進(jìn)行快速精確的元素分析,以判斷這些商品是否符合RoHS法規(guī)的要求。Vanta手持式RoHS分析儀]是完成合理檢測(cè)項(xiàng)目的理想工具。巴斯德儀器所推薦Vanta手持式分析儀的可選5百萬(wàn)像素全景攝像頭及Wi-Fi連通性能,可使用戶(hù)輕松完成樣件圖像和結(jié)果的歸檔工作。每臺(tái)Vanta手持式RoHS光譜儀都使用了奧林巴斯的較低噪聲Axon技術(shù),都具有高的靈敏度,從而可為受監(jiān)查的元素提供低的檢出限,并做出精確的通過(guò)/失敗判斷。奧林巴斯手持光譜儀華東地區(qū)總代理;奧林巴斯手持式光譜儀聯(lián)系方式

手持式光譜儀的原理?奧林巴斯手持式光譜儀聯(lián)系方式

1.    奧林巴斯光儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線(xiàn)與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子,發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱(chēng)次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)輻射效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱(chēng)為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線(xiàn)熒光,其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此,射線(xiàn)熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知,只要測(cè)出熒光X射線(xiàn)的波長(zhǎng),就可以知道元素的種類(lèi),這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線(xiàn)的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線(xiàn)探測(cè)器將樣品元素的X射線(xiàn)的特征譜線(xiàn)的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。奧林巴斯手持式光譜儀聯(lián)系方式

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