尼通光譜儀xl2

來源: 發(fā)布時間:2021-08-30

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1.    奧林巴斯光儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子,擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。因此,射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

1.Vanta手持式XRF光譜儀可根據(jù)材料測量0.00至約60.00微米的涂層鍍層厚度。X射線從手持式XRF光譜儀發(fā)出,它們撞擊樣品,使其發(fā)出熒光。用于材料成份辨別(PMI)的Vanta-手持金屬鍍層光譜儀如用于材料成份辨別(PMI)的Vanta手持(XRF)金屬鍍層光譜儀,可為用戶提供為精細的材料化學(xué)成份信息,從而可快速精確地辨別金屬的牌號,以確保用戶在關(guān)鍵的位置上安裝牌號正確的合金部件。接收返回的的X射線并使用數(shù)據(jù)計算涂層鍍層或涂層鍍層的厚度?;盖騼x器有多種進口品牌手持光譜儀 現(xiàn)貨 。

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