干涉儀輪廓儀現(xiàn)場服務

來源: 發(fā)布時間:2020-03-18

輪廓儀、粗糙度儀、三坐標的區(qū)別:

關于輪廓儀和粗糙度儀

  輪廓儀與粗糙度儀不是同一種產(chǎn)品,輪廓儀主要功能是測量零件表面的輪廓形狀,比如:汽車零件中的溝槽的槽深、槽寬、倒角(包括倒角位置、倒角尺寸、角度等),圓柱表面素線的直線度等參數(shù)??傊?,輪廓儀反映的是零件的宏觀輪廓。粗糙度儀的功能是測量零件表面的磨加工/精車加工工序的表面加工質(zhì)量,通俗地講,就是零件表面加工得光不光(粗糙度老國標叫光潔度),即粗糙度反映的是零件加工表面的微觀情況。

  但是,輪廓儀和粗糙度儀關系其實挺密切,現(xiàn)在有一種儀器叫做粗糙度輪廓測量一體機,就是在輪廓儀上加裝了粗糙度測量模塊,這樣既可以測量輪廓尺寸,又可以測量粗糙度,市場上典型產(chǎn)品就是中圖儀器的SJ5701粗糙度輪廓儀。

  在結構上,輪廓儀基本上都是臺式的,而粗糙度儀以手持式的居多,當然也有臺式的。 隔振系統(tǒng):集成氣浮隔振 + 大理石基石。干涉儀輪廓儀現(xiàn)場服務

輪廓儀、粗糙度儀、三坐標的區(qū)別

關于輪廓儀和粗糙度儀

  輪廓儀與粗糙度儀不是同一種產(chǎn)品,輪廓儀主要功能是測量零件表面的輪廓形狀,比如:汽車零件中的溝槽的槽深、槽寬、倒角(包括倒角位置、倒角尺寸、角度等),圓柱表面素線的直線度等參數(shù)??傊喞獌x反映的是零件的宏觀輪廓。粗糙度儀的功能是測量零件表面的磨加工/精車加工工序的表面加工質(zhì)量,通俗地講,就是零件表面加工得光不光(粗糙度老國標叫光潔度),即粗糙度反映的是零件加工表面的微觀情況。


關于三坐標測量輪廓度及粗糙度

  三坐標測量機是不能測量粗糙度的,至于測量零件的表面輪廓 ,要視三坐標的測量精度及零件表面輪廓度的要求了,如果你的三坐標測量機精度比較高,但零件輪廓度要求不可,是可以用三坐標來代替的。一般三坐標精度都在2-3um左右,而輪廓儀都在2um以內(nèi),還有就是三坐標可以測量大尺寸零件的輪廓,因為它有龍門式三坐標和關節(jié)臂三坐標,而輪廓儀主要是用來測量一些小的精密零件輪廓尺寸的,加上粗糙度模塊也可以測量粗糙度。 PSI輪廓儀國內(nèi)代理幾何特征(關鍵孔徑尺寸,曲率半徑,特征區(qū)域的面積和集體,特征圖形的位置和數(shù)量等)。

1.3. 培訓計劃

    在完成系統(tǒng)布線并開始設備安裝后,即向甲方和業(yè)主介紹整個系統(tǒng)的概況及性能、特點、設備布置情況和相互之間的關系等,讓甲方和業(yè)主對整個系統(tǒng)有一個***的認識。

    在整個系統(tǒng)驗收前后,安排有關人員在進行培訓。


1.4. 培訓形式

    公司指派技術人員向相關人員講解系統(tǒng)的原理、功能、操作及維修保養(yǎng)要點;

    向受訓學員提供和解釋有關設計文件及圖紙等資料,使學員對系統(tǒng)的各個方面都能熟練掌握;

    針對系統(tǒng)的具體操作一一指導,使相關人員掌握技術要領;

    對學員提出的問題進行詳細解答;




強大的輪廓儀光電一體軟件


美國硅谷研發(fā)、中英文自由切換


光機電一體化軟硬件集成


三維分析處理迅速,結果實時更新


縮放、定位、平移、旋轉(zhuǎn)等三維圖像處理


自主設定測量閾值,三維處理自動標注


測量模式可根據(jù)需求自由切換


三維圖像支持高清打印


菜單式參數(shù)設置,一鍵式操作,人機界面?zhèn)€性直觀


個性化軟件應用支持

可進行軟件在線升級和遠程支持服務


10 年硅谷世界500強研發(fā)經(jīng)驗(BD Medical

Instrument)

光學測量、軟件系統(tǒng)


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三維表面輪廓儀是精密加工領域必不可少的檢測設備,它既保障了生產(chǎn)加工的準確性,又提高了成品的出產(chǎn)效率。

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智能性:特殊形狀能夠只能計算特征參數(shù)  

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1.精度高,壽命長---采用超高精度氣浮導軌作為直線測量基準,具有穩(wěn)定性好、承載大、**磨損等優(yōu)點,達到國內(nèi)同類產(chǎn)品較高精度。  2.高精度光柵尺及進口采集卡---保證數(shù)據(jù)采樣分辨率,準確度高,穩(wěn)定性好。(網(wǎng)絡) 但是在共焦圖像中,通過多***盤的操作濾除模糊細節(jié)(未聚焦),只有來自聚焦平面的光到達CCD相機。輪廓測量輪廓儀特點

輪廓儀在晶圓的IC封裝中的應用。干涉儀輪廓儀現(xiàn)場服務

輪廓儀產(chǎn)品概述:  

NanoX-2000/3000

系列 3D 光學干涉輪廓儀建立在移相干涉測量(PSI)、白光垂直掃描干涉測量(VSI)和單色光

垂直掃描干涉測量(CSI)等技術的基礎上,以其納米級測量準確度和重復性(穩(wěn)定性)定量地反映出被測件的表面粗

糙度、表面輪廓、臺階高度、關鍵部位的尺寸及其形貌特征等。廣泛應用于集成電路制造、MEMS、航空航天、精密加

工、表面工程技術、材料、太陽能電池技術等領域。


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