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1.Vanta手持式XRF光譜儀可根據(jù)材料測量0.00至約60.00微米的涂層鍍層厚度。X射線從手持式XRF光譜儀發(fā)出，它們撞擊樣品，使其發(fā)出熒光。用于材料成份辨別（PMI）的Vanta-手持金屬鍍層光譜儀如用于材料成份辨別（PMI）的Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀，可為用戶提供為精細(xì)的材料化學(xué)成份信息，從而可快速精確地辨別金屬的牌號，以確保用戶在關(guān)鍵的位置上安裝牌號正確的合金部件。接收返回的的X射線并使用數(shù)據(jù)計(jì)算涂層鍍層或涂層鍍層的厚度。尼通3t光譜儀售后 桓球儀器；
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手持式光譜儀的具體工作原理是什么？日立手持光譜儀維修價格
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